[發(fā)明專利]一種用于傳感器調(diào)理芯片的單線測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810582803.0 | 申請日： | 2018-06-07 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN108872830A | 公開（公告）日： | 2018-11-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 趙佳;盛云;王升楊 | 申請（專利權(quán)）人： | 蘇州納芯微電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R31/28 | 分類號(hào)： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 蘇州中合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32266 | 代理人： | 高海棠 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 芯片 測試 傳感器調(diào)理 通信線 主設(shè)備 單線 讀取 測試數(shù)據(jù)收集 有效數(shù)據(jù)位 驅(qū)動(dòng) 測試成本 測試過程 測試模式 測試數(shù)據(jù) 測試效率 測試芯片 電壓異常 高低電平 內(nèi)部檢測 異常電壓 有效位數(shù) 總線 從設(shè)備 單周期 引腳數(shù) 有效位 電源 簡易 發(fā)送 傳輸 釋放 重復(fù) | ||
1.一種用于傳感器調(diào)理芯片的單線測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)在被測試芯片的電源上驅(qū)動(dòng)一個(gè)異常電壓，芯片內(nèi)部檢測到電壓異常，進(jìn)入測試模式；
(2)測試過程中主設(shè)備在通信線上驅(qū)動(dòng)一對時(shí)間很短的高低電平構(gòu)成一個(gè)邊沿，然后釋放總線；
(3)從設(shè)備收到邊沿后，發(fā)出一個(gè)有效位的測試數(shù)據(jù)，每個(gè)有效位數(shù)據(jù)在單周期發(fā)送完畢，主設(shè)備讀取通信線上的狀態(tài)，完成有效數(shù)據(jù)位“0”和“1”的傳輸；
(4)重復(fù)步驟(2)和(3)直至測試數(shù)據(jù)收集完成，測試結(jié)束。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于傳感器調(diào)理芯片的單線測試方法，其特征在于，在步驟(2)中，所述邊沿為上升沿或者下降沿。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于傳感器調(diào)理芯片的單線測試方法，其特征在于，在步驟(1)中，當(dāng)進(jìn)入測試模式，測試模式下芯片的原功能引腳將切換成測試引腳，用來作為測試數(shù)據(jù)的通信。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于傳感器調(diào)理芯片的單線測試方法，其特征在于，被測試芯片至少包含三個(gè)引腳。
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