[發明專利]校準系統、校準方法和流體涂布裝置

有效

• 申請號: 201810540133.6
• 申請日: 2018-05-30
• 公開（公告）號: CN109013188B
• 公開（公告）日: 2021-05-04
• 發明（設計）人: 郜福亮;陳鵬;苗虎;張俊杰
• 申請（專利權）人: 常州銘賽機器人科技股份有限公司
• 主分類號: B05C5/02
• 分類號: B05C5/02;B05B15/52
• 代理公司: 常州至善至誠專利代理事務所(普通合伙) 32409
• 代理人: 蔡興兵

1.一種校準系統的校準方法，用于對校準系統的膠頭位置、清膠位置和稱重位置進行校準及用于校準系統更換膠頭裝置后的自動校準，其特征在于，所述校準方法包括：

S1、通過標定相機和膠頭坐標位置的配合以校準所述膠頭在水平方向的位置；

S2、通過激光測高傳感器與對刀儀相配合以校準所述膠頭在豎直方向的位置；

S3、通過所述膠頭或所述標定相機與清膠裝置相配合以校準所述清膠位置；

S4、通過所述膠頭或所述標定相機與稱重裝置相配合以校準所述稱重位置；

S5、通過完成所述S1、所述S2、所述S3和所述S4后，實現更換膠頭裝置后的自動校準；

所述S5包括：

S51、保存所述S1、所述S2、所述S3和所述S4的數據信息；

S52、將針頭自動移至所述對刀儀的上方，并以1個脈沖/秒-10個脈沖/秒的速度向下移動，獲取所述針頭的豎直方向的軸坐標H1；

S53、針頭根據所述S2中校準后的高度，自動移至所述對刀儀上方，并根據設置的出膠速度出膠；

S54：所述標定相機自動移至所述對刀儀上方，獲取所述標定相機的坐標值，計算所述標定相機的坐標值的偏差。

2.根據權利要求1所述的校準系統的校準方法，其特征在于，所述S1包括：

S11、將所述膠頭移動至所述對刀儀上端面圓心中間并點或噴一個膠點；

S12、將所述標定相機移動至所述膠點的中心并計算出所述膠頭相對所述標定相機的水平方向的坐標位置。

3.根據權利要求2所述的校準系統的校準方法，其特征在于，所述S2包括：

S21、在陶瓷板上設置所述激光測高傳感器的探測位置，并將所述激光測高傳感器初始值調整為零；

S22、移動所述激光測高傳感器的位置，獲取所述激光測高傳感器探測的不同邊緣點的坐標數據并計算出所述激光測高傳感器所探測的目標點的位置；

S23、將所述標定相機的中心移動到所述探測位置處，計算出所述標定相機與所述激光測高傳感器的位置關系。

4.根據權利要求2所述的校準系統的校準方法，其特征在于，所述S2包括：

S21’、將所述激光測高傳感器移動至點膠位置，并將所述激光測高傳感器初始值調整為零，記錄所述膠頭豎直方向的坐標Z1；

S22’、將針頭移至所述對刀儀的上方，并自動執行對刀操作，記錄所述針頭接觸所述對刀儀時的豎直方向的軸坐標Z2；

S23’、將所述激光測高傳感器以Z1高度自動移至對刀儀位置，讀取并記錄此時所述激光測高傳感器的數值D1，

S24’、設置針頭距離點膠表面的高度D2，并由Z2、D1和D2計算出實際點膠高度。

5.根據權利要求1所述的校準系統的校準方法，其特征在于，所述S3包括：

S31、將所述膠頭或所述標定相機的中心分別移至吸盤、集膠量杯和噴嘴的中心；

S32、記錄所述膠頭或所述標定相機分別在所述吸盤、所述集膠量杯和所述噴嘴的中心的坐標位置，完成清膠位置的標定。

6.根據權利要求1所述的校準系統的校準方法，其特征在于，所述S4包括：

S41、將所述膠頭或所述標定相機的中心移至防風蓋的面板中心；

S42、記錄所述膠頭或所述標定相機在所述防風蓋的面板中心的坐標位置，完成稱重位置的標定。

7.一種校準系統，其特征在于，所述校準系統為實施權利要求1-6中任一項校準方法的校準系統；

包括：軌道基板；

膠頭位置校準裝置，所述膠頭位置校準裝置設在所述軌道基板上，所述膠頭位置校準裝置用于對待測工件在水平方向和豎直方向的位置進行校準；

清膠裝置，所述清膠裝置與所述膠頭位置校準裝置相連，所述清膠裝置用以校準所述待測工件的清膠位置；

稱重裝置，所述稱重裝置與所述膠頭位置校準裝置相配合以安裝在所述軌道基板上，所述稱重裝置用以校準所述待測工件的稱重位置。