[發明專利]內部集成電路電阻校準

有效

• 申請號: 201810419461.0
• 申請日: 2018-05-04
• 公開（公告）號: CN108802495B
• 公開（公告）日: 2020-11-20
• 發明（設計）人: 曲光陽;陳雷鋮;M·魯尼
• 申請（專利權）人: 亞德諾半導體集團
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R27/14
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 張小穩

1.一種使用激勵電流來測量目標電阻器的集成電路IC電阻值的方法，其特征在于，所述激勵電流在到達所述目標電阻器之前經歷外部傳感器泄漏電流或其他泄漏電流而降低，所述方法包括：

響應于施加到具有指定校準電阻值的校準電阻器的不同的第一指定激勵電壓和第二指定激勵電壓而產生不同的第一激勵電流和第二激勵電流；

分別響應于相應的不同的第一激勵電流和第二激勵電流測量在所述目標電阻器上的不同的第一響應電壓和第二響應電壓；和

使用測量的第一響應電壓和第二響應電壓之間的差值、第一指定激勵電壓和第二指定激勵電壓之間的差值以及所述指定校準電阻值來確定所述目標電阻器的集成電路電阻值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述方法還包括校準目標電阻器的集成電阻值，包括使用目標電阻器的確定的集成電阻值來調整目標電阻器的集成電阻值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，校準集成電阻值包括產生、測量和確定的一個或多個進一步的相互作用。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一指定激勵電壓和第二指定激勵電壓包括一個或多個指定頻率。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述目標電阻器耦合到集成電路IC的外部的傳感器，其中所述一個或多個指定頻率高于傳感器對由傳感器感測的參數的標稱頻率響應。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述目標電阻器包括將電壓感測節點耦合到放大器電路的放大器輸入的第一電阻器組件以及將所述放大器電路的放大器輸出饋送到所述放大器輸入的第二電阻器組件，所述方法還包括相對于第二電阻器組件的電阻值改變第一電阻器組件的電阻值。

7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，傳感器的感測電極SE耦合到所述目標電阻器，該方法還包括浮置傳感器的參考電極RE和反電極CE。

8.一種傳感器接口集成電路IC，其特征在于，該傳感器接口集成電路IC用于使用激勵電流來測量目標電阻器的電阻值，所述激勵電流經歷耦合到集成電路IC的傳感器的外部傳感器泄漏電流而降低，所述傳感器接口集成電路IC包括：

電流傳感器電路，包括用于感測所述傳感器產生的響應電流的至少一個目標電阻器；和

電阻值測量電路，與所述目標電阻器耦合以測量所述目標電阻器的電阻值，所述電阻值測量電路包括：

電壓激勵電路，用于將一個或多個指定激勵電壓施加到具有指定校準電阻值的校準電阻器，以響應地針對每個指定激勵電壓產生不同的相應激勵電流；

電壓測量電路，響應于每個相應的不同激勵電流分別測量所述目標電阻器上的不同的相應響應電壓；和

計算電路，使用測量的不同的相應響應電壓之間的差值、所述一個或多個指定激勵電壓之間的差值以及所述指定校準電阻值來確定所述目標電阻器的電阻值。

9.根據權利要求8所述的傳感器接口集成電路IC，其特征在于還包括連接到所述目標電阻器的傳感器，其中所述傳感器位于所述傳感器接口集成電路IC的外部。

10.根據權利要求9所述的傳感器接口集成電路IC，其特征在于，所述傳感器還耦合到所述校準電阻器。

11.根據權利要求8所述的傳感器接口集成電路IC，其特征在于，所述電壓測量電路包括模數轉換器，用于為所述計算電路產生測量的相應響應電壓的數字表示。

12.根據權利要求8所述的傳感器接口集成電路IC，其特征在于，所述校準電阻器在外部耦合到所述傳感器接口集成電路IC。

13.根據權利要求8所述的傳感器接口集成電路IC，其特征在于，所述計算電路被配置為執行直流DC測量和交流AC測量。