[發明專利]一種ICT測試儀

在審

• 申請號: 201810525048.2
• 申請日: 2018-05-28
• 公開（公告）號: CN108469583A
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發明（設計）人: 郭松山;解偉;趙冰清;李文濤;顧岳峰;李振宇
• 申請（專利權）人: 格力電器（鄭州）有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 朱靜謙

本發明公開一種ICT測試儀，包括天板，受驅動地朝向電路板的元件面移動；電氣元件引腳測試機構，設置在天板上，用于測試引腳位于元件面上的電氣元件是否可以正常使用；電解電容插反測試機構，設置在天板上，用于測試元件面上的電解電容是否插反；針座插反測試機構，設置在天板上，用于測試元件面上待測試的針座是否插反。通過將電氣元件引腳測試機構、電解電容插反測試機構和針座插反測試機構同時設置在天板上，解決的技術問題在于現有技術中的ICT測試儀的天板測試功能性單一，缺乏對位于電路板元件面上電氣元件的全面檢查，無法同時檢查位于電路板元件面上不同電氣元件是否插反的問題。

技術領域

本發明涉及測試治具技術領域，具體涉及一種用于檢測電路板的ICT測試儀。

背景技術

隨著電子技術的不斷發展，電子產品正不斷豐富著我們的生活，而電路板作為其中最重要的部分，其好壞關系著產品本身的性能及質量。為了保證電路板質量就需要ICT測試儀對電路板進行測試，ICT是一種高精度的電子元器件性能檢測設備，其原理就相當于一個大型的萬用表，利用探針與元件的測試點導通來采集電參數，然后通過軟件的處理，來實現故障測試可控。現有的ICT測試儀主要通過設置在針板上的探針對電路板的引腳面進行檢測，缺乏針對于電路板的元件面的檢測，ICT測試儀的測試功能單一。

為了有效的對電路板的元件面進行檢測，現有技術中如中國專利文獻CN203965580U,如圖7所示，公開了一種用于檢測電路板插接件的ICT測試治具，包括天板101、載板102及針板103，還包括，上探針104，設于所述天板101下表面，與放置在所述載板102上的電路板的插接件引腳相對應；下探針105，設于所述針板103下表面，與設于所述載板102上的通孔相對應；當所述天板101下壓時，所述下探針105穿過所述載板102上的通孔與電路板焊點接觸，所述上探針104與電路板上的插接件引腳接觸，從而觸發信號。

上述ICT測試治具在天板上設置上探針可以對位于電路板元件面上的引腳進行測試，但是其天板測試功能性單一，天板無法同時檢測位于PCB板元件面上的電解電容以及針座是否出現漏插或插反的問題，缺乏對位于電路板元件面上電氣元件的全面檢查。

發明內容

因此，本發明所要解決的技術問題在于現有技術中的ICT測試儀的天板測試功能性單一，缺乏對位于電路板元件面上電氣元件的全面檢查，無法同時檢查位于電路板元件面上不同電氣元件是否插反的問題。為此，本發明提供一種ICT測試儀，包括

天板，受驅動地朝向所述電路板的元件面移動；

電氣元件引腳測試機構，設置在所述天板上，用于測試引腳位于所述元件面上的電氣元件是否可以正常使用；

電解電容插反測試機構，設置在所述天板上，用于測試所述元件面上的電解電容是否插反；

針座插反測試機構，設置在所述天板上，用于測試所述元件面上待測試的針座是否插反。

所述電解電容插反測試機構包括受所述天板驅動與位于所述電路板元件面上的電解電容外殼電連接的第一探針以及分別與所述第一探針、所述電解電容的正極端和所述電解電容的負極端電連接的第一測試電路，所述第一測試電路測量所述第一探針和所述電解電容的正極之間的電阻值以及所述第一探針和所述電解電容的負極之間的電阻值。

所述電解電容插反測試機構還包括信號處理模塊，所述信號處理模塊接收所述第一測試電路測得的電阻值與預設電阻值進行比較，判斷所述電解電容是否插反。

所述第一測試電路包括：電阻表，分別測量所述第一探針和所述電解電容的正極之間的電阻值以及所述第一探針和所述電解電容的負極之間的電阻值。

所述天板上還設有用于固定所述電路板的定位件，所述定位件朝向所述電路板元件面的一端具有面積大于所述定位件橫截面積的壓頭。