[發明專利]一種包裹尺寸測量方法、系統、儲存介質及移動終端

在審

• 申請號: 201810456628.0
• 申請日: 2018-05-14
• 公開（公告）號: CN108648230A
• 公開（公告）日: 2018-10-12
• 發明（設計）人: 喬倚松
• 申請（專利權）人: 南京阿凡達機器人科技有限公司
• 主分類號: G06T7/62
• 分類號: G06T7/62;G06T7/136;G01B11/00
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 郭桂峰

1.一種基于點云圖的包裹尺寸測量方法，其特征在于，包括步驟：

S1000獲取目標點云，所述目標點云包括所述待測包裹的至少兩個表面對應的點云以及支持面對應的點云，所述至少兩個表面相鄰，所述支持面為所述待測包裹放置的表面；

S2000分割所述目標點云，刪除所述目標點云中所述支持面對應的點云；

S3000對刪除所述支持面對應的點云后的目標點云進行聚類，從而分隔出所述至少兩個表面對應的點云，旋轉所述至少兩個表面對應的點云，使得所述至少兩個表面對應的點云與目標坐標系朝向相符，根據旋轉后的點云查找所述待測包裹對應的第一目標頂點和第二目標頂點；所述第一目標頂點的坐標分別對應了所述旋轉后的點云在所述目標坐標系中XYZ軸值的最大值，所述第二目標頂點的坐標分別對應了所述旋轉后的點云在所述目標坐標系中XYZ軸值的最小值；

S4000獲取所述第一目標頂點和第二目標頂點對應的坐標，根據所述坐標計算所述待測包裹的體積。

2.根據權利要求1所述的基于點云圖的包裹尺寸測量方法，其特征在于，所述步驟S2000分割所述目標點云，刪除所述目標點云中所述支持面對應的點云具體包括步驟：

S2100對所述目標點云進行平面擬合，找出所述支持面的平面方程；

S2200根據所述支持面的平面方程，查找并刪除所述支持面對應的點云。

3.根據權利要求1所述的基于點云圖的包裹尺寸測量方法，其特征在于，所述步驟S3000具體包括步驟：

S3100對刪除所述支持面對應的點云后的目標點云進行聚類，獲得所述待測包裹對應的第一目標點云；

S3200對所述第一目標點云進行平面擬合，獲取所述待測包裹的第一表面對應的第一點云表面，以及所述待測包裹的第二表面對應的第二點云表面；所述第一點云表面與所述第二點云表面相鄰并垂直；

S3300旋轉所述第一目標點云，使得所述第一點云表面與目標坐標系的第一坐標軸平行，得到旋轉后的第二目標點云；

S3400旋轉所述第二目標點云，使得所述第二點云表面與目標坐標系的第二坐標軸平行，得到旋轉后的第目標三點云；

S3500根據所述第三目標點云，查找所述第一目標頂點和所述第二目標頂點；所述第一目標頂點的坐標的坐標分別對應了所述旋轉后的第三目標點云在所述目標坐標系中XYZ軸值的最大值，所述第二目標頂點的坐標的坐標分別對應了所述旋轉后第三目標點云在所述目標坐標系中XYZ軸值的最小值。

4.根據權利要求3所述的基于點云圖的包裹尺寸測量方法，其特征在于，所述步驟S3100對刪除所述支持面對應的點云后的目標點云進行聚類，獲得所述待測包裹對應的第一目標點云具體包括步驟：

S3110根據預設算法，篩選與預設查詢點之間的距離滿足預設距離閾值的目標點，得到包含所述待測包裹點云的點云集；

S3120獲取所述點云集中點云最大的點云群組為所述待測包裹對應的第一目標點云。

5.根據權利要求3所述的基于點云圖的包裹尺寸測量方法，其特征在于，所述步驟S3300旋轉所述第一目標點云，使得所述第一點云表面與目標坐標系的第一坐標軸平行，得到旋轉后的第二目標點云具體包括步驟：

S3310計算所述第一點云表面對應的法向量與所述目標坐標系的第一坐標軸之間的第一夾角；

S3320根據所述第一夾角旋轉所述第一目標點云，使得所述第一點云表面與所述第一坐標軸平行，得到所述第二目標點云；

所述步驟S3400旋轉所述第二目標點云，使得所述第二點云表面與目標坐標系的第二坐標軸平行，得到旋轉后的第三目標點云具體包括步驟：

S3410計算所述第二點云表面對應的法向量與所述目標坐標系的第二坐標軸之間的第二夾角；

S3420根據所述第二夾角旋轉所述第二目標點云，使得所述第二點云表面與所述第二坐標軸平行，得到所述第三目標點云。