[發(fā)明專利]測試裝置和測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810379880.6
• 申請日: 2018-04-25
• 公開（公告）號: CN108809446A
• 公開（公告）日: 2018-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 亨德里克·巴爾特科;阿德姆·坦基埃隆;亞歷山大·帕布斯特;托爾斯滕·赫特爾
• 申請（專利權(quán)）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10;H04B17/20;H04B7/0413;H04B7/06
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 陳慧

一種用于測試待測設(shè)備的測試裝置包括：可旋轉(zhuǎn)的設(shè)備支架，用于承載在一個(gè)軸線上至少可旋轉(zhuǎn)的待測設(shè)備；第一測試天線和第二測試天線；第一天線定位裝置，用于在仰角方向上相對于待測設(shè)備移動(dòng)第一測試天線；以及第二天線定位裝置，用于在方位角方向和仰角方向上相對于待測設(shè)備移動(dòng)第二測試天線。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于測試待測設(shè)備的測試裝置。本發(fā)明進(jìn)一步涉及一種相應(yīng)的測試方法。

背景技術(shù)

盡管原理上適用于任何無線測試系統(tǒng)，本發(fā)明及其要解決的問題在后面將結(jié)合測試無線設(shè)備的波束賦形來描述。

在現(xiàn)代無線通信系統(tǒng)中，單個(gè)設(shè)備之間的通信通過波束賦形或波束控制(beamsteering)來優(yōu)化。

因此，在針對此類通信系統(tǒng)的設(shè)備研發(fā)或生產(chǎn)期間，有必要徹底測試設(shè)備的波束控制性能，以便符合通信標(biāo)準(zhǔn)和法律規(guī)范。

因此，特別是對于波束賦形設(shè)備，有必要將測試天線定位在相應(yīng)待測設(shè)備周圍的多個(gè)不同位置。

針對該背景，本發(fā)明所要解決的問題是為能夠波束賦形的設(shè)備提供通用的測試設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明通過具有如權(quán)利要求1所述特征的測試裝置以及具有如權(quán)利要求15所述特征的測試方法來解決該目的。

相應(yīng)地提供了：

一種用于測試待測設(shè)備的測試裝置，該測試裝置包括：可旋轉(zhuǎn)的設(shè)備支架，用于承載在一個(gè)軸線上至少可旋轉(zhuǎn)的待測設(shè)備；第一測試天線和第二測試天線；第一天線定位裝置，用于在仰角方向上相對于待測設(shè)備移動(dòng)第一測試天線；以及第二天線定位裝置，用于在方位角方向和仰角方向上相對于待測設(shè)備移動(dòng)第二測試天線。

一種用于測試待測設(shè)備的測試方法，該方法包括：承載在一個(gè)軸線上至少可旋轉(zhuǎn)的待測設(shè)備；在仰角方向上相對于待測設(shè)備移動(dòng)第一測試天線；在方位角方向和仰角方向上相對于待測設(shè)備移動(dòng)第二測試天線；以及利用第一測試天線和第二測試天線測試該待測設(shè)備。

本發(fā)明的測試裝置提供了用于待測設(shè)備DUT的多個(gè)移動(dòng)支架或承載架、第一測試天線以及第二測試天線。這些支架和承載架允許DUT、第一測試天線以及第二測試天線相對于彼此非常靈活地定位。

利用該布置，當(dāng)測試待測設(shè)備時(shí)，可以使用多個(gè)不同的場景。該測試裝置可以例如用于利用兩個(gè)天線測試DUT的波束賦形的特性。

第一天線定位裝置可以在仰角方向上移動(dòng)第一測試天線，以掃描DUT的天線在仰角方向上的天線方向圖和波束賦形方向圖。同時(shí)，第二天線定位裝置可以在DUT的方位角方向上(即，圍繞DUT)移動(dòng)第二測試天線，以掃描天線方向圖或波束賦形方向圖。此外，DUT可以通過可旋轉(zhuǎn)的設(shè)備支架旋轉(zhuǎn)。

作為利用兩個(gè)天線進(jìn)行測量的替代，還可以使用天線之一來與DUT進(jìn)行通信，而同時(shí)另一個(gè)天線執(zhí)行DUT上的測量。

第一測試天線和/或第二測試天線可以，例如包括單個(gè)天線并且相應(yīng)的信號處理裝置可以附接至該天線。作為替代或另選，第一測試天線和/或第二測試天線可以包括基于例如功率測量二極管的空中(over the air)功率傳感器。例如，在美國專利申請第15/468,238號中公開了此類OTA功率傳感器，其內(nèi)容通過引用并入本文。

因此，本發(fā)明提供了一種非常靈活的測試裝置，其允許相對于兩個(gè)測試天線靈活地定位DUT。同時(shí)，第一測試天線和第二測試天線可以相對于彼此定位。

本發(fā)明的其他實(shí)施例是其他從屬權(quán)利要求和參考附圖的以下說明書的主題。

在一個(gè)可能的實(shí)施例中，第一天線定位裝置可以包括具有滑動(dòng)件的導(dǎo)向件，以及耦合至該導(dǎo)向件和/或滑動(dòng)件的可控驅(qū)動(dòng)單元，其中第一測試天線可以耦合至該滑動(dòng)件以用于在仰角方向上相對于待測設(shè)備可控地移動(dòng)第一測試天線。