[發明專利]測試裝置和測試方法

在審

• 申請號: 201810379880.6
• 申請日: 2018-04-25
• 公開（公告）號: CN108809446A
• 公開（公告）日: 2018-11-13
• 發明（設計）人: 亨德里克·巴爾特科;阿德姆·坦基埃隆;亞歷山大·帕布斯特;托爾斯滕·赫特爾
• 申請（專利權）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10;H04B17/20;H04B7/0413;H04B7/06
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 陳慧

1.一種用于測試待測設備的測試裝置，所述測試裝置包括：

可旋轉的設備支架，用于承載在一個軸線上至少可旋轉的所述待測設備；

第一測試天線和第二測試天線；

第一天線定位裝置，用于在仰角方向上相對于所述待測設備移動所述第一測試天線；以及

第二天線定位裝置，用于在方位角方向和仰角方向上相對于所述待測設備移動所述第二測試天線。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述第一天線定位裝置包括具有滑動件的導向件和耦合至所述導向件和/或所述滑動件的可控驅動單元，其中所述第一測試天線耦合至所述滑動件以便在仰角方向上相對于所述待測設備可控地移動所述第一測試天線。

3.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述導向件包括弧形部分，所述弧形部分從所述可旋轉的設備支架的側面延伸到所述可旋轉的設備支架的上方。

4.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述第二天線定位裝置包括方位角定位器，用于在方位角方向上相對于所述待測設備定位所述第二測試天線，并且其中所述第二天線定位裝置包括仰角定位器，用于在仰角方向上相對于所述待測設備定位所述第二測試天線。

5.根據權利要求4所述的測試裝置，其中所述仰角定位器包括豎直導向件和滑動件，其中所述第二測試天線耦合至所述滑動件，特別是其中所述仰角定位器包括耦合至所述導向件和/或所述滑動件的可控驅動單元，并且其中所述驅動單元可控地在所述導向件上移動所述滑動件。

6.根據權利要求5所述的測試裝置，其中所述豎直導向件包括弧形部分，所述弧形部分從所述可旋轉的設備支架的側面延伸到所述可旋轉的設備支架的上方。

7.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述第一天線定位裝置和/或所述第二天線定位裝置包括門架狀裝置。

8.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述第一測試天線和/或所述第二測試天線包括可切換的天線元件陣列。

9.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述可旋轉的設備支架包括旋轉設備，用于旋轉所述待測設備。

10.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述可旋轉的設備支架包括仰角設備，用于在豎直軸線上移動所述待測設備。

11.根據權利要求1所述的測試裝置，包括可通信地耦合至所述第一測試天線和所述第二測試天線的測試控制器，其中所述測試控制器通過所述第一測試天線和所述第二測試天線中的至少一個向所述待測設備傳送波束賦形指令。

12.根據權利要求11所述的測試裝置，其中所述測試控制器通過所述第一測試天線和所述第二測試天線中的至少一個測量所述待測設備的輻射，和/或其中所述測試控制器通過所述第一測試天線和所述第二測試天線中的至少一個向所述待測設備發射測試信號。

13.根據權利要求12所述的測試裝置，其中所述測試控制器包括功能開關，所述功能開關將所述第一測試天線和/或所述第二測試天線從通信功能切換到測量功能或者從測量功能切換到通信功能。

14.根據權利要求11所述的測試裝置，其中所述測試控制器向所述待測設備提供波束賦形指令，以指示所述待測設備用多個波束配置所述天線并針對單獨的波束順序地執行測量。

15.一種用于測試待測設備的測試方法，所述方法包括：

承載在一個軸線上至少可旋轉的所述待測設備；

在仰角方向上相對于所述待測設備移動第一測試天線；

在方位角方向和仰角方向上相對于所述待測設備移動第二測試天線；以及

利用所述第一測試天線和所述第二測試天線測試所述待測設備。