[發(fā)明專利]一種芯片故障自診斷方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810485931.3 | 申請日： | 2018-05-21 |
| 公開（公告）號： | CN108878400A | 公開（公告）日： | 2018-11-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 阮曉萍 | 申請（專利權(quán)）人： | 阮曉萍 |
| 主分類號： | H01L23/544 | 分類號： | H01L23/544 |
| 代理公司： | 南京鼎傲知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32327 | 代理人： | 郭元聰 |
| 地址： | 215400 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 系統(tǒng)主控芯片 監(jiān)測芯片 芯片 故障芯片 監(jiān)測狀態(tài) 芯片故障 自動監(jiān)測 自診斷 芯片發(fā)生故障 產(chǎn)品合格率 上報(bào) 地址標(biāo)識 定時中斷 顯示異常 芯片位置 運(yùn)行異常 自動報(bào)警 字節(jié)分配 自帶 報(bào)警 查找 占用 監(jiān)測 發(fā)現(xiàn) | ||
1.一種芯片故障自診斷方法，其特征在于：它包含如下步驟：
a、通過系統(tǒng)主控芯片的RAM緩存，將被監(jiān)測芯片進(jìn)行編碼；
b、系統(tǒng)主控芯片內(nèi)部的RAM緩存區(qū)占用若干字節(jié)，每個字節(jié)分配若干位，將每位代表一個被監(jiān)測芯片；
c、系統(tǒng)主控芯片接收各芯片上報(bào)的第一地址標(biāo)識ID；
d、系統(tǒng)主控芯片通過自帶定時中斷功能自動監(jiān)測各個被監(jiān)測芯片；
e、監(jiān)測狀態(tài)信息中，某位值為1，表示該芯片運(yùn)行異常，監(jiān)測狀態(tài)信息中，某位值為0，表示該芯片運(yùn)行正常；
f、系統(tǒng)主控芯片監(jiān)測到有芯片發(fā)生故障時，基于各芯片上報(bào)的第一地址，查找與故障芯片處于同一塊板的非故障芯片；
g、系統(tǒng)主控芯片顯示異常芯片位置并報(bào)警。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片故障自診斷方法，其特征在于：所述步驟b中系統(tǒng)主控芯片內(nèi)部的RAM緩存區(qū)占用4字節(jié)，每個字節(jié)分配8位，將每位代表一個被監(jiān)測芯片的運(yùn)行狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片故障自診斷方法，其特征在于：所述步驟c中系統(tǒng)主控芯片接收到的所述第一地址ID由各芯片從地址分配器中獲取，且任意一個芯片的第一地址ID至少包括該任意一個芯片所在的板的槽位ID與該任意一個芯片的板內(nèi)ID。
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