[發明專利]一種位置解析度測量方法及裝置

有效

• 申請號: 201810543090.7
• 申請日: 2018-05-30
• 公開（公告）號: CN108762567B
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 林行;周敬禹;嚴木彬;洪致宏;張哲明
• 申請（專利權）人: 北京硬殼科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京尚倫律師事務所 11477
• 代理人: 劉超

本發明公開了一種位置解析度測量方法及裝置，應用于電容式觸控面板，所述電容式觸控面板包括單層電極層；所述單層電極層包括多個感應單元；所述方法包括：確定所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點，作為預設測量點；分別獲取觸控物在每個預設測量點觸控時所述觸控面板的自感電容值組；所述自感電容值組包括所述觸控面板中各個感應單元的自感電容值；根據各個預設測量點對應的自感電容值組之間的電容變化量，以及各個預設測量點之間的間距，確定所述觸控面板的位置解析度。通過該技術方案，可以測量觸控面板的位置解析度，以便于根據觸控面板的位置解析度進行對應的觸控操作，減少無效操作。

技術領域

本發明涉及懸浮觸控技術領域，特別涉及一種位置解析度測量方法及裝置。

背景技術

手勢感應，也稱，免觸碰科技，主要是通過電子設備上的各種傳感器感應處理用戶的操作手勢，來完成一系列的操控。實現手勢感應的一項重要技術就是懸浮觸控技術。

懸浮觸控技術是通過電容式觸控裝置來檢測用戶在觸控面板上執行觸控操作時的觸控位置。電容式觸控裝置通過其觸控面板上各個感應單元的電容變化進行工作。當有觸控物(如手指)靠近觸控面板時，觸控物所在位置對應的感應單元的電容會發生變化，故通過檢測各個感應單元的電容變化，即可確定觸控物所在位置，即上述觸控位置。如果觸控物的實際位移發生在同一個感應單元內，則相對于位移前，觸控面板內各感應單元的電容不會發生變化或者變化很小，導致該位置變化難以被檢測出來，也就無法響應相應的觸控操作，使得觸控操作無效。

因此，為減少無效觸控操作，有必要預先測量觸控面板可以檢測出的最小位移，即該觸控面板的位置解析度。

發明內容

本發明提供一種位置解析度測量方法及裝置，用以實現測量觸控面板的位置解析度，以便于根據觸控面板的位置解析度進行對應的觸控操作。

本發明第一方面提供一種位置解析度測量方法，應用于電容式觸控面板，所述電容式觸控面板包括單層電極層；所述單層電極層包括多個感應單元；

所述方法包括：

確定所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點，作為預設測量點；

分別獲取觸控物在每個預設測量點觸控時所述觸控面板的自感電容值組；所述自感電容值組包括所述觸控面板中各個感應單元的自感電容值；

根據各個預設測量點對應的自感電容值組之間的電容變化量，以及各個預設測量點之間的間距，確定所述觸控面板的位置解析度。

在該實施例中，可以在觸控面板的感應區域內確定間距不完全相同的多個可觸控點，作為預設測量點，繼而獲取每個預設測量點被觸控物觸按時觸控面板上各個感應單元的自感電容值，根據預設測量點之間的電容變化量確定出觸控面板的位置解析度，這樣，預先測量觸控面板的位置解析度，便于后續根據觸控面板的位置解析度進行觸控操作。

可選的，所述根據各個預設測量點對應的自感電容值組之間的電容變化量，以及各個預設測量點之間的間距，確定所述觸控面板的位置解析度，包括：

獲取所有電容變化量大于預設閾值的兩個預設測量點之間的間距值；

根據所有所述間距值中的最小間距值，確定所述觸控面板的位置解析度。

在該實施例中，觸控面板的位置解析度即觸控面板可以檢測到的最小位移，因此，根據所有電容變化量大于預設閾值的兩個預設觸控點之間的最小間距值，就可以確定觸控面板的位置解析度。

可選的，所述單層電極層包括呈矩陣式排列的多個電極板，每個電極板為一個感應單元，或者，滿足目標尺寸參數的多個相鄰電極板互相短路形成一個感應單元。

可選的，所述方法還包括：

獲取多個目標尺寸參數；