[發(fā)明專利]驗證固態(tài)硬盤掉電保護功能的測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810650913.6
• 申請日: 2018-06-22
• 公開（公告）號: CN109030989B
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李創(chuàng)鋒;張威
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市金泰克半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市精英專利事務(wù)所 44242
• 代理人: 葛勤

本發(fā)明提供了一種驗證固態(tài)硬盤掉電保護功能的測試方法，包括獲取硬件信號驗證測試數(shù)據(jù)、獲取系統(tǒng)功能驗證測試數(shù)據(jù)和獲取可靠性驗證測試數(shù)據(jù)，并判斷相應(yīng)測試數(shù)據(jù)是否滿足預(yù)設(shè)條件的步驟。本發(fā)明的有益效果在于：提供了一種通過多個驗證測試流程快速驗證固態(tài)硬盤掉電保護功能可靠性的方法，該方法具有流程簡單、低時間復(fù)雜度和易于實現(xiàn)的優(yōu)點，尤其適合當前固態(tài)硬盤測試項目比較多的測試環(huán)境。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計算機技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種驗證固態(tài)硬盤掉電保護功能的測試方法。

背景技術(shù)

為了提高電子盤的讀寫性能，大部分固態(tài)硬盤控制器通過內(nèi)部集成RAM或外部擴展RAM方式增加緩存，每次計算機系統(tǒng)內(nèi)存的數(shù)據(jù)寫到固態(tài)硬盤時，都先寫到固態(tài)硬盤的緩存中，固態(tài)硬盤控制器再將緩存中的數(shù)據(jù)寫入到NAND Flash中。因此，在電源沒有任何保護措施的情況下，如果固態(tài)硬盤突然掉電(即外部供電在突發(fā)意外情況下發(fā)生浪涌或斷電)，將會造成緩存中的數(shù)據(jù)完全丟失，輕則丟失數(shù)據(jù)，重則導(dǎo)致系統(tǒng)崩潰。

為了防止這種情況發(fā)生，需要增加一種機制，稱之為掉電保護，用于預(yù)防固態(tài)硬盤緩存中的數(shù)據(jù)丟失。

掉電保護增加了兩部分功能，一部分是電壓檢測模塊，用于檢測外部電壓過低時，向固態(tài)硬盤控制器產(chǎn)生中斷；另一部分功能則是電源儲能模塊，用于在外部電壓過低時能夠給固態(tài)硬盤提供足夠長時間的續(xù)航能力。當電壓檢測模塊檢測到外部電壓過低時，將產(chǎn)生一個中斷給固態(tài)硬盤控制器，同時電源儲能模塊啟動供電，固態(tài)硬盤控制器接收到中斷之后將固態(tài)硬盤緩存中的數(shù)據(jù)保存至NAND Flash中。整個過程中，電源儲能模塊的持續(xù)續(xù)航能力足以保證固態(tài)硬盤控制器將緩存中的數(shù)據(jù)完全保存至NAND Flash中，從而實現(xiàn)掉電保護。

增加掉電保護功能，將大大增加固態(tài)硬盤的使用安全性，可以滿足對數(shù)據(jù)完整性要求較高的應(yīng)用場合，如航空航天系統(tǒng)，國防軍用系統(tǒng)，電力系統(tǒng)，銀行證券系統(tǒng)等。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：提供一種流程簡單，可靠性高的驗證固態(tài)硬盤掉電保護功能的方法。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：一種驗證固態(tài)硬盤掉電保護功能的測試方法，包括獲取硬件信號驗證測試數(shù)據(jù)、獲取系統(tǒng)功能驗證測試數(shù)據(jù)和獲取可靠性驗證測試數(shù)據(jù)，并判斷相應(yīng)測試數(shù)據(jù)是否滿足預(yù)設(shè)條件的步驟。

進一步的，所述硬件信號驗證測試包括獲取掉電保護IC上下電時序測試數(shù)據(jù)和獲取掉電保護時備電時序測試數(shù)據(jù)的步驟；所述系統(tǒng)功能驗證測試包括獲取電容充放電時間數(shù)據(jù)和獲取電容容量檢測數(shù)據(jù)的步驟。

進一步的，所述可靠性驗證測試包括獲取電容常溫壽命測試數(shù)據(jù)、獲取電容低溫壽命測試數(shù)據(jù)和獲取電容高溫壽命測試數(shù)據(jù)的步驟。

進一步的，在所述獲取掉電保護IC上下電時序測試數(shù)據(jù)的步驟中，包括抓取固態(tài)硬盤上電時的上電信號波形及抓取固態(tài)硬盤異常斷電時的斷電信號波形,并判斷所述信號波形是否符合預(yù)設(shè)條件的步驟。

進一步的，在所述獲取掉電保護時備電時序測試數(shù)據(jù)的步驟中，包括抓取固態(tài)硬盤在異常斷電時的時序波形,并判斷波形是否符合預(yù)設(shè)值的步驟。

進一步的，在所述獲取電容充放電時間數(shù)據(jù)的步驟中，包括測量電容從低電平到高電平所需的充電時間和從高電平到監(jiān)測電壓點的放電時間,并判斷充電時間和放電時間是否符合預(yù)設(shè)值的步驟。

進一步的，在所述獲取電容充放電時間數(shù)據(jù)的步驟之后，還包括獲取模擬電容老化后備電時間測試數(shù)據(jù)，并判斷備電時間是否符合預(yù)設(shè)條件的步驟。

進一步的，在所述獲取電容容量檢測數(shù)據(jù)的步驟中，包括獲取電容容值檢測精度，并判斷精度是否符合預(yù)設(shè)條件的步驟。

進一步的，在所述獲取掉電保護IC上下電時序測試數(shù)據(jù)的步驟中，還包括驗證掉電保護電壓監(jiān)測點是否能觸發(fā)掉電保護功能的步驟。