[發明專利]一種用于探針接觸類測試設備的測試裝置

在審

• 申請號: 201810689675.X
• 申請日: 2018-06-28
• 公開（公告）號: CN108872917A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發明（設計）人: 郭邐達;賴圣明;李新連;楊立紅
• 申請（專利權）人: 北京鉑陽頂榮光伏科技有限公司
• 主分類號: G01R35/02
• 分類號: G01R35/02
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 王剛

1.一種用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括測試電路板(1)和絕緣層(12)；

所述測試電路板(1)包括多個測試點(11)，多個所述測試點(11)用于測試被測探針組(7)的接觸性以及測試準確性；

所述絕緣層(12)設置于所述測試電路板(1)的表面，所述絕緣層(12)設置有與每個所述測試點(11)位置對應的開孔以裸露每個所述測試點(11)。

2.根據權利要求1所述的用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，所述測試電路板(1)包括至少一個測試電路，每個所述測試電路包括平行設置的第一電路(23)和第二電路(24)，所述第一電路(23)、所述第二電路(24)分別設置有多個與所述測試點(11)對應的連接點(21)，所述第一電路(23)、所述第二電路(24)上相鄰的兩個所述連接點(21)用于實現相鄰兩個探針的阻值準確性測試；所述第一電路(23)、所述第二電路(24)上位置對應的兩個所述連接點(21)連接，用于實現探針對的接觸性測試。

3.根據權利要求2所述的用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，位于所述第一電路(23)、所述第二電路(24)上位置對應的兩個所述連接點(21)通過導線連接。

4.根據權利要求3所述的用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，所述第一電路(23)、所述第二電路(24)上相鄰的兩個所述連接點(21)通過導線連接。

5.根據權利要求3所述的用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，所述第一電路(23)、所述第二電路(24)上相鄰的兩個所述連接點(21)之間分別連接有單個標準電阻(22)。

6.根據權利要求5所述的用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，一個所述測試電路上的多個所述標準電阻(22)集成在一個標準電阻條上，所述標準電阻條通過定位扣固定在所述測試電路板上。

7.根據權利要求1所述的用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，所述開孔大于被測探針組(7)的探針頭。

8.根據權利要求1所述的用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括固定機構(3)以及移動機構(4)，所述固定機構(3)用于固定所述測試電路板(1)，所述固定機構(3)與所述移動機構(4)連接；所述移動機構(4)用于設置在測試機臺(6)上且與所述測試機臺(6)的控制器連接，所述移動機構(4)用于接收所述控制器的指令實現所述測試電路板(1)的移動。

9.根據權利要求8所述的用于探針接觸類測試設備的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括旋轉機構(5)，所述旋轉機構(5)設置在所述固定機構(3)與所述移動機構(4)之間，用于在測試完成后將所述測試電路板(1)旋轉至被測探針組(7)的側面。