[發明專利]一種位置解析度測量方法及裝置

有效

• 申請號: 201810543090.7
• 申請日: 2018-05-30
• 公開（公告）號: CN108762567B
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 林行;周敬禹;嚴木彬;洪致宏;張哲明
• 申請（專利權）人: 北京硬殼科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京尚倫律師事務所 11477
• 代理人: 劉超

1.一種位置解析度測量方法，其特征在于，應用于電容式觸控面板，所述電容式觸控面板包括單層電極層；所述單層電極層包括多個感應單元；

所述方法包括：

確定所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點，作為預設測量點；

分別獲取觸控物在每個預設測量點觸控時所述觸控面板的自感電容值組；所述自感電容值組包括所述觸控面板中各個感應單元的自感電容值；

根據各個預設測量點對應的自感電容值組之間的電容變化量，以及各個預設測量點之間的間距，確定所述觸控面板的位置解析度，所述觸控面板的位置解析度即所述觸控面板可檢測到的最小位移。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據各個預設測量點對應的自感電容值組之間的電容變化量，以及各個預設測量點之間的間距，確定所述觸控面板的位置解析度，包括：

獲取所有電容變化量大于預設閾值的兩個預設測量點之間的間距值；

根據所有所述間距值中的最小間距值，確定所述觸控面板的位置解析度。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述單層電極層包括呈矩陣式排列的多個電極板，每個電極板為一個感應單元，或者，滿足目標尺寸參數的多個相鄰電極板互相短路形成一個感應單元。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取多個目標尺寸參數；

所述確定所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點，作為預設測量點，包括：

分別針對每個目標尺寸參數確定一個預設測量點組；其中，所述預設測量點組包括相應目標尺寸參數下所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點；

所述確定所述觸控面板的位置解析度，包括：

確定各個目標尺寸參數對應的所述觸控面板的第一位置解析度。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

將各個目標尺寸參數和與其對應的所述觸控面板的第一位置解析度進行關聯存儲。

6.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取多個預設懸浮觸控高度；

所述確定所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點，作為預設測量點，包括：

分別針對每個預設懸浮觸控高度確定一個預設測量點組；其中，所述預設測量點組包括相應預設懸浮觸控高度下所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點；

所述確定所述觸控面板的位置解析度，包括：

確定各個所述預設懸浮觸控高度對應的所述觸控面板的第二位置解析度。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

將各個所述預設懸浮觸控高度和與其對應的所述觸控面板的第二位置解析度進行關聯存儲。

8.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取多個預設懸浮觸控高度和多個目標尺寸參數；

所述確定所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點，作為預設測量點，包括：

分別針對每個預設懸浮觸控高度下的每個目標尺寸參數，確定一個預設測量點組；其中，所述預設測量點組包括相應預設懸浮觸控高度及目標尺寸參數下所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點；

所述確定所述觸控面板的位置解析度，包括：

確定各個所述預設懸浮觸控高度和目標尺寸參數對應的所述觸控面板的第三位置解析度。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

將所述預設懸浮觸控高度、所述目標尺寸參數和對應的所述觸控面板的第三位置解析度進行關聯存儲。

10.一種位置解析度測量裝置，其特征在于，應用于電容式觸控面板，所述電容式觸控面板包括單層電極層；所述單層電極層包括多個感應單元；

所述裝置包括：

處理器；

用于存儲處理器可執行指令的存儲器；

其中，所述處理器被配置為：

確定所述觸控面板的感應區域內間距不完全相同的多個可觸控點，作為預設測量點；

分別獲取觸控物在每個預設測量點觸控時所述觸控面板的自感電容值組；所述自感電容值組包括所述觸控面板中各個感應單元的自感電容值；

根據各個預設測量點對應的自感電容值組之間的電容變化量，以及各個預設測量點之間的間距，確定所述觸控面板的位置解析度，所述觸控面板的位置解析度即所述觸控面板可檢測到的最小位移。