[發(fā)明專利]驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810650913.6
• 申請(qǐng)日: 2018-06-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109030989B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-11-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李創(chuàng)鋒;張威
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市金泰克半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 深圳市精英專利事務(wù)所 44242
• 代理人: 葛勤

1.一種驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法，其特征在于:包括獲取硬件信號(hào)驗(yàn)證測(cè)試數(shù)據(jù)、獲取系統(tǒng)功能驗(yàn)證測(cè)試數(shù)據(jù)和獲取可靠性驗(yàn)證測(cè)試數(shù)據(jù)，并判斷相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)是否滿足預(yù)設(shè)條件的步驟，

所述硬件信號(hào)驗(yàn)證測(cè)試包括獲取掉電保護(hù)IC上下電時(shí)序測(cè)試數(shù)據(jù)和獲取掉電保護(hù)時(shí)備電時(shí)序測(cè)試數(shù)據(jù)并判斷相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)是否滿足預(yù)設(shè)條件的步驟；

所述系統(tǒng)功能驗(yàn)證測(cè)試包括獲取電容充放電時(shí)間數(shù)據(jù)和獲取電容容量檢測(cè)數(shù)據(jù)并判斷相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)是否滿足預(yù)設(shè)條件的步驟；

所述可靠性驗(yàn)證測(cè)試包括獲取電容常溫壽命測(cè)試數(shù)據(jù)、獲取電容低溫壽命測(cè)試數(shù)據(jù)和獲取電容高溫壽命測(cè)試數(shù)據(jù)，并判斷相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)是否滿足預(yù)設(shè)條件的步驟。

2.如權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法，其特征在于：在所述獲取掉電保護(hù)IC上下電時(shí)序測(cè)試數(shù)據(jù)的步驟中，包括抓取固態(tài)硬盤上電時(shí)的上電信號(hào)波形及抓取固態(tài)硬盤異常斷電時(shí)的斷電信號(hào)波形,并判斷所述信號(hào)波形是否符合預(yù)設(shè)條件的步驟。

3.如權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法，其特征在于：在所述獲取掉電保護(hù)時(shí)備電時(shí)序測(cè)試數(shù)據(jù)的步驟中，包括抓取固態(tài)硬盤在異常斷電時(shí)的時(shí)序波形,并判斷波形是否符合預(yù)設(shè)值的步驟。

4.如權(quán)利要求3所述的驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法，其特征在于：在所述獲取電容充放電時(shí)間數(shù)據(jù)的步驟中，包括測(cè)量電容從低電平到高電平所需的充電時(shí)間和從高電平到監(jiān)測(cè)電壓點(diǎn)的放電時(shí)間,并判斷充電時(shí)間和放電時(shí)間是否符合預(yù)設(shè)值的步驟。

5.如權(quán)利要求4所述的驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法，其特征在于：在所述獲取電容充放電時(shí)間數(shù)據(jù)的步驟之后，還包括獲取模擬電容老化后備電時(shí)間測(cè)試數(shù)據(jù)，并判斷備電時(shí)間是否符合預(yù)設(shè)條件的步驟。

6.如權(quán)利要求5所述的驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法，其特征在于：在所述獲取電容容量檢測(cè)數(shù)據(jù)的步驟中，包括獲取電容容值檢測(cè)精度，并判斷精度是否符合預(yù)設(shè)條件的步驟。

7.如權(quán)利要求6所述的驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法，其特征在于：在所述獲取掉電保護(hù)IC上下電時(shí)序測(cè)試數(shù)據(jù)的步驟中，還包括驗(yàn)證掉電保護(hù)電壓監(jiān)測(cè)點(diǎn)是否能觸發(fā)掉電保護(hù)功能的步驟。

8.如權(quán)利要求7所述的驗(yàn)證固態(tài)硬盤掉電保護(hù)功能的測(cè)試方法，其特征在于：在所述獲取電容容量檢測(cè)數(shù)據(jù)的步驟中，還包括驗(yàn)證電容檢測(cè)功能測(cè)試的步驟。