[發明專利]一種用于傳感器調理芯片的單線測試方法

在審

• 申請號: 201810582803.0
• 申請日: 2018-06-07
• 公開（公告）號: CN108872830A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發明（設計）人: 趙佳;盛云;王升楊
• 申請（專利權）人: 蘇州納芯微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 蘇州中合知識產權代理事務所(普通合伙) 32266
• 代理人: 高海棠

本發明公開了一種用于傳感器調理芯片的單線測試方法，包括以下步驟：(1)在被測試芯片的電源上驅動一個異常電壓，芯片內部檢測到電壓異常，進入測試模式；(2)測試過程中主設備在通信線上驅動一對時間很短的高低電平構成一個邊沿，然后釋放總線；(3)從設備收到邊沿后，發出一個有效位的測試數據，每個有效位數據在單周期發送完畢，主設備讀取通信線上的狀態，完成有效數據位“0”和“1”的傳輸；(4)重復步驟(2)和(3)直至測試數據收集完成，測試結束。可完成非常簡易的芯片三腳測試，在不影響速度的前提下，有效的節省了測試成本，對引腳數要求低而且測試效率高。

技術領域

本發明涉及一種傳感器調理芯片的測試方法，特別涉及一種用于傳感器調理芯片的單線測試方法。

背景技術

傳感器調理芯片的測試幾乎是必不可少的環節，然而在引腳數量較少的特定應用場合，進入測試模式和測試模式中的通信是最重要的環節，特別是對成本控制敏感的應用中，通信的雙方或者沒有足夠多的剩余引腳也沒有額外的引腳供進入測試模式，或者鑒于成本不方便有更多的引腳或更多的連接線。比如，紅外熱釋電傳感器的測試場合，傳感器只有極少量的引腳，且測試方案要求盡可能的簡單便宜。而現有的測試方案，基本是額外的控制引腳為代價進入測試模式，然后測試中使用時鐘和數據雙線通信模式，或多周期單線通信以速度換取成本的方式，進行測試數據的收集即在使用被測試芯片的額外引腳進入測試模式，然后使用高速的時鐘，檢測主設備發起的單線通信波形，常常每一個有效位的傳輸通常要使用數個甚至數十個時鐘周期。

發明內容

本發明的目的在于，提供一種用于傳感器調理芯片的單線測試方法，其可以提供測試效率，降低測試成本。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案在于，一種用于傳感器調理芯片的單線測試方法，包括以下步驟：

(1)在被測試芯片的電源上驅動一個異常電壓，芯片內部檢測到電壓異常，進入測試模式；

(2)測試過程中主設備在通信線上驅動一對時間很短的高低電平構成一個邊沿，然后釋放總線；

(3)從設備收到邊沿后，發出一個有效位的測試數據，每個有效位數據在單周期發送完畢，主設備讀取通信線上的狀態，完成有效數據位“0”和“1”的傳輸；

在本步驟中，主設備讀取通信線上的狀態有最短時間限制，最短時間依賴于通信傳輸線上的寄生電容。通常情況下，主設備讀取通信狀態的等待時間是5us到無窮大。而考慮到通信效率，不會使用無窮大的等待時間，更為常規的考慮到通信效率應用是等待5us～約定時間，約定時間是從設備的一個時鐘周期。

(4)重復步驟(2)和(3)直至測試數據收集完成，測試結束。

作為優選，在步驟(2)中，所述邊沿為上升沿或者下降沿，當然也不局限于該兩種形式。

作為優選，在步驟(1)中，當進入測試模式，測試模式下芯片的原功能引腳將切換成測試引腳，用來作為測試數據的通信。

作為優選，被測試芯片至少包含三個引腳。

本發明的有益效果：本專利的單線測試方法，利用電源線上的異常電壓進入測試模式，然后利用異步的快速握手機制實現有效位數據的單線傳輸方法，主要用于快速低成本，引腳數量少的芯片測試；不需要專門的測試模式使能管腳或者使用復雜的時序組合進入測試模式；在單一通信上完成了單周期的數據傳輸；結合以上幾點可完成非常簡易的芯片三腳測試，在不影響速度的前提下，有效的節省了測試成本，對引腳數要求低而且測試效率高。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹。

圖1為本發明測試連接圖；

圖2為本發明測試構成的邊沿的形式；