[發(fā)明專利]電力設(shè)備變形監(jiān)測(cè)方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810694906.6
• 申請(qǐng)日: 2018-06-29
• 公開（公告）號(hào): CN109059791B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 許瑋;梁濤;高長(zhǎng)春;韓磊;慕世友;傅孟潮;張斌;傅崇光;孫志周;孟健
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 國網(wǎng)智能科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/16
• 分類號(hào): G01B11/16;G01B11/26;G01B11/28;G01C5/00;G01C9/00;G01N9/00
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 薛嬌;王寶筠

本申請(qǐng)實(shí)施例公開了一種電力設(shè)備變形監(jiān)測(cè)方法及裝置，對(duì)電力設(shè)備的點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行拼接、分割、去噪處理，得到包含單個(gè)電力設(shè)備的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，將單個(gè)電力設(shè)備的點(diǎn)云數(shù)據(jù)與點(diǎn)云數(shù)據(jù)模版進(jìn)行匹配，得到單個(gè)電力設(shè)備的點(diǎn)云數(shù)據(jù)所表征的電力設(shè)備的屬性信息，根據(jù)該屬性信息確定歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)，根據(jù)該歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)對(duì)電力設(shè)備進(jìn)行變形分析。實(shí)現(xiàn)了電力設(shè)備的自動(dòng)化巡檢，提高了電力設(shè)備的巡檢效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及電力設(shè)備運(yùn)檢技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種電力設(shè)備變形監(jiān)測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)

為了保證電力設(shè)備(如，發(fā)電設(shè)備，輸電設(shè)備，變電設(shè)備或配電設(shè)備等)正常運(yùn)行，需要對(duì)電力設(shè)備進(jìn)行定時(shí)或不定時(shí)的巡檢，以對(duì)電力設(shè)備是否發(fā)生變形進(jìn)行監(jiān)測(cè)。而目前電力設(shè)備的巡檢仍然是以人工為主，不但巡檢效率慢，還耗費(fèi)了大量的人力、物力。因此，如何提高巡檢效率成為亟待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)的目的是提供一種電力設(shè)備變形監(jiān)測(cè)方法及裝置，以提高電力設(shè)備的巡檢效率。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請(qǐng)?zhí)峁┝巳缦录夹g(shù)方案：

一種電力設(shè)備變形監(jiān)測(cè)方法，包括：

采集電力設(shè)備的點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

對(duì)所述點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行拼接處理，得到拼接后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

對(duì)所述拼接后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行空間分割，以得到若干長(zhǎng)方體空間，其中，每個(gè)長(zhǎng)方體空間中包括一個(gè)電力設(shè)備的點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

對(duì)所述長(zhǎng)方體空間中的點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行去噪處理；

將所述長(zhǎng)方體空間內(nèi)去噪后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)與點(diǎn)云數(shù)據(jù)模型庫中的各個(gè)點(diǎn)云數(shù)據(jù)模型進(jìn)行匹配，以確定所述長(zhǎng)方體空間內(nèi)去噪后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)所表征的第一電力設(shè)備的第一屬性信息；

將所述長(zhǎng)方體空間內(nèi)的去噪后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)與所述第一屬性信息相關(guān)聯(lián)的保存；

獲取關(guān)聯(lián)有所述第一屬性信息的歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)

根據(jù)所述歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)對(duì)所述第一電力設(shè)備進(jìn)行變形分析。

上述方法，優(yōu)選的，所述歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)包括：在預(yù)設(shè)歷史時(shí)刻保存的關(guān)聯(lián)了所述第一屬性信息的點(diǎn)云數(shù)據(jù)。

上述方法，優(yōu)選的，所述根據(jù)所述歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)對(duì)所述第一電力設(shè)備進(jìn)行變形分析，包括：

在所述長(zhǎng)方體空間內(nèi)的去噪后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)中提取所述第一電力設(shè)備的第一頂部平面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)和第一立面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，并在所述歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)中提取所述第一電力設(shè)備的第二頂部平面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)和第二立面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述第一頂部平面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)和所述第二頂部平面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，計(jì)算所述第一頂部平面與所述歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)中電力設(shè)備的點(diǎn)云數(shù)據(jù)的質(zhì)心的第一高程差，以及所述第二頂部平面與所述質(zhì)心的第二高程差；

若所述第一高程差與所述第二高程差的差值的絕對(duì)值大于第一差值閾值，確定所述第一電力設(shè)備發(fā)生垂直位移；

根據(jù)所述第一立面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)和所述第二立面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，計(jì)算所述第一立面與所述質(zhì)心的第一水平差，以及所述第二立面與所述質(zhì)心的第二水平差；

若所述第一水平差與所述第二水平差的差值的絕對(duì)值大于第二差值閾值，確定所述第一電力設(shè)備發(fā)生水平位移。

上述方法，優(yōu)選的，所述根據(jù)所述歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)對(duì)所述第一電力設(shè)備進(jìn)行變形分析，包括：

在所述長(zhǎng)方體空間內(nèi)的去噪后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)中提取所述第一電力設(shè)備的第一立面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，并在所述歷史點(diǎn)云數(shù)據(jù)中提取所述第一電力設(shè)備的第二立面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述第一立面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)和所述第二立面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，計(jì)算所述第一立面與所述第二立面的夾角角度；