[發明專利]T組件測試方法、裝置及系統

在審

• 申請號: 201810385682.0
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN108469552A
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發明（設計）人: 楊立仲;吳光勝;馮軍正
• 申請（專利權）人: 深圳市華訊方舟微電子科技有限公司;華訊方舟科技有限公司
• 主分類號: G01R27/28
• 分類號: G01R27/28
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 官建紅

本發明適用于產品測試技術領域，提供了一種T組件測試方法、裝置及系統，所述T組件測試方法包括：發送第一控制指令給指令發生器，所述指令發生器根據所述第一控制指令分別發送時鐘信號、鎖存信號和數據信號給待測T組件，使所述待測T組件的移相狀態為零；控制T組件測試儀器發送射頻輸入信號給所述待測T組件；在所述待測T組件根據所述射頻輸入信號輸出待測信號給所述T組件測試儀器后，控制T組件測試儀器根據所述待測信號測試所述待測T組件的性能參數。本發明利用指令發生器來控制待測T組件的相位變化，測試精度高，并且可靠穩定，整個測試過程無需純手動測試，自動化程度高，操作步驟簡單，測試效率高，生產成本低。

技術領域

本發明屬于產品測試技術領域，尤其涉及一種T組件測試方法、裝置及系統。

背景技術

在產品測試技術領域中，搭建的測試系統各式各樣，技術指標測試參量要求也不盡相同。在微波組件產品測試中，基本的測試儀器選擇主要是根據產品的頻段來選擇，以節約成本為目的，而測試頻段越高，儀器設備的成本越高，同時還需要滿足測試精度與可靠穩定性。在Ka頻段T組件測試當中，一套測試儀器的費用十分昂貴，生產成本高，現有技術中需要純手動進行測試，操作步驟繁瑣，測試效率低，而且無法滿足測試精度與可靠穩定性要求。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種T組件測試方法、裝置及系統，以解決現有技術在T組件測試過程中生產成本高，需要純手動測試，操作步驟復雜，測試效率低，無法滿足測試精度與可靠穩定性要求的問題。

本發明實施例第一方面提供了一種T組件測試方法，包括：

發送第一控制指令給指令發生器，所述指令發生器根據所述第一控制指令分別發送時鐘信號、鎖存信號和數據信號給待測T組件，使所述待測T組件的移相狀態為零；

控制T組件測試儀器發送射頻輸入信號給所述待測T組件；

在所述待測T組件根據所述射頻輸入信號輸出待測信號給所述T組件測試儀器后，控制T組件測試儀器根據所述待測信號測試所述待測T組件的性能參數。

進一步地，在所述待測T組件根據所述射頻輸入信號輸出待測信號給所述T組件測試儀器后，控制T組件測試儀器根據所述待測信號測試所述待測T組件的性能參數包括：

發送第二控制指令給所述指令發生器，所述指令發生器根據所述第二控制指令調整所述時鐘信號、所述鎖存信號和所述數據信號，使所述待測T組件的移相狀態為預設移相度數；

在所述待測T組件根據所述預設移相度數和所述射頻輸入信號輸出待測信號給所述T組件測試儀器后，控制T組件測試儀器根據所述待測信號測試所述待測T組件的性能參數。

進一步地，所述T組件測試方法還包括：

控制直流電源為所述指令發生器提供電壓；

控制所述指令發生器對所述電壓進行降壓穩壓處理并輸送給所述待測T組件。

進一步地，在所述發送第一控制指令給指令發生器之后，還包括：

接收所述指令發生器發送的反饋信號，所述反饋信號用于指示所述指令發生器已經接收所述第一控制指令。

進一步地，所述T組件測試方法還包括：

獲取所述T組件測試儀器測試得到的性能參數，并生成數據表格進行存儲。

本發明實施例第二方面提供了一種T組件測試裝置，包括：

第一控制指令發送模塊，用于發送第一控制指令給指令發生器，所述指令發生器根據所述第一控制指令分別發送時鐘信號、鎖存信號和數據信號給待測T組件，使所述待測T組件的移相狀態為零；

射頻輸入信號發送模塊，用于控制T組件測試儀器發送射頻輸入信號給所述待測T組件；