[發明專利]一種TD-LTE基站電磁輻射相關性檢測方法有效
| 申請號： | 201810455205.7 | 申請日： | 2018-05-14 |
| 公開（公告）號： | CN108768558B | 公開（公告）日： | 2020-12-25 |
| 發明（設計）人： | 楊萬春;吳濤;譚平安;張園;鄧書華;彭艷芬 | 申請（專利權）人： | 湘潭大學 |
| 主分類號： | H04B17/318 | 分類號： | H04B17/318;H04B17/336;H04B17/345;H04W24/08 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 411100 湖南省*** | 國省代碼： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 td lte 基站 電磁輻射 相關性 檢測 方法 | ||
1.一種TD-LTE基站電磁輻射相關性檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
1)、建立TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(t)的噪聲濾除公式，獲得無噪序列
其中：
d＝f(t),Ψ(t) (4)
c＝f(t),φ(t) (5)
在上式(1)中，為基站電磁輻射強度時間序列f(t)的無噪序列，f(t)為基站電磁輻射強度時間序列，單位為V/m，t為時間，單位為小時，d為變化系數，c為尺度系數，f(t),Ψ(t)為f(t)與Ψ(t)的函數內積，f(t),φ(t)為f(t)與φ(t)的函數內積；
2)、將兩個不同時間段的基站電磁輻射強度時間序列f(x)，f(y)，其中x，y為時間，單位為小時，分別代入步驟1)，獲得兩個無噪序列再將兩個無噪序列分別求平均獲得和
其中，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(x)的無噪序列，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(x)無噪序列的平均值，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(y)的無噪序列，n為時間序列f(x)和f(y)中電磁輻射強度值的個數，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(y)無噪序列的平均值；
3)、將步驟2)中獲得的代入相關性表達式求得相關系數值p(x,y)：
在上式中，p(x,y)為相關系數值，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(x)的無噪序列，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(x)無噪序列的平均值，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(y)的無噪序列，n為時間序列f(x)和f(y)中電磁輻射強度值的個數，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(y)無噪序列的平均值。
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