[發明專利]一種磁光克爾信號測量裝置

在審

• 申請號: 201810429161.0
• 申請日: 2018-04-24
• 公開（公告）號: CN108414953A
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發明（設計）人: 傅晶晶
• 申請（專利權）人: 金華職業技術學院
• 主分類號: G01R33/032
• 分類號: G01R33/032;G01R33/12;G01Q60/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種磁光克爾信號測量裝置，主要包括激光器、偏振控制器、隔離器、保偏環形器、偏振器、保偏光纖I、電光調制器、保偏光纖II、非球面鏡、1/4波片、透鏡臺、原子力顯微鏡、探針、樣品、磁體、樣品臺、電源、光電探測器、信號發生器、功率分配器I、計算機、低通濾波器、鎖相放大器I、倍頻器、功率分配器II、鎖相放大器II、入射光路及反射光路，xyz為空間直角坐標系、xy平面為水平面，zx平面與水平面垂直，隔離器具有入口和出口兩個端口，且光束僅能從入口輸入并從出口輸出，而出口進入的光束則無法到達入口，保偏環形器具有A、B、C三個端口，且從A端口進入保偏環形器的光束僅能從B端口輸出、從B端口進入保偏環形器的光束僅能從C端口輸出，電光調制器具有端口I和端口II，所述樣品、磁體、樣品臺依次位于探針正下方，磁體連接有電源，所述探針為原子力顯微鏡探針且為圓臺形狀，所述圓臺軸線方向與水平面垂直，所述探針中沿圓臺軸線方向具有通孔，所述探針圓臺形狀的上底面直徑為2微米、下底面直徑為1微米，所述透鏡臺直徑十厘米，其特征是：所述光電探測器的一端光纖連接保偏環形器的C端口、另一端電纜連接倍頻器，所述信號發生器兩端分別電纜連接功率分配器I和功率分配器II，所述功率分配器II電纜連接鎖相放大器II，所述鎖相放大器II、鎖相放大器I、計算機依次電纜連接，所述功率分配器I電纜連接電光調制器，所述功率分配器I電纜連接鎖相放大器I，所述鎖相放大器I、低通濾波器、倍頻器、鎖相放大器II依次電纜連接，所述保偏光纖I的一端連接偏振器、另一端連接電光調制器的端口I，保偏光纖II連接電光調制器的端口II，所述保偏光纖I和保偏光纖II均具有慢軸和快軸，保偏光纖I的慢軸與電光調制器的橫磁模成45度角，保偏光纖II的慢軸與電光調制器的橫磁模方向平行，1/4波片的慢軸與保偏光纖II的慢軸成45度角，所述激光器、偏振控制器、隔離器、保偏環形器、偏振器依次光纖連接，所述激光器發射的激光束依次經偏振控制器、隔離器的入口、隔離器的出口、保偏環形器的A端口、保偏環形器的B端口、偏振器、保偏光纖I、電光調制器、保偏光纖II、非球面鏡、1/4波片、透鏡臺、原子力顯微鏡、探針，從而形成入射光路，從樣品反射的光依次經探針、原子力顯微鏡、透鏡臺、1/4波片、非球面鏡、保偏光纖II、電光調制器、保偏光纖I、偏振器、保偏環形器的B端口、保偏環形器的C端口、光電探測器，從而形成反射光路。

2.根據權利要求1所述的一種磁光克爾信號測量裝置，其特征是：所述探針13的通孔的開口直徑為500納米。

3.根據權利要求1所述的一種磁光克爾信號測量裝置，其特征是：所述保偏光纖I6長度為1.5米，保偏光纖II8長度為9.5米。