[發明專利]磁盤生命周期分析方法及裝置

有效

• 申請號: 201810696875.8
• 申請日: 2018-06-29
• 公開（公告）號: CN108959028B
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: 馬智昊;張平
• 申請（專利權）人: 北京奇虎科技有限公司
• 主分類號: G06F11/30
• 分類號: G06F11/30
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種磁盤生命周期分析方法，包括：

獲取目標磁盤的監控指標信息；

根據所述監控指標信息，生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線；

根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，分析目標磁盤的失效時間；

所述監控指標信息包括與目標磁盤的磁盤性能相關的指標信息。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，分析目標磁盤的失效時間進一步包括：

根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，生成目標磁盤的預測磁盤磨損率變化曲線；將預測磁盤磨損率變化曲線中磁盤磨損率達到預設磨損率閾值時所對應的時間確定為目標磁盤的失效時間。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，所述方法還包括：

根據目標磁盤的業務量和/或工作溫度修正目標磁盤的失效時間。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，分析目標磁盤的失效時間進一步包括：

根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，通過機器學習的方法分析目標磁盤的失效時間。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，在所述生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線之后，所述方法還包括：

根據目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線的波動程度，發送警報信息。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，所述根據目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線的波動程度，發送警報信息進一步包括：

當目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線的波動程度大于預設波動閾值時，發送警報信息。

7.根據權利要求1所述的方法，其中，在所述生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線之后，所述方法還包括：

根據目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，分析引起目標磁盤的磁盤磨損率變化的原因。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，所述根據目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，分析引起目標磁盤的磁盤磨損率變化的原因進一步包括：

根據目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，分析業務量和/或工作溫度對磁盤磨損率的影響。

9.根據權利要求1所述的方法，其中，在所述獲取目標磁盤的監控指標信息之前，所述方法還包括：

根據目標磁盤型號和/或目標磁盤控制器信息確定監控指標。

10.根據權利要求1所述的方法，其中，所述獲取目標磁盤的監控指標信息進一步包括：

獲取周期性上報的目標磁盤的監控指標信息。

11.根據權利要求1所述的方法，其中，所述監控指標信息具體為：S.M.A.R.T指標信息。

12.一種磁盤生命周期分析裝置，包括：

獲取模塊，適于獲取目標磁盤的監控指標信息；

生成模塊，適于根據所述監控指標信息，生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線；

分析模塊，適于根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，分析目標磁盤的失效時間；

所述監控指標信息包括與目標磁盤的磁盤性能相關的指標信息。

13.根據權利要求12所述的裝置，其中，所述分析模塊進一步適于：

根據所述目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線，以及歷史的磁盤生命周期數據，生成目標磁盤的預測磁盤磨損率變化曲線；

將預測磁盤磨損率變化曲線中磁盤磨損率達到預設磨損率閾值時所對應的時間確定為目標磁盤的失效時間。