[發明專利]一種基板檢測支撐裝置及其檢測方法

在審

• 申請號: 201810675492.2
• 申請日: 2018-06-27
• 公開（公告）號: CN108982362A
• 公開（公告）日: 2018-12-11
• 發明（設計）人: 盛科;王正平;唐廣學;歷余超;李清;張玉松
• 申請（專利權）人: 南京中電熊貓液晶顯示科技有限公司;南京中電熊貓平板顯示科技有限公司;南京華東電子信息科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/84
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基板檢測支撐裝置，其特征在于：包括基臺、沿基臺上下移動且支撐顯示基板的多個支撐柱、位于每個支撐柱內的光源組件，其中，顯示基板放置在基臺上；所述光源組件由下至上依次包括LED燈、凸透鏡和濾光片。

2.根據權利要求1所述的基板檢測支撐裝置，其特征在于：所述支撐柱包括收容光源組件的凹槽，所述凹槽位于支撐柱的端部。

3.根據權利要求2所述的基板檢測支撐裝置，其特征在于：所述支撐柱還包括位于凹槽底部的底壁以及位于凹槽周圍的側壁，LED燈固定在底壁上，側壁的上端支撐顯示基板。

4.根據權利要求3所述的基板檢測支撐裝置，其特征在于：凸透鏡和濾光片間隔一定的距離且均固定在側壁上。

5.根據權利要求1所述的基板檢測支撐裝置，其特征在于：所述基臺上設有多個收容槽，支撐柱固定對應收容槽內，支撐柱位于顯示基板的下方。

6.根據權利要求1所述的基板檢測支撐裝置，其特征在于：所述LED燈設置于凸透鏡的焦點處。

7.根據權利要求1所述的基板檢測支撐裝置，其特征在于：還包括位于所述基臺上方的CCD圖像識別裝置。

8.一種基板檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟S1：顯示基板放置在基臺上且由支撐柱支撐；

步驟S2：啟動檢測按鈕，支撐柱內的LED燈發出的點光源經過位于支撐柱內的凸透鏡產生平行光，平行光投射到顯示基板的背面，產生透射光；

步驟S3：CCD圖像識別裝置對顯示基板進行圖像抓取和檢測。

9.根據權利要求8所述的基板檢測方法，其特征在于：在步驟S2的檢測過程中，選擇支撐柱的凹槽的位置作為觀察點或測量點。

10.根據權利要求8所述的基板檢測方法，其特征在于：在步驟S2的檢測過程中，使用支撐柱內的濾光片，濾光片過濾掉對顯示基板制造過程中對顯示基板使用性能產生影響的波段。