[發(fā)明專利]圖像傳感器及其形成方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810381052.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108428711A | 公開(公告)日: | 2018-08-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周艮梅;穆鈺平;黃曉櫓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 德淮半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣;吳敏 |
| 地址: | 223302 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 阻擋結(jié)構(gòu) 圖像傳感器 基底表面 濾色鏡 像素區(qū) 側(cè)壁 基底 相鄰像素 銳角 覆蓋 | ||
一種圖像傳感器及其形成方法,其中形成方法包括:提供基底,所述基底包括若干相互分離的像素區(qū);在相鄰像素區(qū)之間的基底表面形成阻擋結(jié)構(gòu),所述阻擋結(jié)構(gòu)的底部尺寸大于頂部尺寸,且所述阻擋結(jié)構(gòu)的側(cè)壁與底部呈銳角;在各所述像素區(qū)的基底表面形成濾色鏡,所述濾色鏡覆蓋阻擋結(jié)構(gòu)的側(cè)壁。所述方法形成的圖像傳感器的性能較好。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種圖像傳感器及其形成方法。
背景技術(shù)
圖像傳感器是將光學(xué)圖像信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的半導(dǎo)體器件。CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)圖像傳感器是一種快速發(fā)展的固態(tài)圖像傳感器,由于CMOS圖像傳感器中的圖像傳感器部分和控制電路部分集成于同一芯片中,因此CMOS圖像傳感器的體積小、功耗低、價(jià)格低廉,相較于傳統(tǒng)的CCD(電荷耦合)圖像傳感器更具優(yōu)勢(shì),也更易普及。
現(xiàn)有的CMOS圖像傳感器中包括用于將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的光電傳感器,所述光電傳感器為形成于硅襯底中的光電二極管。此外,在形成有光電二極管的硅襯底表面還形成有介質(zhì)層,所述介質(zhì)層內(nèi)形成有金屬互聯(lián)層,所述金屬互聯(lián)層用于使光電二極管與外圍電路電連接。對(duì)于上述CMOS圖像傳感器來說,所述硅襯底具有介質(zhì)層和金屬互聯(lián)層的一面為CMOS圖像傳感器的正面,與正面相對(duì)的一面為CMOS圖像傳感器的背面,根據(jù)光線照射方向的差異,所述CMOS圖像傳感器能夠分為前照式(Front-side Illumination,F(xiàn)SI)CMOS圖像傳感器和后照式(Back-side Illumination)CMOS圖像傳感器。
然而,現(xiàn)有的CMOS圖像傳感器的性能仍較差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的技術(shù)問題是一種圖像傳感器及其形成方法,以提高圖像傳感器的性能。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種圖像傳感器的形成方法,包括:提供基底,所述基底包括若干相互分離的像素區(qū);在相鄰像素區(qū)之間的基底表面形成阻擋結(jié)構(gòu),所述阻擋結(jié)構(gòu)的底部尺寸大于頂部尺寸,且所述阻擋結(jié)構(gòu)側(cè)壁與底部表面呈銳角;在各所述像素區(qū)的基底表面形成濾色鏡,所述濾色鏡覆蓋阻擋結(jié)構(gòu)的側(cè)壁。
可選的,所述阻擋結(jié)構(gòu)的材料為金屬;所述金屬包括鎢或者鋁。
可選的,所述夾角的范圍為:60度~85度。
可選的,所述阻擋結(jié)構(gòu)底部尺寸為:0.1微米~0.16微米。
可選的,所述阻擋結(jié)構(gòu)頂部尺寸為:0.02微米~0.08微米。
可選的,所述基底內(nèi)具有阱區(qū),所述阱區(qū)內(nèi)具有第一摻雜離子;所述像素區(qū)的阱區(qū)內(nèi)具有光電摻雜區(qū),所述光電摻雜區(qū)內(nèi)具有第二摻雜離子,所述第二摻雜離子與第一摻雜離子的導(dǎo)電類型相反。
可選的,形成所述阻擋結(jié)構(gòu)之前,所述形成方法還包括:在所述基底表面形成鈍化層;在所述鈍化層表面形成停止層。
可選的,所述阻擋結(jié)構(gòu)的形成方法包括:在所述停止層表面形成阻擋結(jié)構(gòu)膜,相鄰像素區(qū)之間的所述阻擋結(jié)構(gòu)膜表面具有第一掩膜層;以所述第一掩膜層為掩膜,刻蝕所述阻擋結(jié)構(gòu)膜,直至暴露出停止層的頂部表面,形成所述阻擋結(jié)構(gòu)。
可選的,以所述第一掩膜層為掩膜,刻蝕所述阻擋結(jié)構(gòu)膜的工藝包括干法刻蝕工藝和濕法刻蝕工藝中的一種或者兩種組合。
可選的,所述濾色鏡為紅色濾色鏡、綠色濾色鏡或藍(lán)色濾色鏡中的一個(gè);所述濾色鏡頂部尺寸大于底部尺寸。
可選的,形成所述濾色鏡之后,所述形成方法還包括:在所述濾色鏡表面形成透鏡結(jié)構(gòu)。
相應(yīng)的,本發(fā)明還提供一種圖像傳感器,包括:基底,所述基底包括若干相互分離的像素區(qū);位于相鄰像素區(qū)之間基底表面的阻擋結(jié)構(gòu),所述阻擋結(jié)構(gòu)的底部尺寸大于頂部尺寸,且所述阻擋結(jié)構(gòu)側(cè)壁與底部表面呈銳角;位于各所述像素區(qū)的基底表面的濾色鏡,所述濾色鏡覆蓋阻擋結(jié)構(gòu)的側(cè)壁。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





