[發明專利]一種基板檢測支撐裝置及其檢測方法在審
| 申請號: | 201810675492.2 | 申請日: | 2018-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN108982362A | 公開(公告)日: | 2018-12-11 |
| 發明(設計)人: | 盛科;王正平;唐廣學;歷余超;李清;張玉松 | 申請(專利權)人: | 南京中電熊貓液晶顯示科技有限公司;南京中電熊貓平板顯示科技有限公司;南京華東電子信息科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/84 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 210033 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 支撐柱 光源組件 基板檢測 顯示基板 支撐裝置 基臺 凸透鏡 玻璃基板背面 設備測量 測量點 觀察點 濾光片 透射光 投射 檢測 移動 支撐 生產 | ||
本發明提供一種基板檢測支撐裝置,包括基臺、沿基臺上下移動且支撐顯示基板的多個支撐柱、位于每個支撐柱內的光源組件,其中,顯示基板放置在基臺上;所述光源組件由下至上依次包括LED燈、凸透鏡和濾光片。本發明通過在基臺的支撐柱凹槽內設置光源組件,使光束能夠投射到玻璃基板背面,產生透射光,并可以選擇支撐柱具有凹槽的位置作為觀察點或測量點,可有效提高設備測量和識別的精度,進而提高面板的品質和生產的效率。
技術領域
本發明涉及顯示裝置制造領域,特別涉及一種基板檢測支撐裝置。
背景技術
目前面板生產設備因對設備上基臺的平整度要求較高,基臺(stage)無法使用透光材質,現有基臺都是不透光材質,如圖1和圖2所示,基臺10上分布有若干可以伸縮的用于支撐玻璃基板30的支撐柱(pin)20,基臺10是不透光材質,這就造成設備在拾取面板的玻璃基板上的標識時經常會出現誤差,進而造成面板的良率不高。
發明內容
本發明的目的是提供一種基板檢測支撐裝置,解決現有設備中測量和識別精度不高的問題。
本發明提供一種基板檢測支撐裝置,包括基臺、沿基臺上下移動且支撐顯示基板的多個支撐柱、位于每個支撐柱內的光源組件,其中,顯示基板放置在基臺上;所述光源組件由下至上依次包括LED燈、凸透鏡和濾光片。
進一步,所述支撐柱包括收容光源組件的凹槽,所述凹槽位于支撐柱的端部。
進一步,所述支撐柱還包括位于凹槽底部的底壁以及位于凹槽周圍的側壁,LED燈固定在底壁上,側壁的上端支撐顯示基板。
進一步,凸透鏡和濾光片間隔一定的距離且均固定在側壁上。
進一步,所述基臺上設有多個收容槽,支撐柱固定對應收容槽內,支撐柱位于顯示基板的下方。
進一步,所述LED燈設置于凸透鏡的焦點處。
進一步,還包括位于所述基臺上方的CCD圖像識別裝置。
本發明提出一種基板檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:步驟S1:顯示基板放置在基臺上且由支撐柱支撐;步驟S2:啟動檢測按鈕,支撐柱內的LED燈發出的點光源經過位于支撐柱內的凸透鏡產生平行光,平行光投射到顯示基板的背面,產生透射光;步驟S3:CCD圖像識別裝置對顯示基板進行圖像抓取和檢測。在步驟S2的檢測過程中,選擇支撐柱的凹槽的位置作為觀察點或測量點。在步驟S2的檢測過程中,使用支撐柱內的濾光片,濾光片過濾掉對顯示基板制造過程中對顯示基板使用性能產生影響的波段。
本發明通過在基臺的支撐柱凹槽內設置光源組件,使光束能夠投射到玻璃基板背面,產生透射光,并可以選擇支撐柱具有凹槽的位置作為觀察點或測量點,可有效提高設備測量和識別的精度,進而提高面板的品質和生產的效率。
附圖說明
圖1為現有設備基臺上支撐柱的分布示意圖;
圖2為現有設備基臺剖面示意圖;
圖3為本發明面板生產設備剖面圖;
圖4為本發明生產設備光源組件局部放大圖。
具體實施方式
下面結合附圖和具體實施例,進一步闡明本發明,應理解這些實施例僅用于說明本發明而不用于限制本發明的范圍,在閱讀了本發明之后,本領域技術人員對本發明的各種等價形式的修改均落于本申請所附權利要求所限定的范圍。
如圖3和圖4所示,本發明提供一種基板檢測支撐裝置,其包括基臺(stage)40、設置基臺40上且可沿基臺40上下移動的多個支撐柱(pin)50、位于每個支撐柱50內的光源組件60、以及位于基臺40上方的CCD圖像識別裝置70。其中,顯示基板30為玻璃基板;CCD圖像識別裝置70用來精確的識別顯示基板30上的圖像或者標識。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南京中電熊貓液晶顯示科技有限公司;南京中電熊貓平板顯示科技有限公司;南京華東電子信息科技股份有限公司,未經南京中電熊貓液晶顯示科技有限公司;南京中電熊貓平板顯示科技有限公司;南京華東電子信息科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810675492.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:利用相機的光學檢測用承載減震基座
- 下一篇:一種太陽能電池組件EL測試儀





