[發(fā)明專利]基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810490862.5
• 申請(qǐng)日: 2018-05-21
• 公開（公告）號(hào): CN110514152A
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮消冰;黃遠(yuǎn)征;韓濤;易偉強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京博清科技有限公司;北京諾士誠(chéng)國(guó)際工程項(xiàng)目管理有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/30
• 分類號(hào): G01B11/30
• 代理公司: 11004 北京中建聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)
• 代理人: 宋元松<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入

1.一種基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：

將激光測(cè)量裝置對(duì)準(zhǔn)房間的墻面，以預(yù)設(shè)的測(cè)量分辨率對(duì)墻面進(jìn)行打點(diǎn)檢測(cè)；

所述激光測(cè)量裝置獲取墻面檢測(cè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述空間坐標(biāo)數(shù)據(jù)計(jì)算得到所述檢測(cè)點(diǎn)的墻面平整偏差值，判斷所述墻面平整偏差值是否超過預(yù)設(shè)范圍值；

若是，則對(duì)所述檢測(cè)點(diǎn)標(biāo)記為不合格點(diǎn)；若否，則通過激光測(cè)量裝置按照預(yù)設(shè)的掃描方式對(duì)房間墻面的下一檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行打點(diǎn)檢測(cè)，直至完成房間所有墻面的平整度檢測(cè)。

2.如權(quán)利要求1所述的基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述將激光測(cè)量裝置對(duì)準(zhǔn)房間的墻面的步驟之前還包括：

將激光測(cè)量裝置放置于房間內(nèi)預(yù)設(shè)位置，并進(jìn)行初始化。

3.如權(quán)利要求2所述的基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述空間坐標(biāo)數(shù)據(jù)計(jì)算得到所述檢測(cè)點(diǎn)的墻面平整偏差值的步驟具體包括：

所述激光測(cè)量裝置根據(jù)以下公式進(jìn)行計(jì)算得到所述檢測(cè)點(diǎn)的墻面平整偏差值：

其中，M為檢測(cè)墻面的平整偏差值，X，Y為所述檢測(cè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，所述空間坐標(biāo)系的原點(diǎn)為激光測(cè)量裝置所在的位置；Z為所述檢測(cè)點(diǎn)到原點(diǎn)的距離；Z₀為激光測(cè)量裝置原點(diǎn)到檢測(cè)墻面的垂直距離。

4.如權(quán)利要求3所述的基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)范圍值為-2mm到2mm。

5.如權(quán)利要求4所述的基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)所述檢測(cè)點(diǎn)標(biāo)記為不合格點(diǎn)的步驟包括：

所述激光測(cè)量裝置提示所述檢測(cè)點(diǎn)不合格，并通過人工由對(duì)所述檢測(cè)點(diǎn)標(biāo)記為不合格點(diǎn)。

6.如權(quán)利要求1所述的基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述通過激光測(cè)量裝置按照預(yù)設(shè)的掃描方式對(duì)房間墻面的下一檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行打點(diǎn)檢測(cè)的步驟包括：

所述激光測(cè)量裝置采用從左至右，從上至下的方式對(duì)房間的側(cè)墻面進(jìn)行打點(diǎn)檢測(cè)。

7.如權(quán)利要求1所述的基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述通過激光測(cè)量裝置按照預(yù)設(shè)的掃描方式對(duì)房間墻面的下一檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行打點(diǎn)檢測(cè)的步驟包括：

所述激光測(cè)量裝置采用以激光測(cè)量裝置位置為中心點(diǎn)的，沿對(duì)角線方向形成扇面的方式對(duì)房頂墻面進(jìn)行打點(diǎn)檢測(cè)。

8.一種基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：

激光打點(diǎn)單元，用于以預(yù)設(shè)的測(cè)量分辨率對(duì)墻面進(jìn)行打點(diǎn)檢測(cè)；

數(shù)據(jù)采集單元，用于獲取墻面檢測(cè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)數(shù)據(jù)；

計(jì)算單元，用于根據(jù)所述空間坐標(biāo)數(shù)據(jù)計(jì)算得到所述檢測(cè)點(diǎn)的墻面平整偏差值；

判斷單元，用于判斷所述墻面平整偏差值是否超過預(yù)設(shè)范圍值；

標(biāo)記單元，用于在對(duì)判斷所述墻面平整偏差值超過預(yù)設(shè)范圍值的情況下，將所述檢測(cè)點(diǎn)標(biāo)記為不合格點(diǎn)。

9.如權(quán)利要求8所述的基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述激光測(cè)量裝置根據(jù)以下公式進(jìn)行計(jì)算得到所述檢測(cè)點(diǎn)的墻面平整偏差值：

其中，M為檢測(cè)墻面的平整偏差值，X，Y為所述檢測(cè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，所述空間坐標(biāo)系的原點(diǎn)為激光測(cè)量裝置所在的位置；Z為所述檢測(cè)點(diǎn)到原點(diǎn)的距離；Z₀為激光測(cè)量裝置原點(diǎn)到檢測(cè)墻面的垂直距離。

10.如權(quán)利要求8所述的基于激光掃描的墻面平整度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述預(yù)設(shè)范圍值為-2mm到2mm。