[發明專利]一種基于側視相機拍攝的表面損傷缺陷檢測裝置及方法有效
| 申請號: | 201810507932.3 | 申請日: | 2018-05-24 |
| 公開(公告)號: | CN108760765B | 公開(公告)日: | 2021-12-07 |
| 發明(設計)人: | 洪志坤;張勝森;歐昌東;鄭增強 | 申請(專利權)人: | 武漢精測電子集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95 |
| 代理公司: | 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 趙偉 |
| 地址: | 430070 湖北省武漢*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 側視 相機 拍攝 表面 損傷 缺陷 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種基于側視相機拍攝的表面損傷缺陷檢測裝置,其特征在于,包括位置調節機構和中心控制器,還包括設置在位于待測顯示屏一側的所述位置調節機構上的一個相機和一個條形光源;所述相機和位置調節機構通過控制線纜與中心控制器相連;
所述相機和條形光源位于待測顯示屏的同一側,條形光源水平放置,相機的設置位置高于條形光源且相機與待測顯示屏之間具有設定的拍攝角度;
所述中心控制器根據待測顯示屏和相機鏡頭的參數信息生成相機的位置信息,并根據所述位置信息生成第一調節信號;所述位置調節機構根據所述第一調節信號調節相機位置,以使相機的位置與中心控制器生成的位置信息相匹配;
所述中心控制器還用于將相機采集的顯示屏的表面圖像劃分為若干個區域并分別計算每個區域的亮度值,根據每個區域的亮度值計算表面圖像的平均亮度值;并分別計算各區域的亮度值與所述平均亮度值的偏差,將所述偏差大于設定的偏差閾值的區域判定為亮度不均勻區域并計算其坐標信息,根據所述坐標信息生成第二調節信號;所述位置調節機構根據所述第二調節信號調節條形光源的位置,直至相機拍攝的顯示屏表面圖像的畫面亮度均勻;并用于對相機采集的顯示屏的表面圖像進行缺陷檢測,得到表面缺陷的個數以及各缺陷對應的坐標位置。
2.如權利要求1所述的表面損傷缺陷檢測裝置,其特征在于,所述位置調節機構包括活動位移臺,以及架設于所述活動位移臺上的第一支撐機構和第二支撐機構;
所述活動位移臺根據中心控制器發出的第一調節信號控制所述第一支撐機構移動,以調節設置在第一支撐機構上的相機的位置;并根據中心控制器發出的第二調節信號控制所述第二支撐機構移動,以調節設置在第二支撐機構上的條形光源的位置。
3.如權利要求1所述的表面損傷缺陷檢測裝置,其特征在于,所述中心控制器包括參數設置單元、計算單元、電控調節單元、圖像采集單元和圖像處理單元;
所述參數設置單元用于獲取待測顯示屏和相機鏡頭的參數信息,所述參數信息包括待測的顯示屏的尺寸大小、相機的靶面大小和鏡頭焦距;
所述計算單元用于根據所述參數信息計算得到相機與顯示屏中心的工作距離;并用于根據所述工作距離和設定的拍攝角度,計算相機的高度以及與顯示屏側邊的距離;
所述電控調節單元用于根據相機的高度以及與顯示屏側邊的距離信息生成第一調節信號,所述第一調節信號用于指示位置調節機構調整相機位置;
所述圖像采集單元用于生成采集信號并獲取相機在所述采集信號的指示下拍攝的顯示屏的表面圖像;
所述圖像處理單元用于對所述表面圖像進行亮度均勻性檢測,并判斷畫面亮度是否均勻;若是,則反饋正確信息給圖像采集單元;若否,則計算亮度不均勻區域的坐標信息;并根據所述坐標信息生成條形光源的位置調節信息;
所述電控調節單元還用于根據所述位置調節信息生成第二調節信號;所述第二調節信號用于指示位置調節機構調整條形光源的位置;
所述圖像采集單元還用于在接收到圖像處理單元反饋的正確信息后控制相機拍攝顯示屏的表面圖像;所述圖像處理單元還用于對圖像采集單元獲取的表面圖像進行缺陷檢測,得到表面缺陷的個數以及各缺陷對應的坐標位置。
4.如權利要求3所述的表面損傷缺陷檢測裝置,其特征在于,所述中心控制器還包括顯示單元,所述顯示單元用于對圖像處理單元生成的表面圖像、缺陷個數和各缺陷對應的坐標位置進行可視化呈現。
5.如權利要求1或3所述的表面損傷缺陷檢測裝置,其特征在于,所述拍攝角度為大于30度小于45度。
6.如權利要求3或4所述的表面損傷缺陷檢測裝置,其特征在于,還包括與中心控制器通過控制線纜相連的傳送載臺,所述中心控制器還包括傳送控制單元;
所述傳送載臺用于承載待檢測的顯示屏,并用于在所述傳送控制單元的信號控制下將顯示屏傳送到指定的檢測位置。
7.如權利要求2所述的表面損傷缺陷檢測裝置,其特征在于,所述第一支撐機構包括第一支桿,所述第一支桿垂直設置在活動位移臺上,相機固定在第一支桿的頂端;
所述第二支撐機構包括垂直設置在活動位移臺上的第二支桿,條形光源設置在所述第二支桿的頂端。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于武漢精測電子集團股份有限公司,未經武漢精測電子集團股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810507932.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





