[發(fā)明專利]鍍層測量方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810558812.6
• 申請日: 2018-06-01
• 公開（公告）號: CN108895994B
• 公開（公告）日: 2021-03-02
• 發(fā)明（設計）人: 曹鴻章;陶興榮
• 申請（專利權）人: 北京核夕菁科技有限公司
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02
• 代理公司: 北京知果之信知識產(chǎn)權代理有限公司 11541
• 代理人: 唐海力;李志剛

本申請公開了一種鍍層測量方法和裝置。所述方法包括對完成鍍層基板的一測量線上同一點或兩個點分別發(fā)射第一射線和第二射線，分別接收穿過基板的第一射線和第二射線，確定第一射線的接收強度和第二射線的接收強度，其中，第一射線的發(fā)射強度和第二射線的發(fā)射強度不同，測量線垂直于基板的通長方向；根據(jù)第一射線的發(fā)射強度和接收強度以及第二射線的發(fā)射強度和接收強度，確定基板上測量線所在位置的鍍層厚度。本申請解決了現(xiàn)有技術中在帶鋼鍍層生產(chǎn)線上無法精確地確定測量鍍層厚度，無法及時驗證帶鋼的鍍層厚度是否符合標準的技術問題。

技術領域

本申請涉及測量技術領域，具體而言，涉及一種鍍層測量方法和裝置。

背景技術

目前，在熱鍍錫生產(chǎn)線等鍍層生產(chǎn)線上，衡量產(chǎn)品質量的一項重要技術指標就是鍍層厚度及其均勻性。鍍層偏厚會影響產(chǎn)品的電焊性、附著性，同時還造成了鍍層材料浪費；鍍層太薄則影響產(chǎn)品的抗腐蝕性。因此準確、快速測量鍍層板鍍層厚度至關重要，這就對鍍層厚度控制技術提出了很高的技術要求。要在帶鋼表面得到均勻穩(wěn)定的鍍層的先決條件就是能夠準確的在線測得鍍層厚度，才能向控制模塊提供有價值的輸入值，進而才有可能通過氣刀、擠壓輥等鍍層厚度控制設備對鍍層厚度進行有效控制。

目前，在熱鍍錫生產(chǎn)線上廣泛采用利用射線激發(fā)產(chǎn)生熒光的原理測量鍍層厚度的方法。該方法通過射線沿特定角度照射帶鋼基板上的鍍層材料，從而激發(fā)對應鍍層的熒光，根據(jù)熒光進行熒光光譜對比，可以得到帶鋼基板上的鍍層厚度。

在實現(xiàn)本申請實施例的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術至少存在以下問題：

現(xiàn)有技術中，通過采用熒光的鍍層測量方法，對探測器與帶鋼基板的角度偏差要求極其嚴格(角度偏差需要小于0.5°)，當符合該偏差要求時，測量準確度極高，但是帶鋼鍍層生產(chǎn)線上的帶鋼的張力較小，導致帶鋼震動幅度較大，鋼帶的扭轉震動角度也較大，根本無法保證探測器與帶鋼基板的角度偏差要求，從而導致在帶鋼鍍層生產(chǎn)線上無法精確地確定測量鍍層厚度，無法及時驗證帶鋼的鍍層厚度是否符合標準。

發(fā)明內容

本申請的主要目的在于提供一種鍍層測量方法和裝置，以解決在帶鋼鍍層生產(chǎn)線上無法精確地確定測量鍍層厚度，無法及時驗證帶鋼的鍍層厚度是否符合標準的問題。

為了實現(xiàn)上述目的，第一方面，本申請實施例提供的一種鍍層測量方法，包括：

對完成鍍層基板的一測量線上同一點或兩個點分別發(fā)射第一射線和第二射線，分別接收穿過基板的第一射線和第二射線，確定第一射線的接收強度和第二射線的接收強度，其中，第一射線的發(fā)射強度和第二射線的發(fā)射強度不同，測量線垂直于基板的通長方向；

根據(jù)第一射線的發(fā)射強度和接收強度以及第二射線的發(fā)射強度和接收強度，確定基板上測量線所在位置的鍍層厚度。

可選地，根據(jù)第一射線的發(fā)射強度和接收強度以及第二射線的發(fā)射強度和接收強度，確定基板上測量線所在位置的鍍層厚度，包括：

通過基于物質對射線的吸收規(guī)律公式構建的鍍層厚度運算方程確定測量位置上的鍍層厚度，其中，第一射線的發(fā)射強度和接收強度、第二射線的發(fā)射強度和接收強度、基板材料分別對第一射線和第二射線的吸收系數(shù)以及鍍層材料分別對第一射線和第二射線的吸收系數(shù)數(shù)作為鍍層厚度運算方程的計算因子。

可選地，通過基于物質對射線的吸收規(guī)律公式構建的鍍層厚度運算方程確定測量位置上的鍍層厚度，包括通過以下公式確定鍍層厚度：