[發(fā)明專利]一種TD-LTE基站電磁輻射相關性檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810455205.7
• 申請日: 2018-05-14
• 公開（公告）號: CN108768558B
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發(fā)明（設計）人: 楊萬春;吳濤;譚平安;張園;鄧書華;彭艷芬
• 申請（專利權）人: 湘潭大學
• 主分類號: H04B17/318
• 分類號: H04B17/318;H04B17/336;H04B17/345;H04W24/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明公開了一種TD?LTE基站電磁輻射相關性檢測方法，其步驟如下：通過建立TD?LTE基站電磁輻射強度時間序列f(t)的噪聲濾除公式可獲得無噪序列再將兩個不同時間段的基站電磁輻射強度時間序列f(x)，f(y)，其中x，y為時間，單位為小時，分別代入噪聲濾除公式獲得兩個無噪序列再將兩個無噪序列分別求平均獲得和最后將獲得的無噪序列以及無噪序列的平均值代入相關性表達式求得相關系數(shù)值p(x，y)。本發(fā)明分析了TD?LTE基站電磁輻射相關性檢測方法，考慮了電磁輻射噪聲對不同時段基站電磁輻射相關性的影響，該方法能高效且精確的檢測出TD?LTE基站電磁輻射在不同時間段的相關系數(shù)值，具有一定的社會效益。

技術領域

本發(fā)明涉及一種TD-LTE基站電磁輻射相關性檢測方法。

背景技術

基站電磁輻射序列隨時間的變化在不同時間段中其變化規(guī)律具有一定的相關性，而基站電磁輻射相關性檢測研究中不同時段電磁輻射序列的噪聲往往會影響其相關性的體現(xiàn)，因此在對基站電磁輻射序列不同時段序列變化相關性檢測中，可以通過濾除基站電磁輻射噪聲后對TD-LTE基站電磁輻射序列變化的相關性進行檢測，但目前已公開文獻和專利，沒有通過濾除基站電磁輻射噪聲后對TD-LTE基站電磁輻射相關性檢測的方法。

針對現(xiàn)有技術中存在的不足，本專利通過建立TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(t)的噪聲濾除公式可獲得無噪序列再將兩個不同時間段的基站電磁輻射強度時間序列f(x)，f(y)，其中x，y為時間，單位為小時，分別代入噪聲濾除公式獲得兩個無噪序列再將兩個無噪序列分別求平均獲得和最后將獲得的無噪序列以及無噪序列的平均值代入相關性表達式求得相關系數(shù)值p_(x,y)。通過實驗表明，本專利提出的TD-LTE基站電磁輻射相關性檢測方法能高效且精確的檢測出TD-LTE基站電磁輻射在不同時間段的相關系數(shù)值。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供一種TD-LTE基站電磁輻射相關性檢測方法。

本發(fā)明解決上述技術問題的技術方案包括以下步驟：

1)、建立TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(t)的噪聲濾除公式，獲得無噪序列

其中：

d＝f(t),Ψ(t) (4)

c＝f(t),φ(t) (5)

在上式(1)中，為基站電磁輻射強度時間序列f(t)的無噪序列，f(t)為基站電磁輻射強度時間序列，單位為V/m，t為時間，單位為小時，d為變化系數(shù)，c為尺度系數(shù)，f(t),Ψ(t)為f(t)與Ψ(t)的函數(shù)內(nèi)積，f(t),φ(t)為f(t)與φ(t)的函數(shù)內(nèi)積；

2)、將兩個不同時間段的基站電磁輻射強度時間序列f(x)，f(y)，其中x，y為時間，單位為小時，分別代入步驟1)，獲得兩個無噪序列再將兩個無噪序列分別求平均獲得和

其中，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(x)的無噪序列，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(x)無噪序列的平均值，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(y)的無噪序列，n為時間序列f(x)和f(y)中電磁輻射強度值的個數(shù)，為TD-LTE基站電磁輻射強度時間序列f(y)無噪序列的平均值；

3)、將步驟2)中獲得的代入相關性表達式求得相關系數(shù)值p_(x,y)：