[發(fā)明專利]物體底面積參數(shù)的測量方法、裝置、系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810594828.2
• 申請日: 2018-06-11
• 公開（公告）號: CN109029303B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發(fā)明（設計）人: 唐雄民;黃銳;黃冀成
• 申請（專利權）人: 廣東工業(yè)大學
• 主分類號: G01B11/28
• 分類號: G01B11/28
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種物體底面積參數(shù)的測量方法，其特征在于，包括：

將利用三維激光相機獲取到的與待測物體的高度值對應的目標三維數(shù)據(jù)投影至X軸和Y軸構成的平面，形成投影圖形，并計算所述投影圖形的基準邊角點和與所述基準邊角點相鄰的邊角點的第一夾角；

依據(jù)所述第一夾角對所述投影圖形進行旋轉(zhuǎn)變換，確定包括旋轉(zhuǎn)后的投影圖形的最小外接底面圖形，以根據(jù)所述第一夾角對所述最小外接底面圖形進行逆旋轉(zhuǎn)變換，得到第一底面圖形；

計算所述第一底面圖形的基準邊與所述X軸的第二夾角，以依據(jù)所述第二夾角在所述平面中構建所包含的投影至所述平面的目標三維數(shù)據(jù)多于或等于預定數(shù)目的目標底面圖形；

根據(jù)目標圖形的面積參數(shù)計算所述底面積參數(shù)，其中，所述目標圖形為各所述目標底面圖形在所述第一底面圖形中的補集的交集所形成的圖形。

2.根據(jù)權利要求1所述的物體底面積參數(shù)的測量方法，其特征在于，所述待測物體具體為長方體，則所述確定包括旋轉(zhuǎn)后的投影圖形的最小外接底面圖形具體包括：

確定所述旋轉(zhuǎn)后的投影圖形的邊角點坐標中最大的X軸坐標值、最小的X軸坐標值、最大的Y軸坐標值和最小的Y軸坐標值；

對所述最大的X軸坐標值、所述最小的X軸坐標值、所述最大的Y軸坐標值和所述最小的Y軸坐標值進行排列組合，得到四個目標坐標；

以四個所述目標坐標為頂點坐標構建所述最小外接底面圖形。

3.根據(jù)權利要求1所述的物體底面積參數(shù)的測量方法，其特征在于，在將所述目標三維數(shù)據(jù)投影至所述X軸和Y軸構成的平面之前，還包括：

依據(jù)預設高度閾值對所述目標三維數(shù)據(jù)進行過濾；

則對應的，所述將與待測物體的高度值對應的目標三維數(shù)據(jù)投影至X軸和Y軸構成的平面，形成投影圖形具體為：

將過濾后的與所述待測物體的高度值對應的目標三維數(shù)據(jù)投影至所述X軸和所述Y軸構成的平面，形成所述投影圖形。

4.根據(jù)權利要求1所述的物體底面積參數(shù)的測量方法，其特征在于，所述計算所述投影圖形的基準邊角點和與所述基準邊角點相鄰的邊角點的第一夾角具體包括：

對構成所述投影圖形的各投影坐標進行凸包處理，并獲取所述投影圖形的邊角點坐標；

將所述投影圖形的每一個邊角點均作為所述基準邊角點，并按照順時針方向或逆時針方向?qū)嬎愣鄠€所述第一夾角。

5.根據(jù)權利要求1-4任一項所述的物體底面積參數(shù)的測量方法，其特征在于，所述待測物體具體為長方體，則所述目標底面圖形的個數(shù)為四個，且四個所述目標底面圖形分別分布于所述第一底面圖形的下區(qū)、左區(qū)、右區(qū)和上區(qū)。

6.根據(jù)權利要求5所述的物體底面積參數(shù)的測量方法，其特征在于，所述依據(jù)所述第二夾角在所述平面中構建所包含的投影至所述平面的目標三維數(shù)據(jù)多于或等于預定數(shù)目的目標底面圖形具體包括：

以目標步長值與所述第二夾角的余弦值的乘積為所述X軸的坐標增量，以所述目標步長值與所述第二夾角的正弦值的乘積作為所述Y軸的坐標增量構建所述目標底面圖形；

判斷所述目標底面圖形中所包含的投影至所述平面的目標三維數(shù)據(jù)是否多于或等于預設數(shù)目；

如果否，則增加一個所述目標步長值作為當前目標步長值重新構建目標底面圖形作為當前目標底面圖形直至所述當前目標底面圖形所包含的投影至所述平面的目標三維數(shù)據(jù)多于或等于所述預定數(shù)目。