[發明專利]物體底面積參數的測量方法、裝置、系統及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201810594828.2
• 申請日: 2018-06-11
• 公開（公告）號: CN109029303B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 唐雄民;黃銳;黃冀成
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G01B11/28
• 分類號: G01B11/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明公開了一種物體底面積參數的測量方法，先是通過將目標三維數據向X軸和Y軸構成的平面投影得到了投影圖形，再通過旋轉變換和逆旋轉變換得到第一底面圖形，最后通過構建目標底面圖形消除了第一底面圖形中的誤差坐標點，最終得到了更為準確的目標圖形，并依據目標圖形的面積參數計算得到了底面積參數，以此完成了物體底面積參數的測量。可見，應用本測量方法，以三維數據為測量依據，而無需任何圖片數據，所以，一則不會因圖片失真而導致測量結果不準確的問題，再則也可以避免處理圖片數據，從而減小測量物體底面積參數的計算量。此外，本發明還公開了一種物體底面積參數的測量裝置、系統和計算機可讀存儲介質，效果如上。

技術領域

本發明涉及測量技術領域，特別涉及物體底面積參數的測量方法、裝置、系統及可讀存儲介質。

背景技術

在物流領域里，由于物體的體積涉及到物流計費、裝車運輸及倉庫存儲，所以，準確地獲取物體的體積極其重要。

物體的體積參數包括物體底面積參數和高度參數，在現有技術中，獲取物體底面積參數的方法多種多樣，其中，較為常用的一種方法是：采用圖像采集設備獲取待測物體的圖像信息，并生成圖片，然后再通過圖像處理設備對圖片進行處理，提取圖片信息，根據多組圖片信息的對比得到物體底面積參數。但是，一方面，由于圖像采集設備生成圖片的質量與周圍環境密切相關，所以，當待測物體表面具有膠帶或其它對光具有反射作用的物質時，圖像采集設備生成的圖片往往會發生失真的情況，導致測量結果的準確性較差；另一方面，應用該方法需要大量的處理圖片數據，測量物體底面積參數的計算量也較大。

因此，如何提升物體底面積參數的測量結果的準確性和減少測量物體底面積參數的計算量是本領域技術人員目前需要解決的技術問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種物體底面積參數的測量方法、裝置、系統及可讀存儲介質，能夠提升物體底面積參數的測量結果的準確性和減少測量物體底面積參數的計算量。

為了解決上述技術問題，本發明提供的一種物體底面積參數的測量方法，包括：

將利用三維激光相機獲取到的與待測物體的高度值對應的目標三維數據投影至X軸和Y軸構成的平面，形成投影圖形，并計算所述投影圖形的基準邊角點和與所述基準邊角點相鄰的邊角點的第一夾角；

依據所述第一夾角對所述投影圖形進行旋轉變換，確定包括旋轉后的投影圖形的最小外接底面圖形，以根據所述第一夾角對所述最小外接底面圖形進行逆旋轉變換，得到第一底面圖形；

計算所述第一底面圖形的基準邊與所述X軸的第二夾角，以依據所述第二夾角在所述平面中構建所包含的投影至所述平面的目標三維數據多于或等于預定數目的目標底面圖形；

根據目標圖形的面積參數計算所述底面積參數，其中，所述目標圖形為各所述目標底面圖形在所述第一底面圖形中的補集的交集所形成的圖形。

優選地，所述待測物體具體為長方體，則所述確定包括旋轉后的投影圖形的最小外接底面圖形具體包括：

確定所述旋轉后的投影圖形的邊角點坐標中最大的X軸坐標值、最小的X軸坐標值、最大的Y軸坐標值和最小的Y軸坐標值；

對所述最大的X軸坐標值、所述最小的X軸坐標值、所述最大的Y軸坐標值和所述最小的Y軸坐標值進行排列組合，得到四個目標坐標；

以四個所述目標坐標為頂點坐標構建所述最小外接底面圖形。

優選地，在所述將與待測物體的高度值對應的目標三維數據投影至X軸和Y軸構成的平面，形成投影圖形之前，還包括：

依據預設高度閾值對所述目標三維數據進行過濾；

則對應的，所述將利用三維激光相機獲取到的與待測物體的高度值對應的目標三維數據投影至X軸和Y軸構成的平面，形成投影圖形具體為：