[發(fā)明專(zhuān)利]氮化物半導(dǎo)體外延襯底及半導(dǎo)體器件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810604023.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109103251A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-12-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田中丈士 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 賽奧科思有限公司;住友化學(xué)株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/778 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/778;H01L29/06;H01L29/205;H01L21/02;H01L21/335 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 楊宏軍;唐崢 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氮化物半導(dǎo)體 氮化物半導(dǎo)體層 襯底 半導(dǎo)體器件 二維電子氣 高電子遷移率晶體管 電子渡越層 電子供給層 經(jīng)時(shí)變化 濃度差 | ||
本發(fā)明涉及氮化物半導(dǎo)體外延襯底及半導(dǎo)體器件。本發(fā)明的課題在于抑制使用氮化物半導(dǎo)體外延襯底構(gòu)成高電子遷移率晶體管時(shí)的二維電子氣的經(jīng)時(shí)變化。本發(fā)明的解決手段為一種氮化物半導(dǎo)體外延襯底,其具備襯底、作為存在有二維電子氣的電子渡越層的第一氮化物半導(dǎo)體層、和作為電子供給層的第二氮化物半導(dǎo)體層,其中,對(duì)于第二氮化物半導(dǎo)體層而言,氫濃度為比第一氮化物半導(dǎo)體層高的濃度,并且,包含與第一氮化物半導(dǎo)體層的氫濃度差為2×1018cm?3以下的部分。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及氮化物半導(dǎo)體外延襯底及半導(dǎo)體器件。
背景技術(shù)
例如,作為高電子遷移率晶體管(HEMT:High Electron Mobility Transistor)中可使用的氮化物半導(dǎo)體外延襯底,已知有如下構(gòu)成的氮化物半導(dǎo)體外延襯底:具備在碳化硅(SiC)襯底上形成的作為電子渡越層發(fā)揮功能的氮化鎵(GaN)層和在該GaN層上形成的作為電子供給層發(fā)揮功能的氮化鋁鎵(AlGaN)層,在GaN層的AlGaN層側(cè)存在二維電子氣(例如,參見(jiàn)專(zhuān)利文獻(xiàn)1)。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專(zhuān)利文獻(xiàn)
專(zhuān)利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2013-175696號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的課題
氮化物半導(dǎo)體外延襯底中,關(guān)于存在于GaN層的二維電子氣,例如有時(shí)可能發(fā)生其濃度減少這樣的經(jīng)時(shí)變化。這樣的經(jīng)時(shí)變化導(dǎo)致構(gòu)成HEMT時(shí)的設(shè)備特性的變動(dòng),因而應(yīng)當(dāng)抑制其發(fā)生。
本發(fā)明的目的在于提供能抑制二維電子氣的經(jīng)時(shí)變化的氮化物半導(dǎo)體外延襯底及半導(dǎo)體器件。
用于解決課題的手段
通過(guò)本發(fā)明的一個(gè)方式,可提供一種氮化物半導(dǎo)體外延襯底,其具備:
襯底,
在前述襯底上形成的、作為存在有二維電子氣的電子渡越層的第一氮化物半導(dǎo)體層,和
在前述第一氮化物半導(dǎo)體層上形成的作為電子供給層的第二氮化物半導(dǎo)體層,
對(duì)于前述第二氮化物半導(dǎo)體層而言,氫濃度為比前述第一氮化物半導(dǎo)體層高的濃度,并且,包含與前述第一氮化物半導(dǎo)體層的氫濃度差為2×1018cm-3以下的部分。
發(fā)明的效果
通過(guò)本發(fā)明,能抑制二維電子氣的經(jīng)時(shí)變化。
附圖說(shuō)明
[圖1]為示意性地表示本發(fā)明涉及的氮化物半導(dǎo)體模板及半導(dǎo)體器件的概略結(jié)構(gòu)例的說(shuō)明圖。
[圖2]為表示本發(fā)明涉及的氮化物半導(dǎo)體模板中的第一氮化物半導(dǎo)體層與第二氮化物半導(dǎo)體層的氫濃度差、與構(gòu)成半導(dǎo)體器件時(shí)的夾斷電壓的變化量之間的關(guān)系的一例的說(shuō)明圖。
[圖3]為表示本發(fā)明涉及的氮化物半導(dǎo)體模板中的第一氮化物半導(dǎo)體層與第二氮化物半導(dǎo)體層的氫濃度差、與構(gòu)成半導(dǎo)體器件時(shí)的電子遷移率之間的關(guān)系的一例的說(shuō)明圖。
附圖標(biāo)記說(shuō)明
10…氮化物半導(dǎo)體外延襯底(中間體)
11…襯底
13…第一氮化物半導(dǎo)體層(GaN層、GaN溝道/緩沖層)
14…第二氮化物半導(dǎo)體層(AlGaN層、AlGaN阻隔層)
15…二維電子氣(2DEG)
17…界面附近區(qū)域
20…半導(dǎo)體器件(HEMT)
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





