[發(fā)明專利]去除圖像檢測過程中摩爾紋的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810615337.1 | 申請日: | 2018-06-14 |
| 公開(公告)號: | CN108830795B | 公開(公告)日: | 2022-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙斌;候小華 | 申請(專利權(quán))人: | 合肥市商巨智能裝備有限公司;深圳市商巨視覺技術(shù)有限公司;深圳商巨智能設(shè)備股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T3/40 | 分類號: | G06T3/40;G06T5/00 |
| 代理公司: | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384 | 代理人: | 梁炎芳;謝亮 |
| 地址: | 230012 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 去除 圖像 檢測 過程 摩爾 方法 | ||
1.一種去除圖像檢測過程中摩爾紋的方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
S1,聚焦:將顯示面板放置在臺架上,將相機固定在顯示面板的正上方,并將相機的鏡頭中軸線與顯示面板垂直,調(diào)整相機的焦距;
S2,獲取行子圖像:將顯示面板顯示的圖像以隔行或隔數(shù)行的方式點亮每行的晶格,拍攝顯示面板顯示的帶間隔的行子圖像;
S3,行子圖像修正:
A1,根據(jù)相機拍攝到顯示面板的第一張行子圖像上已點亮晶格四個角的Y坐標值,計算出第一張行子圖像上理論的中心晶格四個角的Y坐標值;
A2,根據(jù)所述理論的中心晶格四個角的Y坐標值計算出每一行晶格四個角的理論Y坐標值;
A3,根據(jù)每一行晶格四個角的理論Y坐標值,將處在該行的所有晶格沿Y軸方向施加一個位移,使該行所有晶格四個角的Y坐標值修正至所述理論Y坐標值,使處在同一行的所有晶格位于同一水平線上;
A4,重復步驟A2-A3,直至將步驟S2中拍攝的所有行子圖像修正完畢;
S4,圖像拼接:將所有修正后的行子圖像拼接在一起,獲取去除摩爾紋的修正圖像。
2.如權(quán)利要求1所述的去除圖像檢測過程中摩爾紋的方法,其特征在于,在步驟S2中,獲取行子圖像的過程為:
點亮顯示面板第1行、1+a行、1+2a行、……、直至點亮1+m1a行的晶格,拍攝第一行子圖像;點亮顯示面板第2行、2+a行、2+2a行、……、直至點亮2+m2a行的晶格,拍攝第二行子圖像;以此類推,點亮顯示面板第a行、2a行、3a行、……、直至點亮m3a行的晶格,拍攝第a行子圖像;
其中,a≥2,m3a行晶格為顯示面板顯示圖像的最后一行晶格,2+m2a行晶格為顯示面板顯示圖像的倒數(shù)第a-1行晶格,1+m1a行的晶格為倒數(shù)第a行晶格。
3.如權(quán)利要求1所述的去除圖像檢測過程中摩爾紋的方法,其特征在于,
在步驟S2中,還包括獲取列子圖像:將顯示面板上的圖像以隔列或隔數(shù)列的方式點亮每列的晶格,拍攝顯示面板顯示的帶間隔的列子圖像;
在步驟S3中,還包括對子圖像的列修正:
B1,根據(jù)相機拍攝到顯示面板的第一張列子圖像上已點亮晶格四個角的X坐標值,計算出第一張列子圖像上理論的中心晶格四個角的X坐標值;
B2,根據(jù)所述理論的中心晶格四個角的X坐標值計算出每一列晶格四個角的理論X坐標值;
B3,根據(jù)每一列晶格四個角的理論X坐標值,將處在該列的所有晶格沿X軸方向施加一個位移,使該列所有晶格四個角的X坐標值修正至所述理論X坐標值,使處在同一列的所有晶格位于同一豎直線上;
B4,重復步驟B2-B3,直至將步驟S2中拍攝的所有列子圖像修正完畢。
4.如權(quán)利要求3所述的去除圖像檢測過程中摩爾紋的方法,其特征在于,
在步驟S2中,獲取列子圖像的過程為:
點亮顯示面板第1列、1+b列、1+2b列、……、直至點亮1+n1b列的晶格,拍攝第一列子圖像;點亮顯示面板第2列、2+b列、2+2b列、……、直至點亮2+n2b列的晶格,拍攝第二列子圖像;以此類推,點亮顯示面板第b列、2b列、3b列、……、直至點亮n3b列的晶格,拍攝第b列子圖像;
其中,b≥2,n3b列晶格為顯示面板顯示圖像的最后一列晶格,2+n2b列晶格為顯示面板顯示圖像的倒數(shù)第b-1列晶格,1+n1b列的晶格為倒數(shù)第b列晶格。
5.如權(quán)利要求1-4任一項所述的去除圖像檢測過程中摩爾紋的方法,其特征在于,在步驟S4中,圖像拼接過程包括:
S41,將所有修正后的行子圖像拼接在一起,獲取行修正子圖像;
S42,將所有修正后的列子圖像拼接在一起,獲取列修正子圖像;
S43,將行修正子圖像與列修正子圖像拼接在一起,獲取去除摩爾紋的修正圖像。
6.如權(quán)利要求5所述的去除圖像檢測過程中摩爾紋的方法,其特征在于,在步驟S43中,將行修正子圖像與列修正子圖像拼接在一起時,對行修正子圖像的亮度矩陣與列修正子圖像亮度矩陣進行加權(quán)平均,獲取顯示面板顯示的圖像亮度分布,根據(jù)獲取的亮度分布調(diào)整拼接圖像的每個晶格的亮度,獲取去除摩爾紋的修正圖像。
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