[發明專利]半導體激光器自動功能測試系統

有效

• 申請號: 201810583920.9
• 申請日: 2018-06-08
• 公開（公告）號: CN108444682B
• 公開（公告）日: 2023-10-03
• 發明（設計）人: 文少劍;劉猛;黃海翔;廖東升;董曉東
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

一種半導體激光器自動功能測試系統，包括：工作臺；光功率檢測組件，光功率檢測組件包括光功率計探頭、及功率采集器；光功率計探頭根據激光光線的功率而產生相應的功率電信號功率采集器對功率電信號采集；光譜檢測組件，光譜檢測組件包括光譜導光光纖、及與光譜導光光纖耦合的光譜儀；驅動電源，用于向半導體激光器輸出電流；及數據處理裝置，光譜儀將光譜檢測數據輸出至數據處理裝置；數據處理裝置對驅動電源的輸出電流進行控制。通過數據處理裝置控制驅動電源的輸出電流，使半導體激光器的通過電流按預定規律進行變化，結合光功率檢測組件及光譜檢測組件的檢測數據，從而可自動地計算出半導體激光器的光功率電流特性曲線及光譜電流特性曲線。

技術領域

本發明涉及半導體激光器測試技術，特別是涉及一種半導體激光器自動功能測試系統。

背景技術

半導體激光管具有體積小、效率高、使用方便等特點，因而得到了廣泛的應用。根據半導體激光管的特性可知，半導體激光管輸出光功率和光譜隨激光管的驅動電流大小和工作溫度的變化而變化。為向用戶提供半導體激光器的完整信息，半導體激光器在開發或生產階段需要進行功率電流特性的測試以及光譜特性的測試；然而，傳統的技術方案一般通過人工調節電流及進行光功率、光譜信息記錄，導致半導體激光器的光功率電流特性測試及光譜電流特性測試的效率較低。

發明內容

基于此，有必要針對半導體激光器功率的電流特性測試及譜電流特性測試的效率較低的問題，提供一種半導體激光器自動功能測試系統。

一種半導體激光器自動功能測試系統，包括：

工作臺；

光功率檢測組件，用于對半導體激光器輸出的光功率進行檢測；所述光功率檢測組件包括安裝在所述工作臺上光功率計探頭、及功率采集器；所述光功率計探頭根據所述半導體激光器發出的激光光線的功率而產生相應的功率電信號，并輸出至所述功率采集器；所述功率采集器對功率電信號進行采集；

光譜檢測組件，用于對所述半導體激光器輸出的激光的光譜進行檢測；所述光譜檢測組件包括光譜導光光纖、及與所述光譜導光光纖耦合的光譜儀；所述光譜導光光纖的輸入端設置在所述工作臺上，且與所述光功率計探頭對應設置；

驅動電源，用于向所述半導體激光器輸出電流；及

數據處理裝置，所述光譜儀將光譜檢測數據輸出至所述數據處理裝置；所述功率采集器將功率電信號輸出至所述數據處理裝置；所述數據處理裝置對所述驅動電源的輸出電流進行控制。

上述半導體激光器自動功能測試系統，通過數據處理裝置控制驅動電源的輸出電流，使半導體激光器的通過電流按預定規律進行變化，結合光功率檢測組件及光譜檢測組件的檢測數據，從而可自動地計算出半導體激光器的光功率電流特性曲線及光譜電流特性曲線。

在其中一個實施例中，所述光功率計探頭包括安裝在所述工作臺上的檢測主體；所述檢測主體包括外殼、及設置在所述外殼內的探測模組；所述外殼上設有進光口；所述探測模組設有感應部；所述探測模組的感應部與所述外殼的進光口對應；所述光譜導光光纖的輸入端與所述進光口對應設置。

在其中一個實施例中，所述光功率計探頭還包括連接所述外殼的夾持座；所述夾持座上設有容納槽；所述容納槽與所述進光口對應設置。

在其中一個實施例中，所述夾持座包括連接所述外殼的第一延伸板、連接所述第一延伸板的第二延伸板、及連接所述第二延伸板的導向塊。

在其中一個實施例中，所述光譜檢測組件還包括第二支撐架，所述光譜導光光纖通過所述第二支撐架安裝在所述工作臺上；所述光譜檢測組件還包括安裝在所述第二支撐架上的衰減片；所述衰減片與所述光譜導光光纖的端口對應設置。

在其中一個實施例中，還包括光斑檢測組件，所述光斑檢測組件包括監測相機，所述監測相機安裝在所述工作臺上，所述監測相機的攝像口與所述探測模組的感應部對應。