[發(fā)明專利]吸附載臺及光刻設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810555715.1 | 申請日: | 2018-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN110554573B | 公開(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 魏銀雷;廖飛紅 | 申請(專利權(quán))人: | 上海微電子裝備(集團)股份有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20 |
| 代理公司: | 上海思捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31295 | 代理人: | 王宏婧 |
| 地址: | 201203 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 吸附 光刻 設(shè)備 | ||
本發(fā)明提供了一種吸附載臺及光刻設(shè)備,所述吸附載臺中的多個子調(diào)平制動單元中每個子調(diào)平致動單元包括至少三個壓電致動器。基于本發(fā)明中至少三個壓電致動器中的三個壓電致動器調(diào)平每個子吸附平臺單元,從而使得吸附面的面型符合測試需求;還可以額外增加壓電致動器,以調(diào)整單個子吸附平臺單元在中間出現(xiàn)整體的突起或凹陷的問題,從而有效提高單個子吸附平臺單元的平面度,有效提高吸附面的調(diào)平精度,從而提高平面器件的產(chǎn)品成像質(zhì)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種吸附載臺及光刻設(shè)備。
背景技術(shù)
光刻設(shè)備是一種通過光刻裝置將圖案成像在目標物料上的設(shè)備,可用于液晶面板的制造等,工作過程中,物料被吸附固定,被吸附后的物料平面度直接決定著成像的質(zhì)量。
傳統(tǒng)光刻設(shè)備中,放置物料被吸盤所吸附固定,通常的吸盤主要是整體式,物料被吸附后面型無法調(diào)整。隨著大世代工件臺的出現(xiàn),所需吸盤的尺寸越來越大,做成整體式幾乎無法實現(xiàn),因此解決方案是將吸盤劃分成多個子吸附單元,裝配后對整體進行研磨使吸盤面型達標。但在實際使用過程中,當吸盤吸附物料面型不達標,再次調(diào)整面型需要對吸盤重新研磨,工作量較大。
針對現(xiàn)有技術(shù)中吸盤存在的不足,本領(lǐng)域技術(shù)人員一直在尋找解決的方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種吸附載臺,以彌補現(xiàn)有吸盤的不足。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種吸附載臺,所述吸附載臺包括:
多個子吸附平臺單元,共同拼接構(gòu)成吸附面以吸附平面器件;
多個子調(diào)平致動單元,每個子調(diào)平致動單元對應(yīng)設(shè)置于一子吸附平臺單元的下方,每個子調(diào)平致動單元包括至少三個壓電致動器;以及
平臺面型測量單元,用于測量每個子吸附平臺單元和/或所述平面器件的平面度,并將測量的結(jié)果反饋給所述多個子調(diào)平致動單元。
可選的,在所述的吸附載臺中,每個子調(diào)平致動單元包括三個壓電致動器,三個壓電致動器呈三角形分布。
可選的,在所述的吸附載臺中,每個子調(diào)平致動單元包括四個壓電致動器,其中三個壓電致動器呈三角形分布,剩余一個壓電致動器位于所述三角形的對稱中心。
可選的,在所述的吸附載臺中,所述壓電致動器為壓電陶瓷驅(qū)動器。
可選的,在所述的吸附載臺中,所述子調(diào)平致動單元還包括與至少三個壓電致動器連接的控制器。
可選的,在所述的吸附載臺中,所述子吸附平臺單元包括多孔陶瓷吸盤。
可選的,在所述的吸附載臺中,所述子吸附平臺單元還包括與多孔陶瓷吸盤連接的負壓源。
可選的,在所述的吸附載臺中,所述平面器件為玻璃基板。
本發(fā)明還提供一種光刻設(shè)備,所述光刻設(shè)備包括照明單元、掩模臺分系統(tǒng)、投影物鏡分系統(tǒng)、工件臺分系統(tǒng)、對準分系統(tǒng)、調(diào)焦調(diào)平分系統(tǒng)以及整機控制分系統(tǒng),所述工件臺分系統(tǒng)采用如上所述的吸附載臺吸附待曝光對象。
可選的,在所述的光刻設(shè)備中,所述調(diào)焦調(diào)平分系統(tǒng)包括調(diào)焦調(diào)平傳感器,所述調(diào)焦調(diào)平傳感器作為所述吸附載臺中的平臺面型測量單元,測量每個子吸附平臺單元和/或所述平面器件的平面度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海微電子裝備(集團)股份有限公司,未經(jīng)上海微電子裝備(集團)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810555715.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F7-00 圖紋面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工藝;圖紋面照相制版用的材料,如:含光致抗蝕劑的材料;圖紋面照相制版的專用設(shè)備
G03F7-004 .感光材料
G03F7-12 .網(wǎng)屏印刷模或類似印刷模的制作,例如,鏤花模版的制作
G03F7-14 .珂羅版印刷模的制作
G03F7-16 .涂層處理及其設(shè)備
G03F7-20 .曝光及其設(shè)備
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





