[發明專利]一種電測治具及其控制方法

有效

• 申請號: 201810374544.2
• 申請日: 2018-04-24
• 公開（公告）號: CN108572470B
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: 羅鵬;劉元;鐘德龍;王志強;崔辛超
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G09G3/00
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

本發明公開了一種電測治具及其控制方法，涉及測試設備設計技術領域，用于解決由于下電異常所導致的面板在后續測試時或者組裝成產品后開啟顯示時出現抖屏現象的問題。該電測治具，包括：座體，座體具有放置面；壓合件，壓合件上設有伸縮探針，伸縮探針位于放置面的上方，在壓合件上的連接部位向靠近放置面的方向移動過程中，連接部位可由第一位置移動至工作位置，連接部位為壓合件上與伸縮探針相連接的部位；控制器，控制器包括第一信號輸出端，第一信號輸出端與伸縮探針電連接，控制器用于在壓合件由工作位置向第一位置移動的過程中，通過第一信號輸出端輸出放電信號。本發明可用于面板(cell)的點燈測試。

技術領域

本發明涉及測試設備技術領域，尤其涉及一種電測治具及其控制方法。

背景技術

目前，針對顯示裝置，例如液晶顯示面板，在制造過程中通常需要對其進行電學性能檢測，檢測合格的產品才能夠轉到下一道工序中。諸如液晶顯示面板等產品的電學性能檢測(例如cell的點燈測試)通常是在電測治具上進行的，而電測治具設計的是否合理，直接關系著顯示裝置的顯示質量。

現有的電測治具在對面板(cell)點燈測試時，是將探針與面板的信號輸入點(cell ET Pad點，也稱為電測測試點)相接觸，然后通過探針向面板輸入測試信號；在測試完畢后，在面板為L₀畫面(全黑畫面)時，探針與面板的信號輸入點相分離，從而完成面板的點燈測試。

然而，在實際的測試的過程中，經常會出現下電異常，比如面板在測試時(即面板顯示非L₀畫面時)，探針與面板的信號輸入點相分離，在兩者分離后，由于在測試過程中充入到面板的像素電極與公共電極上的電荷在探針與面板的信號輸入點分離后依舊存在，這樣，殘留的電荷就會使像素電極與公共電極之間產生壓差，從而使位于像素電極與公共電極之間的液晶分子長時間向一個角度偏轉，導致液晶分子產生極化，當該面板進行后續點燈測試時或者組裝成產品后開啟顯示時就會出現抖屏現象，大大地降低了顯示面板的顯示質量。

發明內容

本發明的實施例提供一種電測治具及其控制方法，用于解決由于下電異常所導致的面板在后續測試時或者組裝成產品后開啟顯示時出現抖屏現象的問題。

為達到上述目的，第一方面，本發明實施例提供了一種電測治具，包括：座體，所述座體具有放置面，所述放置面用于放置被檢測面板，還包括：壓合件，所述壓合件上設有伸縮探針，所述伸縮探針可沿所述伸縮探針的軸向作彈性伸縮，所述伸縮探針位于所述放置面的上方，所述壓合件上的連接部位可向靠近或者遠離所述放置面的方向移動，在所述連接部位向靠近所述放置面的方向移動過程中，所述連接部位可由第一位置移動至工作位置，所述連接部位為所述壓合件上與所述伸縮探針相連接的部位；所述第一位置為所述伸縮探針與被檢測面板上的信號輸入點相接觸的臨界位置；控制器，所述控制器包括第一信號輸出端，所述第一信號輸出端與所述伸縮探針電連接，所述控制器用于在所述連接部位由所述工作位置向所述第一位置移動的過程中，通過所述第一信號輸出端輸出放電信號；所述放電信號用于將所述被檢測面板內部積累的電荷通過所述伸縮探針釋放。

進一步地，還包括觸發件，所述觸發件用于在所述連接部位由所述工作位置移動至所述第一位置的過程中，當所述連接部位處于第二位置時，觸發所述控制器通過所述第一信號輸出端輸出所述放電信號。

更進一步地，所述觸發件包括相隔設置的第一導電接觸部和第二導電接觸部，所述第一導電接觸部和所述第二導電接觸部均與所述控制器連接，當所述連接部位處于所述第二位置時，所述第一導電接觸部與所述第二導電接觸部電連接；所述控制器用于在檢測到第一導電接觸部和第二導電接觸部電連接時，通過所述第一信號輸出端輸出所述放電信號。