[發明專利]測量系統

有效

• 申請號: 201810442433.0
• 申請日: 2018-05-10
• 公開（公告）號: CN108871265B
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發明（設計）人: 大友文夫;熊谷薰;穴井哲治
• 申請（專利權）人: 株式會社拓普康
• 主分類號: G01C3/06
• 分類號: G01C3/06;G01C1/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 王岳;閆小龍

1.一種測量系統，具有全站儀、以及目標裝置，其中，構成為：

所述目標裝置具有朝向所述全站儀發出照明光的照明燈，

所述全站儀具備：

測距光射出部，射出測距光；

光接收部，對反射測距光進行光接收，產生光接收信號；

測距部，基于所述光接收信號來進行測定對象的測距；

光軸偏轉部，設置在測距光軸上，能夠將該測距光軸二維偏轉；

射出方向檢測部，對所述測距光軸的偏角進行檢測來進行測角；

攝像部，具有與未由所述光軸偏轉部偏轉的狀態的所述測距光軸平行的攝像光軸；以及

運算控制部，對所述光軸偏轉部的偏轉作用和所述測距部的測距作用進行控制，

該運算控制部從所述攝像部所取得的圖像檢測所述照明光，基于該照明光的檢測結果來求取所述照明燈的方向，利用所述光軸偏轉部以求取的方向為中心二維掃描所述測距光，沿著掃描路徑進行測距、測角，所述二維掃描包括在水平方向上為扁平的初期搜索掃描和在縱長上為扁平的局部搜索掃描，

并且，構成為：所述目標裝置具有反射片材的回復反射體，具有與所述照明燈處于已知的位置的所述目標裝置的基準點、將該基準點作為中心的基準反射部、以及從該基準反射部沿上下延伸的輔助反射部，所述全站儀通過所述初期搜索掃描基于來自所述輔助反射部或所述基準反射部的反射測距光來檢測所述目標裝置，進而通過所述局部搜索掃描基于來自所述基準反射部的反射測距光來檢測所述基準點，所述運算控制部基于所述基準點的檢測結果來利用所述光軸偏轉部使所述測距光軸掃描，求取所述基準點的三維位置。

2.根據權利要求1所述的測量系統，其中，所述光軸偏轉部具備能夠以所述測距光軸上為中心旋轉的一對光學棱鏡、以及將該光學棱鏡各自獨立旋轉的電動機，所述運算控制部利用所述電動機的驅動控制來控制所述一對光學棱鏡的旋轉方向、旋轉速度、旋轉比，控制由所述光軸偏轉部進行的偏轉，使所述測距光二維掃描。

3.根據權利要求1或權利要求2所述的測量系統，其中，所述照明燈能夠將所述照明光閃爍，所述運算控制部根據點亮時的圖像與熄滅時的圖像的圖像差檢測所述照明光。

4.根據權利要求1或權利要求2所述的測量系統，其中，設置有多個所述目標裝置，各照明燈具有不同的閃爍模式，所述運算控制部基于閃爍模式來識別所述目標裝置，按照各目標裝置的每一個執行二維掃描。

5.根據權利要求1或權利要求2所述的測量系統，其中，還具備數據采集器，所述數據采集器具有通信部、存儲部，所述全站儀具有通信部，所述數據采集器與所述全站儀能夠經由所述兩個通信部進行數據通信，將由該全站儀進行的測距、測角的結果向所述數據采集器發送，并且，通過該數據采集器能夠遠程操作所述全站儀。

6.根據權利要求1所述的測量系統，其中，所述運算控制部被構成為使所述光軸偏轉部執行二維掃描圖案，對該掃描圖案橫穿過所述回復反射體時的反射測距光進行檢測，基于該檢測結果來追蹤所述目標裝置。

7.根據權利要求1所述的測量系統，其中，所述運算控制部控制為所述光軸偏轉部執行所述初期搜索掃描和所述局部搜索掃描，所述初期搜索掃描為在所述光軸偏轉部的最大偏角內的廣范圍的搜索掃描，所述局部搜索掃描為包含所述目標裝置的搜索掃描，

所述運算控制部被構成為對所述光軸偏轉部進行控制，以使當通過所述初期搜索掃描檢測出來自所述目標裝置的反射光時轉移到所述局部搜索掃描。

8.根據權利要求6或權利要求7所述的測量系統，其中，所述運算控制部被構成為對所述光軸偏轉部進行控制，以使所述二維掃描具有交點而該交點與所述測距光軸一致。