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[發(fā)明專利]一種NLDMOS器件和LDMOS功率器件的制造方法有效

專利信息
申請?zhí)枺?/td> 201810588296.1 申請日: 2018-06-08
公開(公告)號: CN108807502B 公開(公告)日: 2021-03-19
發(fā)明(設計)人: 劉憲周 申請(專利權(quán))人: 上海華虹宏力半導體制造有限公司
主分類號: H01L29/06 分類號: H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅
地址: 201203 上海市浦東*** 國省代碼: 上海;31
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摘要:
搜索關鍵詞: 一種 nldmos 器件 ldmos 功率 制造 方法
【說明書】:

發(fā)明提供一種全隔離型的NLDMOS器件和LDMOS功率器件的制造方法,該方法包括在位于N型埋層之上的外延層的表面進行介質(zhì)層沉積,對介質(zhì)層進行光刻去掉多余的介質(zhì)層形成場效應氧化層,以及對外延層進行光刻和第一次離子注入,分別采用PGRD光罩和NGRD光罩對外延層進行光刻和離子注入分別形成P型漏極漂移區(qū)和N型漏極漂移區(qū),同時對位于N型漏極漂移區(qū)下方的預制P型隔離結(jié)構(gòu)進行第二次離子注入,以形成與N型埋層之間的P型隔離結(jié)構(gòu),然后在P型漏極漂移區(qū)內(nèi)形成P型阱區(qū),在N型漏極漂移區(qū)內(nèi)形成N型阱區(qū),在場效應氧化層之上形成柵極結(jié)構(gòu)。本發(fā)明簡化了具有表面場效應氧化層結(jié)構(gòu)的半導體器件的制造工藝流程。

技術領域

本發(fā)明涉及集成電路技術領域,特別涉及一種全隔離型的NLDMOS器件的制造方法和全隔離型的LDMOS功率器件的制造方法。

背景技術

橫向擴散金屬氧化物半導體(Laterally Diffused Metal OxideSemiconductor,LDMOS)器件,導通電阻是其中一個重要的指標,其影響了LDMOS器件的性能。在LDMOS功率器件,為了提高LDMOS器件的性能,通常在LDMOS器件的NLDMOS器件區(qū)設置表面場氧化層代替嵌入式場氧化層,在PLDMOS器件區(qū)仍然采用嵌入式場氧化層,其中NLDMOS是指N型LDMOS,PLDMOS是指P型LDMOS。請參考圖1,現(xiàn)有的全隔離型的NLDMOS器件包括形成在襯底(未圖示)上的N型埋層NBL和P型埋層PBL,形成在NBL和PBL之上的外延層EPI,分別形成在EPI內(nèi)的多個P型漏極漂移區(qū)Pdrift和多個N型漏極漂移區(qū)Ndrift,以及分別形成在Pdrift和Ndrift之內(nèi)的P型阱區(qū)Pwell和N型阱區(qū)Nwell,重摻雜的P型和N型離子注入?yún)^(qū)P+和N+,形成在EPI表面上的場效應氧化層GO,形成在GO之上的柵極結(jié)構(gòu)Gate,位于柵極結(jié)構(gòu)Gate下方及其兩側(cè)的Pdrift、Ndrift和Pdrift與NBL之間形成有P型隔離結(jié)構(gòu)PB,位于PB兩側(cè)的Ndrift與NBL接觸,位于NBL之上的Ndrift與相鄰的Pdrift之間設置有淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)STI。其中,全隔離型LDMOS,是指N型漏極漂移區(qū)Ndrift和NBL需要承受電壓,因此需要形成P型隔離結(jié)構(gòu)。有些LDMOS是不需要這個Ptype的,NGRD和NBL之間無明確的電壓要求。

現(xiàn)有技術中全隔離型的NLDMOS器件的制造方法如下:

步驟01,提供襯底;

步驟02,在襯底上形成N型埋層和P型埋層;

步驟03,在N型埋層和P型埋層之上形成外延層;

步驟04,對外延層進行光刻,并在光刻形成的凹槽內(nèi)填充介質(zhì)進行蝕刻,以及對填充后的介質(zhì)進行化學機械研磨,使介質(zhì)平坦化后形成淺溝槽隔離結(jié)構(gòu);

步驟05,在位于N型埋層之上的外延層的表面進行介質(zhì)層沉積;

步驟06,采用PGRD光罩對介質(zhì)層進行光刻去掉多余的介質(zhì)層形成場效應氧化層對暴露外延層進行離子注入形成P型漏極漂移區(qū);

步驟07,采用NGRD光罩對介質(zhì)層進行光刻,使場效應氧化層分割成兩部分,以及對外延層進行離子注入形成N型漏極漂移區(qū);

步驟08,通過P型漏極漂移區(qū)和N型漏極漂移區(qū)向下進行光刻和離子注入形成與N型埋層之間的P型隔離結(jié)構(gòu);

步驟09,在N型漏極漂移區(qū)內(nèi)進行光刻和離子注入形成N型阱區(qū);

步驟10,在P型漏極漂移區(qū)內(nèi)進行光刻和離子注入形成P型阱區(qū);

步驟11,在場效應氧化層之上形成柵極結(jié)構(gòu);

步驟12,形成重摻雜的P型離子注入?yún)^(qū)和N型離子注入?yún)^(qū)。

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