[發明專利]半導體激光器電源測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201810452960.X
• 申請日: 2018-05-14
• 公開（公告）號: CN108919138A
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發明（設計）人: 劉明;沈運;朱日宏;任大良;單崇銘;魏京天
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 朱寶慶

本發明提供了一種半導體激光器電源測試裝置，包括水冷機、測試裝置、假負載模塊和水冷板；其中測試裝置包括電流表、電壓表，負載模塊設置于水冷板上且包括若干串聯的功率二極管，電流表正極與電源正極連接且負極接最后一級二極管的陽極，電壓表正極接電源正極且負極分別接第一級二極管的陰極和電源陰極，水冷機與待測半導體激光器電源、測試裝置和水冷板連接。

技術領域

本發明涉及一種激光器測試技術，特別是一種半導體激光器電源測試裝置及方法。

背景技術

目前，半導體激光器是工業上應用最為廣泛的激光器，其中激光電源模塊是每一個激光器必不可少的一部分，但是電源模塊連接LD(laserdiode)之后，可能會因為某些原因導致工作狀態不正確，對LD造成影響，甚至導致LD損壞，造成經濟損失。所以，電源模塊測試環節是十分有必要的。目前大部分電源測試方案大多數選擇連接功率器件之后，使用鉗表測量輸出電流。這種測量方式操作繁瑣，測量精度低，實時性差。同時，在絕大多數的測試系統中，用于模擬LD的功率器件(將電能轉化為熱能輸出，為方便說明以下統稱為假負載模塊)只能模擬特定功率區間內的LD，但是一般的半導體激光器電源模塊是要將輸出功率由低到高的依次測試，也就是說，普通功率電阻無法做到模擬LD，從而無法對其進行測試。同樣，由于激光電源模塊是多路的，外界因素會對鉗表造成較大的干擾，同時，鉗表測試本身就存在精度差、實時性不強等問題，不利于對電源模塊進行精確的調試。如果誤差較大的話，會對光模塊造成損傷，隨著時間的推移，這些都會減少激光器的使用壽命，增加了激光器后期維護的成本。這些對一個產品而言，都是不可以接受的。

發明內容

本發明的目的在于提供一種半導體激光器電源測試裝置及方法，判斷激光電源模塊工作是否正常，能否連接LD(laserdiode)等。

實現本發明一種半導體激光器電源測試裝置，包括水冷機、測試裝置、假負載模塊和水冷板；其中測試裝置包括電流表、電壓表，負載模塊設置于水冷板上且包括若干串聯的功率二極管，電流表正極與電源正極連接且負極接最后一級二極管的陽極，電壓表正極接電源正極且負極分別接第一級二極管的陰極和電源陰極，水冷機與待測半導體激光器電源、測試裝置和水冷板連接。

采用上述裝置，該裝置可以進行拓展，使用同一電源，若干測試裝置和負載模塊并聯。

采用上述裝置，二極管底部涂抹有硅脂。

采用上述裝置，二極管與所模擬的LD陣列連接方式保持一致且與模擬的LD的伏安特性曲線一致。

一種采用權利要求1所述裝置實現的半導體激光器電源測試方法，包括以下步驟：

步驟1，將待測試的半導體激光器電源與測試裝置連接；

步驟2，保證水冷機水流量足夠，并設定溫度；

步驟3，半導體激光器電源上電，開始進行測試；

步驟4，功率達到LD部分正常工作狀態需求時，進行烤機。

本發明與現有技術相比，具有以下優點：(1)功率器件涂抹了硅脂并附著在水冷板上，這樣可以使熱量快速的傳導給水冷板，防止由于長時間熱量堆積造成的功率器件發生溫度漂移現象，同時也減小了熱量對激光電源模塊所造成的影響；(2)由于功率器件與LD的伏安特性曲線基本一致，這樣只使用這一個裝置，就可以對全部功率模式下的激光電源模塊進行測試；(3)同時，使用連接在裝置上的電流表、電壓表，可以更加準確的確定激光電源模塊實時輸出的電流電壓大小，排出了人工手持鉗表測量所產生的誤差，從而，更為有效的對激光電源模塊進行調試工作。

下面結合說明書附圖對本發明作進一步描述。

附圖說明

圖1為本發明裝置結構示意圖。

圖2為水冷系統連接步驟流程圖。