[發(fā)明專利]光學(xué)檢測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810667121.X | 申請日: | 2018-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN109406542B | 公開(公告)日: | 2021-11-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔡振揚;陳維懋;謝洹圳;黃全偉 | 申請(專利權(quán))人: | 旺矽科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 王濤 |
| 地址: | 中國臺灣新*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 檢測 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供一種光學(xué)檢測系統(tǒng),包含第一光學(xué)檢測設(shè)備與第二光學(xué)檢測設(shè)備。第一光學(xué)檢測設(shè)備包含中空結(jié)構(gòu)、攝像裝置與環(huán)型光源。中空結(jié)構(gòu)具有第一端與第二端,第一端具有攝像透光區(qū)。中空結(jié)構(gòu)包含管體與腔體。腔體設(shè)置在管體的一側(cè),第一端位于腔體遠離管體的一側(cè),第二端位于管體遠離腔體的一側(cè)。攝像裝置位于第二端,攝像透光區(qū)的中心與攝像裝置的鏡頭中心定義中心軸線,腔體與管體沿中心軸線設(shè)置。環(huán)型光源圍繞中心軸線設(shè)置于腔體內(nèi),且位于第一端與第二端之間,并向攝像透光區(qū)射出第一光線。第二光學(xué)檢測設(shè)備對應(yīng)中心軸線,設(shè)置于待測物的上表面,能讓使用者從晶粒的正面及背面查看個別的晶粒是否出現(xiàn)損傷或缺陷,從而判斷個別的晶粒是否合格。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是關(guān)于一種光學(xué)檢測系統(tǒng),且特別是關(guān)于一種用于晶圓切割階段的光學(xué)檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在已知的技術(shù)中,在晶圓切割成晶粒后,晶粒會被粘貼于例如藍膜的透光膜上作為固定,繼而進行后續(xù)的相關(guān)檢測,并把其中不合格的晶粒抽出,以保障晶粒的出貨品質(zhì)。
由于晶粒的正面及背面均有可能在工藝中出現(xiàn)損傷或缺陷的狀況,因此,晶粒的正面及背面均需進行檢測。故此,如何以簡單及方便的程序有效地檢測晶粒的正面及背面,無疑為業(yè)界一個重要的課題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一在于提供一種光學(xué)檢測系統(tǒng),其能讓使用者可以從晶粒的正面及背面查看個別的晶粒是否出現(xiàn)損傷或缺陷,從而判斷個別的晶粒是否合格。
根據(jù)本發(fā)明的一實施方式,一種光學(xué)檢測系統(tǒng)用以檢測待測物,待測物的下表面粘貼于薄膜上。光學(xué)檢測系統(tǒng)包含第一光學(xué)檢測設(shè)備以及第二光學(xué)檢測設(shè)備。第一光學(xué)檢測設(shè)備用以設(shè)置于薄膜的下表面。第一光學(xué)檢測設(shè)備包含中空結(jié)構(gòu)、攝像裝置與環(huán)型光源。中空結(jié)構(gòu)具有相對的第一端以及第二端,第一端具有攝像透光區(qū)。中空結(jié)構(gòu)包含管體以及腔體。腔體設(shè)置在管體的一側(cè),第一端位于腔體遠離管體的一側(cè),第二端位于管體遠離腔體的一側(cè)。攝像裝置位于第二端,用以通過攝像透光區(qū)拍攝圖像,攝像透光區(qū)的中心與攝像裝置的鏡頭中心定義中心軸線,腔體與管體實質(zhì)上沿中心軸線設(shè)置。環(huán)型光源至少部分圍繞中心軸線設(shè)置于腔體內(nèi),且位于第一端與第二端之間,并配置以朝向攝像透光區(qū)射出至少一第一光線。第二光學(xué)檢測設(shè)備對應(yīng)中心軸線,用以設(shè)置于待測物的上表面。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的環(huán)型光源具有發(fā)光表面,發(fā)光表面至少部分圍繞中心軸線設(shè)置,且發(fā)光表面相對中心軸線傾斜一角度,角度的范圍為約50度至約75度之間,發(fā)光表面配置以射出第一光線。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的第一光學(xué)檢測設(shè)備更包含同軸光源。此同軸光源設(shè)置于中空結(jié)構(gòu)內(nèi),并配置以平行中心軸線朝向攝像透光區(qū)射出至少一第二光線,其中第二光線為紅色、綠色、藍色或白色。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的第一光學(xué)檢測設(shè)備更包含透光板體。此透光板體設(shè)置于第一端作為攝像透光區(qū),透光板體具有承載面,承載面配置以抵接待測物。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的透光板體為石英玻璃、藍寶石玻璃或其他透明材質(zhì)。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的承載面實質(zhì)上為平坦表面。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的腔體具有錐狀部以及支撐環(huán),支撐環(huán)連接于錐狀部與管體之間,環(huán)型光源設(shè)置于支撐環(huán)內(nèi),支撐環(huán)具有第一螺紋,錐狀部具有第二螺紋,第二螺紋耦合第一螺紋。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的錐狀部的外徑朝遠離管體的方向逐漸減小。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的中空結(jié)構(gòu)更包含凸出部。此凸出部位于錐狀部遠離管體的一側(cè),凸出部沿中心軸線延伸,攝像透光區(qū)位于凸出部遠離錐狀部的一側(cè)。
在本發(fā)明一個或多個實施方式中,上述的環(huán)型光源為多色環(huán)型光源,環(huán)型光源包含紅色、綠色、藍色或白色的發(fā)光二極管光源。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





