[發(fā)明專利]一種無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810638940.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108982554A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葉中飛;張洪濤;呂中賓;盧明;李清;楊曉輝;伍川;謝凱;張博 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)網(wǎng)河南省電力公司電力科學(xué)研究院;國(guó)網(wǎng)河南省電力公司;國(guó)家電網(wǎng)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04 |
| 代理公司: | 蘇州知途知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32299 | 代理人: | 張錦波 |
| 地址: | 450000 河*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 穿透的 吊裝 自動(dòng)識(shí)別檢測(cè) 密度分辨率 發(fā)射功率 射線能量 智能調(diào)節(jié) 成正比 穿透力 管電流 管電壓 射線源 檢出 金具 保證 | ||
本發(fā)明涉及一種無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,通過(guò)自動(dòng)識(shí)別檢測(cè)金具的材質(zhì)和尺寸,并智能調(diào)節(jié)X射線探測(cè)器的射線源的管電壓和管電流,從而調(diào)節(jié)發(fā)射功率。由于X射線探測(cè)器的穿透力和X射線的能量成正比,能量越高,穿透的厚度越大,能夠檢測(cè)的樣品的尺寸也越大;而X射線檢測(cè)的密度分辨率與X射線的能量成反比,即X射線的能量越高,能夠有效檢出的缺陷的臨界尺寸越大,因此通過(guò)合理的調(diào)節(jié)X射線的能量,獲得良好的檢測(cè)效果,在保證足以穿透的前提下,使用盡量低的射線能量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及架空輸電線路運(yùn)行檢修技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)裝置及其使用方法。
背景技術(shù)
輸電線路主要由桿塔、導(dǎo)線、地線、絕緣子和金具等組成。將桿塔、導(dǎo)線、地線和絕緣子連接起來(lái)所用的金屬零件,統(tǒng)稱為金具。輸電線路金具在大自然中長(zhǎng)期運(yùn)行,除需承受導(dǎo)線、地線和絕緣子等自身的載荷外,還需承受其覆冰和風(fēng)的載荷;同時(shí)作為導(dǎo)電體的金具還需要具備良好的電氣性能,金具的健康服役時(shí)輸電線路正常的工作的前提保證。因此準(zhǔn)確、及時(shí)檢測(cè)并消除金具中的缺陷對(duì)輸電線路的安全運(yùn)行具有重要的意義。
金具缺陷的無(wú)損檢測(cè)手段主要有X射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、磁力檢測(cè)、渦流檢測(cè)等,其中X射線檢測(cè)由于檢測(cè)效率高、檢測(cè)結(jié)果直觀、對(duì)檢修人員的專業(yè)性要求而得到廣泛應(yīng)用,目前在各電力公司輸電線路隱患排查和事故分析中扮演重要角色。
目前,用于輸電線路現(xiàn)場(chǎng)金具缺陷檢測(cè)的X射線檢測(cè)設(shè)備主要有兩種:一種是傳統(tǒng)膠片式X射線檢測(cè)設(shè)備;另一種是便攜式DR檢測(cè)設(shè)備。傳統(tǒng)膠片式X射線檢測(cè)設(shè)備由于射線機(jī)體積大、質(zhì)量重,射線防護(hù)距離長(zhǎng)(>40m),在實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中需要檢測(cè)人員重復(fù)的上下桿塔,并且需要暗室對(duì)膠片進(jìn)行專業(yè)沖洗,一方面降低了檢測(cè)效率,另一方面也增大了現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)人員的安全隱患。便攜式DR檢測(cè)設(shè)備通過(guò)采用先進(jìn)的成像板,可以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)結(jié)果的實(shí)時(shí)觀察,取消了暗室沖洗環(huán)節(jié),但是同樣面臨射線防護(hù)距離長(zhǎng)的難題,檢測(cè)人員需要重復(fù)上下塔躲避射線,檢測(cè)效率依然受限,輻射安全隱患依然存在。所示,設(shè)計(jì)一種操作簡(jiǎn)單、檢測(cè)人員無(wú)需上下塔、輻射安全隱患底的X射線檢測(cè)裝置顯得十分必要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,解決現(xiàn)有技術(shù)中檢測(cè)效率低、檢測(cè)流程復(fù)雜、安全隱患高等問(wèn)題。針對(duì)輸電線路金具缺陷檢測(cè)需求,提供一種安全、高效、可操作性強(qiáng)的裝置。使用該裝置可方便實(shí)現(xiàn)檢測(cè)位置定位、檢測(cè)裝置懸掛、檢測(cè)結(jié)果評(píng)定等,實(shí)現(xiàn)輸電線路金具缺陷信息的準(zhǔn)確、高效采集與分析。
本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:
一種無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)方法,包括以下步驟:
S1:通過(guò)無(wú)人機(jī)搭載攝像頭模塊、X射線源、X射線探測(cè)器和硅漂移探測(cè)器,無(wú)人機(jī)靠近待檢測(cè)金具,通過(guò)視覺(jué)識(shí)別分析得出金具的最大厚度dmax信息;
S2:使用硅漂移探測(cè)器對(duì)金具的材質(zhì)進(jìn)行檢測(cè),并根據(jù)材質(zhì)得出相應(yīng)的材質(zhì)的密度ρ;
S3:根據(jù)公式計(jì)算出最優(yōu)X射線能量,公式為:Energy=-1.8lnt(25.3-7.8*dmax/ρ)/20.5},并且X射線源以計(jì)算得到的最優(yōu)X射線能量值進(jìn)行X射線發(fā)射,對(duì)金具進(jìn)行探傷。
優(yōu)選地,本發(fā)明的無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)方法,在S1步驟中,先通過(guò)對(duì)無(wú)人機(jī)進(jìn)行人工引導(dǎo),將搭載有X射線檢測(cè)裝置的無(wú)人機(jī)人工引導(dǎo)至待測(cè)金具1-2m處,而后無(wú)人機(jī)通過(guò)搭載的定位裝置將檢測(cè)裝置準(zhǔn)確安放到待檢位置。
優(yōu)選地,本發(fā)明的無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)方法,所述攝像頭模塊為雙目識(shí)別模塊,通過(guò)雙目識(shí)別模塊來(lái)對(duì)金具進(jìn)行定位。。
優(yōu)選地,本發(fā)明的無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)方法,所述X射線探傷圖像通過(guò)無(wú)線傳輸?shù)轿挥诘孛娴挠?jì)算機(jī)控制系統(tǒng)上。
優(yōu)選地,本發(fā)明的無(wú)人機(jī)吊裝X射線檢測(cè)方法,X射線源為脈沖式X射線發(fā)射源,每次脈沖的發(fā)射時(shí)間為15-20納秒內(nèi)。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
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