[發(fā)明專利]一種PCB天線測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810582591.6 | 申請日： | 2018-06-07 |
| 公開（公告）號： | CN108957148B | 公開（公告）日： | 2020-07-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 楊小雨;姚利杰;儲(chǔ)祝君 | 申請（專利權(quán)）人： | 杭州利爾達(dá)展芯科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 杭州杭誠專利事務(wù)所有限公司 33109 | 代理人： | 王江成 |
| 地址： | 311700 浙江省杭州市*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 pcb 天線 測試 裝置 | ||
1.一種PCB天線測試裝置，用于測試帶有PCB天線的PCBA產(chǎn)品，其特征在于，包括：
設(shè)置在所述PCBA產(chǎn)品射頻電路上的特定測試電路；
測試工裝；所述測試工裝通過所述特定測試電路對所述PCBA產(chǎn)品射頻電路進(jìn)行測試；以及
用于產(chǎn)測的測試儀器；所述測試儀器通過測試電纜與測試工裝連接；
所述特定測試電路包括：MLCC電容、傳輸線以及測試點(diǎn)；所述MLCC電容第一端與被測射頻電路上靠近巴倫電路的50Ohm點(diǎn)連接；所述MLCC電容第二端通過所述傳輸線與所述測試點(diǎn)連接；
所述測試工裝上設(shè)有高頻測試針，所述高頻測試針與所述測試點(diǎn)連接，所述高頻測試針通過測試電纜與測試儀器連接；
所述傳輸線的長度小于工作信號中波長最短的信號所對應(yīng)波長的二十分之一。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB天線測試裝置，其特征在于，所述測試點(diǎn)為設(shè)置在所述PCBA產(chǎn)品射頻電路上的空貼焊盤。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB天線測試裝置，其特征在于，所述MLCC電容的容值根據(jù)電容自諧振頻率表進(jìn)行選取。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種PCB天線測試裝置，其特征在于，選取的MLCC電容的電容自諧振頻率大于工作信號最高頻率。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種PCB天線測試裝置，其特征在于，選取的MLCC電容的電容自諧振頻率與工作信號最高頻率的差值小于等于30MHz。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB天線測試裝置，其特征在于，所述MLCC電容選用0402封裝。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種PCB天線測試裝置，其特征在于，所述測試工裝的測試為信令測試。
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