[發明專利]半導體激光器電源測試裝置及方法在審
| 申請號: | 201810452960.X | 申請日: | 2018-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN108919138A | 公開(公告)日: | 2018-11-30 |
| 發明(設計)人: | 劉明;沈運;朱日宏;任大良;單崇銘;魏京天 | 申請(專利權)人: | 南京理工大學 |
| 主分類號: | G01R31/40 | 分類號: | G01R31/40 |
| 代理公司: | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人: | 朱寶慶 |
| 地址: | 210094 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試裝置 半導體激光器電源 水冷板 二極管 電源正極 電流表 電壓表 水冷機 陰極 正極 功率二極管 負極 陽極 電源陰極 負載模塊 第一級 負極接 假負載 正極接 串聯 | ||
1.一種半導體激光器電源測試裝置,其特征在于,包括水冷機、測試裝置、假負載模塊和水冷板;其中
測試裝置包括電流表、電壓表,
負載模塊設置于水冷板上且包括若干串聯的功率二極管,
電流表正極與電源正極連接且負極接最后一級二極管的陽極,
電壓表正極接電源正極且負極分別接第一級二極管的陰極和電源陰極,
水冷機與待測半導體激光器電源、測試裝置和水冷板連接。
2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,該裝置可以進行拓展,使用同一電源,若干測試裝置和負載模塊并聯。
3.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,二極管底部涂抹有硅脂。
4.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,二極管與所模擬的LD陣列連接方式保持一致且與模擬的LD的伏安特性曲線一致。
5.一種采用權利要求1所述裝置實現的半導體激光器電源測試方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1,將待測試的半導體激光器電源與測試裝置連接;
步驟2,保證水冷機水流量足夠,并設定溫度;
步驟3,半導體激光器電源上電,開始進行測試;
步驟4,功率達到LD部分正常工作狀態需求時,進行烤機。
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