[發明專利]用于光電測量裝置的驗證方法及裝置有效
| 申請號: | 201810611815.1 | 申請日: | 2018-06-15 |
| 公開(公告)號: | CN109323651B | 公開(公告)日: | 2021-06-22 |
| 發明(設計)人: | J·C·烏拉·昌迪亞;帕布羅·德拉豐特·普拉多;O·馬丁內斯-托萊達諾·艾古羅拉 | 申請(專利權)人: | 發格自動化股份合作有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 王小東 |
| 地址: | 西班牙*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 光電 測量 裝置 驗證 方法 | ||
本發明涉及用于光電測量裝置的驗證方法及裝置。所述裝置(100)包括:分度尺(1),該分度尺具有沿測量方向(A)接連分布并且限定了不同代號序列的多個刻度(10);以及面向所述分度尺(1)的讀頭(2),該讀頭可沿所述測量方向(A)相對于所述分度尺(1)移動。所述方法驗證所述讀頭(2)與所述分度尺(1)之間的布置是否是所需布置并且包括以下步驟:借助沿所述測量方向(A)間隔開的各個發射器(21、22)以交替的方式發射兩束光束;根據所述兩束光束確定所述頭(2)的所述絕對位置;將所述兩個絕對位置進行對比并且根據所述對比來確定這兩個絕對位置是否正確。
技術領域
本發明涉及用于光電測量裝置的驗證方法,尤其涉及用于驗證絕對位置的確定是否正確的方法并且涉及絕對光電測量裝置。
背景技術
光電測量裝置包括:分度尺,該分度尺具有標刻在分度尺中的多個刻度:以及面向分度尺的讀頭,該讀頭可沿平行于分度尺的測量方向相對于所述分度尺移動。讀頭包括朝分度尺發射光束的光發射器以及接收透過分度尺或者從分度尺反射的光的檢測裝置,還包括根據由檢測裝置接收的光確定分度尺與讀頭之間的位置的控制器。
在絕對光電測量裝置中,分度尺上的刻度以既定方式沿測量方向分布,使得刻度沿分度尺形成不同的代號序列,因而讀頭的絕對位置總能夠被確定。
專利文件US5754568A公開了此類型的裝置,該裝置更加肯定確定的絕對位置是正確的。所述裝置的讀頭包括沿測量方向相互鄰近的兩個檢測裝置,從而這兩個檢測裝置接收關于分度尺的不同代號的讀數。這兩個檢測裝置借助一系列對比確定所確定的位置是否正確。
發明內容
本發明的目的是提供用于光電測量裝置的驗證方法以及相關裝置。
本發明的第一方面涉及用于光電測量裝置的驗證方法。光電測量裝置包括:分度尺,該分度尺具有沿測量方向接連分布并且限定了不同代號序列的多個刻度;以及面向所述分度尺的讀頭,該讀頭可沿所述測量方向相對于所述分度尺移動并且包括至少一個檢測裝置。
所述方法包括以下步驟:
利用所述讀頭的第一光發射器朝所述分度尺發射第一光束并且在所述第一光束被從所述分度尺反射之后或者在所述第一光束透過所述分度尺之后根據由所述檢測裝置接收的所述光確定所述讀頭的絕對位置;
隨后利用沿所述測量方向與所述讀頭的所述第一光發射器隔開的第二光發射器朝所述分度尺發射第二光束,并且在所述第二光束被從所述分度尺反射之后或者在所述第二光束透過所述分度尺之后根據由所述檢測裝置接收的所述光確定所述讀頭的絕對位置;
將兩個確定的絕對位置相互對比;并且
根據所述對比確定所述確定的絕對位置是否正確。
因此,這是一種驗證由所述裝置確定的絕對位置是否正確的簡單方式。而且,所述方法僅需要使用額外的低成本元件(光發射器),該額外的低成本元件使得以有成本效益的并且同時簡單的方式為裝置增添額外的肯定性。
本發明的第二方面涉及一種光電測量裝置,該光電測量裝置包括:分度尺,該分度尺具有沿測量方向接連分布并且限定了不同代號序列的多個刻度;以及面向所述分度尺的讀頭,該讀頭可沿所述測量方向相對于所述分度尺移動并且包括至少一個檢測裝置以及與所述檢測裝置通信的控制器。
所述讀頭進一步包括至少兩個光發射器,這些光發射器沿所述測量方向相互間隔開以利用各自的光束照射所述分度尺,所述檢測裝置適于并且構造成用于接收由兩個所述光發射器發射的被所述分度尺反射之后或者透過所述分度尺之后的光。
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