[發明專利]半導體激光器自動功能測試系統

有效

• 申請號: 201810583920.9
• 申請日: 2018-06-08
• 公開（公告）號: CN108444682B
• 公開（公告）日: 2023-10-03
• 發明（設計）人: 文少劍;劉猛;黃海翔;廖東升;董曉東
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，包括：

工作臺；

光功率檢測組件，用于對半導體激光器輸出的光功率進行檢測；所述光功率檢測組件包括安裝在所述工作臺上光功率計探頭、及功率采集器；所述光功率計探頭根據所述半導體激光器發出的激光光線的功率而產生相應的功率電信號，并輸出至所述功率采集器；所述功率采集器對功率電信號進行采集；

光譜檢測組件，用于對所述半導體激光器輸出的激光的光譜進行檢測；所述光譜檢測組件包括光譜導光光纖、及與所述光譜導光光纖耦合的光譜儀；所述光譜導光光纖的輸入端設置在所述工作臺上，且與所述光功率計探頭對應設置；

驅動電源，用于向所述半導體激光器輸出電流；及

數據處理裝置，所述光譜儀將光譜檢測數據輸出至所述數據處理裝置；所述功率采集器將功率電信號輸出至所述數據處理裝置；所述數據處理裝置對所述驅動電源的輸出電流進行控制。

2.根據權利要求1所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，所述光功率計探頭包括安裝在所述工作臺上的檢測主體；所述檢測主體包括外殼、及設置在所述外殼內的探測模組；所述外殼上設有進光口；所述探測模組設有感應部；所述探測模組的感應部與所述外殼的進光口對應；所述光譜導光光纖的輸入端與所述進光口對應設置。

3.根據權利要求2所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，所述光功率計探頭還包括連接所述外殼的夾持座；所述夾持座上設有容納槽；所述容納槽與所述進光口對應設置。

4.根據權利要求3所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，所述夾持座包括連接所述外殼的第一延伸板、連接所述第一延伸板的第二延伸板、及連接所述第二延伸板的導向塊。

5.根據權利要求2所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，所述光譜檢測組件還包括第二支撐架，所述光譜導光光纖通過所述第二支撐架安裝在所述工作臺上；所述光譜檢測組件還包括安裝在所述第二支撐架上的衰減片；所述衰減片與所述光譜導光光纖的端口對應設置。

6.根據權利要求2所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，還包括光斑檢測組件，所述光斑檢測組件包括監測相機，所述監測相機安裝在所述工作臺上，所述監測相機的攝像口與所述探測模組的感應部對應。

7.根據權利要求1所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，還包括溫控組件，所述溫控組件包括用于承載半導體激光器的溫度調節器，及連接所述溫度調節器的調節驅動器，所述調節驅動器對所述溫度調節器的通過電流大小及電流方向進行控制。

8.根據權利要求7所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，還包括安裝在所述工作臺上的隔離座、設置在所述隔離座一側的第四支撐架、與所述第四支撐架滑動連接的引導塊、連接所述第四支撐架的手柄組件、穿設在所述第四支撐架上的推桿、若干穿設在所述引導塊上的導向柱、連接所述導向柱的壓板、及套設在所述導向柱上的彈簧件；所述引導塊與所述推桿的下端連接，所述手柄組件與所述推桿的上端連接；所述彈簧件設置在所述引導塊與所述壓板之間；所述溫度調節器安裝在所述隔離座上。

9.根據權利要求8所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，所述工作臺上設有光纖固定架，所述光纖固定架包括連接所述工作臺的底柱、連接所述底柱的支撐板、及設置在所述支撐板上的光纖夾；所述支撐板相對所述工作臺表面的高度與所述光功率計探頭對應設置。

10.根據權利要求1所述的半導體激光器自動功能測試系統，其特征在于，所述工作臺上設有擋光箱，所述擋光箱包括若干相互連接的側板、及翻蓋；所述側板豎直設置在所述工作臺上，所述翻蓋與其中一所述側板連接；所述光功率計探頭、所述光譜導光光纖的輸入端、及所述半導體激光器設置在所述擋光箱中。