[發(fā)明專利]一種CN薄膜的復(fù)合制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810560537.1 | 申請日: | 2018-06-04 |
| 公開(公告)號: | CN108754421A | 公開(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭壽;沈洪雪;姚婷婷;楊勇;李剛 | 申請(專利權(quán))人: | 中建材蚌埠玻璃工業(yè)設(shè)計(jì)研究院有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/06 | 分類號: | C23C14/06;C23C14/22;C23C14/35;C23C14/58 |
| 代理公司: | 安徽省蚌埠博源專利商標(biāo)事務(wù)所 34113 | 代理人: | 陳俊 |
| 地址: | 233010 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 離子束沉積 襯底 制備 磁控濺射設(shè)備 真空腔 清洗 復(fù)合 室內(nèi) 退火 襯底表面雜質(zhì) 磁控濺射 獨(dú)立控制 濺射靶材 退火過程 可控性 離子束 離子源 氣氛爐 石墨 油污 去除 配合 | ||
本發(fā)明公開一種CN薄膜的復(fù)合制備方法,包括以下步驟:S1、清洗襯底,去除襯底表面雜質(zhì)與油污;S2、采用磁控濺射設(shè)備與離子束沉積設(shè)備,清洗后的襯底先置于磁控濺射設(shè)備的真空腔室內(nèi),以石墨為濺射靶材,在襯底上制備C膜;S3、制備完C膜的襯底轉(zhuǎn)置于離子束沉積設(shè)備的真空腔室內(nèi),以N2為離子束的N+離子源,在C膜表面進(jìn)行離子束沉積,得到CN薄膜;S4、在N2氣氛爐中,以250℃對CN薄膜退火3小時(shí);磁控濺射與離子束沉積相互配合且各自獨(dú)立控制,互不影響,工藝簡單,可控性強(qiáng);退火過程有利于CN薄膜中未參與反應(yīng)的C、N離子進(jìn)一步反應(yīng),提高薄膜的結(jié)晶質(zhì)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種CN薄膜的復(fù)合制備方法。
背景技術(shù)
九十年代有科學(xué)家首次預(yù)言,可進(jìn)行人工合成自然界并不存在的化合物——氮化碳,其結(jié)構(gòu)與氮硅共價(jià)化合物相類似,其具有較大的聚合能和力學(xué)穩(wěn)定性。后來對CN結(jié)構(gòu)進(jìn)行推測,共計(jì)五種,即:α相、β 相、立方相、準(zhǔn)立方相和類石墨相,大量研究表明,除類石墨相外,其他相CN的體彈性模量理論值均可與金剛石相比擬,被認(rèn)為是一種新型的超硬材料,具有許多優(yōu)良性能,由此引起科學(xué)工作者的關(guān)注。經(jīng)過多年努力,理論與實(shí)驗(yàn)兩方面都得到了較大的發(fā)展,并合成了a-C3N4、B-C3N4,石墨相或CNX等。但目前的方法大多工藝復(fù)雜,可控性低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種CN薄膜的復(fù)合制備方法,該方法工藝簡單、可控性強(qiáng)、成膜幾率高、提高薄膜的結(jié)晶質(zhì)量。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
一種CN薄膜的復(fù)合制備方法,包括以下步驟:
S1、清洗襯底,去除襯底表面雜質(zhì)與油污;
S2、采用磁控濺射設(shè)備與離子束沉積設(shè)備,清洗后的襯底先置于磁控濺射設(shè)備的真空腔室內(nèi),以石墨為濺射靶材,在襯底上制備C膜;
S3、制備完C膜的襯底轉(zhuǎn)置于離子束沉積設(shè)備的真空腔室內(nèi),以N2為離子束的N+離子源,在C膜表面進(jìn)行離子束沉積,得到CN薄膜;
S4、在N2氣氛爐中,以250℃對CN薄膜退火3小時(shí)。
進(jìn)一步的,步驟S2磁控濺射時(shí)真空度為4.0*10-4Pa,濺射氣體Ar氣30sccm,工作氣壓0.5Pa,濺射功率150W,濺射時(shí)間30min。
進(jìn)一步的,步驟S1的襯底為單晶硅襯底。
本發(fā)明的有益效果是,磁控濺射與離子束沉積相互配合且各自獨(dú)立控制,互不影響,工藝簡單,可控性強(qiáng),離子束沉積時(shí)N+轟擊C膜,與C膜發(fā)生反應(yīng)得到CN薄膜,離子束沉積直接提高N+,減少N2的離化過程,提高成膜幾率;退火過程有利于CN薄膜中未參與反應(yīng)的C、N離子進(jìn)一步反應(yīng),提高薄膜的結(jié)晶質(zhì)量。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明提供一種CN薄膜的復(fù)合制備方法,包括以下步驟:
S1、清洗襯底,去除襯底表面雜質(zhì)與油污;襯底可采用單晶硅襯底;
S2、采用磁控濺射設(shè)備與離子束沉積設(shè)備,清洗后的襯底先置于磁控濺射設(shè)備的真空腔室內(nèi),以石墨為濺射靶材,在襯底上制備C膜;磁控濺射時(shí)真空度為4.0*10-4Pa,濺射氣體Ar氣30sccm,工作氣壓0.5Pa,濺射功率150W,濺射時(shí)間30min;
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C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
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C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
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C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
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