[發明專利]驗證固態硬盤掉電保護功能的測試方法

有效

• 申請號: 201810650913.6
• 申請日: 2018-06-22
• 公開（公告）號: CN109030989B
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 李創鋒;張威
• 申請（專利權）人: 深圳市金泰克半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 葛勤

本發明提供了一種驗證固態硬盤掉電保護功能的測試方法，包括獲取硬件信號驗證測試數據、獲取系統功能驗證測試數據和獲取可靠性驗證測試數據，并判斷相應測試數據是否滿足預設條件的步驟。本發明的有益效果在于：提供了一種通過多個驗證測試流程快速驗證固態硬盤掉電保護功能可靠性的方法，該方法具有流程簡單、低時間復雜度和易于實現的優點，尤其適合當前固態硬盤測試項目比較多的測試環境。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤其是指一種驗證固態硬盤掉電保護功能的測試方法。

背景技術

為了提高電子盤的讀寫性能，大部分固態硬盤控制器通過內部集成RAM或外部擴展RAM方式增加緩存，每次計算機系統內存的數據寫到固態硬盤時，都先寫到固態硬盤的緩存中，固態硬盤控制器再將緩存中的數據寫入到NAND Flash中。因此，在電源沒有任何保護措施的情況下，如果固態硬盤突然掉電(即外部供電在突發意外情況下發生浪涌或斷電)，將會造成緩存中的數據完全丟失，輕則丟失數據，重則導致系統崩潰。

為了防止這種情況發生，需要增加一種機制，稱之為掉電保護，用于預防固態硬盤緩存中的數據丟失。

掉電保護增加了兩部分功能，一部分是電壓檢測模塊，用于檢測外部電壓過低時，向固態硬盤控制器產生中斷；另一部分功能則是電源儲能模塊，用于在外部電壓過低時能夠給固態硬盤提供足夠長時間的續航能力。當電壓檢測模塊檢測到外部電壓過低時，將產生一個中斷給固態硬盤控制器，同時電源儲能模塊啟動供電，固態硬盤控制器接收到中斷之后將固態硬盤緩存中的數據保存至NAND Flash中。整個過程中，電源儲能模塊的持續續航能力足以保證固態硬盤控制器將緩存中的數據完全保存至NAND Flash中，從而實現掉電保護。

增加掉電保護功能，將大大增加固態硬盤的使用安全性，可以滿足對數據完整性要求較高的應用場合，如航空航天系統，國防軍用系統，電力系統，銀行證券系統等。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種流程簡單，可靠性高的驗證固態硬盤掉電保護功能的方法。

為了解決上述技術問題，本發明采用的技術方案為：一種驗證固態硬盤掉電保護功能的測試方法，包括獲取硬件信號驗證測試數據、獲取系統功能驗證測試數據和獲取可靠性驗證測試數據，并判斷相應測試數據是否滿足預設條件的步驟。

進一步的，所述硬件信號驗證測試包括獲取掉電保護IC上下電時序測試數據和獲取掉電保護時備電時序測試數據的步驟；所述系統功能驗證測試包括獲取電容充放電時間數據和獲取電容容量檢測數據的步驟。

進一步的，所述可靠性驗證測試包括獲取電容常溫壽命測試數據、獲取電容低溫壽命測試數據和獲取電容高溫壽命測試數據的步驟。

進一步的，在所述獲取掉電保護IC上下電時序測試數據的步驟中，包括抓取固態硬盤上電時的上電信號波形及抓取固態硬盤異常斷電時的斷電信號波形,并判斷所述信號波形是否符合預設條件的步驟。

進一步的，在所述獲取掉電保護時備電時序測試數據的步驟中，包括抓取固態硬盤在異常斷電時的時序波形,并判斷波形是否符合預設值的步驟。

進一步的，在所述獲取電容充放電時間數據的步驟中，包括測量電容從低電平到高電平所需的充電時間和從高電平到監測電壓點的放電時間,并判斷充電時間和放電時間是否符合預設值的步驟。

進一步的，在所述獲取電容充放電時間數據的步驟之后，還包括獲取模擬電容老化后備電時間測試數據，并判斷備電時間是否符合預設條件的步驟。

進一步的，在所述獲取電容容量檢測數據的步驟中，包括獲取電容容值檢測精度，并判斷精度是否符合預設條件的步驟。

進一步的，在所述獲取掉電保護IC上下電時序測試數據的步驟中，還包括驗證掉電保護電壓監測點是否能觸發掉電保護功能的步驟。