[發明專利]一種ICT測試儀

在審

• 申請號: 201810525048.2
• 申請日: 2018-05-28
• 公開（公告）號: CN108469583A
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發明（設計）人: 郭松山;解偉;趙冰清;李文濤;顧岳峰;李振宇
• 申請（專利權）人: 格力電器（鄭州）有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 朱靜謙

1.一種ICT測試儀，其特征在于，包括

天板(1)，受驅動地朝向電路板(2)的元件面移動；

電氣元件引腳測試機構(3)，設置在所述天板(1)上，用于測試引腳(5)位于所述元件面上的電氣元件(4)是否可以正常使用；

電解電容插反測試機構(7)，設置在所述天板(1)上，用于測試所述元件面上的電解電容(8)是否插反；

針座插反測試機構(12)，設置在所述天板(1)上，用于測試所述元件面上待測試的針座(13)是否插反。

2.根據權利要求1所述的ICT測試儀，其特征在于，所述電解電容插反測試機構(7)包括受所述天板(1)驅動與位于所述電路板(2)元件面上的電解電容(8)外殼電連接的第一探針(9)以及分別與所述第一探針(9)、所述電解電容(8)的正極端(10)和所述電解電容(8)的負極端(11)電連接的第一測試電路，所述第一測試電路測量所述第一探針(9)和所述電解電容(8)的正極之間的電阻值以及所述第一探針(9)和所述電解電容(8)的負極之間的電阻值。

3.根據權利要求1或2所述的ICT測試儀，其特征在于，所述電解電容插反測試機構(7)還包括信號處理模塊，所述信號處理模塊接收所述第一測試電路測得的電阻值與預設電阻值進行比較，判斷所述電解電容(8)是否插反。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的針座插反測試裝置，其特征在于，所述第一測試電路包括：電阻表，分別測量所述第一探針(9)和所述電解電容(8)的正極之間的電阻值以及所述第一探針(9)和所述電解電容(8)的負極之間的電阻值。

5.根據權利要求1所述的ICT測試儀，其特征在于，所述天板(1)上還設有用于固定所述電路板(2)的定位件(18)，所述定位件(18)朝向所述電路板(2)元件面的一端具有面積大于所述定位件(18)橫截面積的壓頭(19)。

6.根據權利要求1所述的ICT測試儀，其特征在于，所述待測試的針座(13)具有一定高度差的上臺階(14)和下臺階(15)，所述針座插反測試機構(12)包括開關型壓件和第二測試電路，所述開關型壓件包括第一導電件(16)和第二導電件(17)，所述開關型壓件具有抵壓在所述下臺階(15)、所述第一導電件(16)和所述第二導電件(17)分離的斷開狀態，和抵壓在所述上臺階(14)、所述第一導電件(16)和所述第二導電件(17)導通的導通狀態；所述第二測試電路的第一端電連接所述第一導電件(16)，第二端電連接所述第二導電件(17)，測量所述開關型壓件處于所述導通狀態和所述斷開狀態時所述第一端和所述第二端之間的電阻值。

7.根據權利要求6所述的ICT測試儀，其特征在于，所述開關型壓件還包括向所述第一導電件(16)和/或第二導電件(17)施加使其二者分離的偏壓力的偏壓件(20)，所述開關型壓件抵壓所述上臺階(14)通過克服所述偏壓力使所述第一導電件(16)和所述第二導電件(17)導通。

8.根據權利要求6所述的ICT測試儀，其特征在于，所述開關型壓件處于所述導通狀態時所述第一端和所述第二端之間的電阻值趨近于0。

9.根據權利要求6所述的針座插反測試裝置，其特征在于，所述第二測試電路包括電阻表(21)，所述電阻表(21)上設有與所述第一端和所述第二端二者其一相連的正極導線(22)，以及與所述第一端和所述第二端二者另一相連的負極導線(23)。

10.根據權利要求1所述的ICT測試儀，其特征在于，所述電氣元件引腳測試機構(3)包括與設置在所述元件面上所述電氣元件(4)的引腳(5)相對應的第二探針(6)，所述第二探針(6)受所述天板(1)驅動與所述引腳(5)相連。