[發明專利]一種電測治具及其控制方法有效
| 申請號: | 201810374544.2 | 申請日: | 2018-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN108572470B | 公開(公告)日: | 2021-03-26 |
| 發明(設計)人: | 羅鵬;劉元;鐘德龍;王志強;崔辛超 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電測治具 及其 控制 方法 | ||
1.一種電測治具,包括:座體,所述座體具有放置面,所述放置面用于放置被檢測面板,其特征在于,還包括:
壓合件,所述壓合件上設有伸縮探針,所述伸縮探針可沿所述伸縮探針的軸向作彈性伸縮,所述伸縮探針位于所述放置面的上方,所述壓合件上的連接部位可向靠近或者遠離所述放置面的方向移動,在所述連接部位向靠近所述放置面的方向移動過程中,所述連接部位可由第一位置移動至工作位置,所述連接部位為所述壓合件上與所述伸縮探針相連接的部位;所述第一位置為所述伸縮探針與被檢測面板上的信號輸入點相接觸的臨界位置;
控制器,所述控制器包括第一信號輸出端,所述第一信號輸出端與所述伸縮探針電連接,所述控制器用于在所述連接部位由所述工作位置向所述第一位置移動的過程中,所述伸縮探針始終與所述被檢測面板的信號輸入點相接觸,通過所述第一信號輸出端輸出放電信號;所述放電信號用于將所述被檢測面板內部積累的電荷通過所述伸縮探針釋放。
2.根據權利要求1所述的電測治具,其特征在于,還包括觸發件,所述觸發件用于在所述連接部位由所述工作位置移動至所述第一位置的過程中,當所述連接部位處于第二位置時,觸發所述控制器通過所述第一信號輸出端輸出所述放電信號。
3.根據權利要求2所述的電測治具,其特征在于,所述觸發件包括相隔設置的第一導電接觸部和第二導電接觸部,所述第一導電接觸部和所述第二導電接觸部均與所述控制器連接,當所述連接部位處于所述第二位置時,所述第一導電接觸部與所述第二導電接觸部電連接;所述控制器用于在檢測到第一導電接觸部和第二導電接觸部電連接時,通過所述第一信號輸出端輸出所述放電信號。
4.根據權利要求3所述的電測治具,其特征在于,所述控制器還包括接地端和第二信號輸出端,所述第二信號輸出端用于在所述控制器開啟后輸出高電平信號;所述第一導電接觸部與所述接地端電連接,所述第二導電接觸部與所述第二信號輸出端電連接,當所述連接部位處于所述第二位置時,所述第一導電接觸部與所述第二導電接觸部電連接,所述控制器用于檢測到所述第二信號輸出端的高電平信號被拉低時,通過所述第一信號輸出端輸出所述放電信號。
5.根據權利要求1所述的電測治具,其特征在于,所述第一信號輸出端包括:柵極控制端、公共信號控制端以及數據信號控制端;
所述放電信號包括第一控制信號、第二控制信號和第三控制信號,所述第一控制信號為所述柵極控制端輸出的用于同時將所述被檢測面板的所有像素的柵極打開的控制信號;所述第二控制信號為所述公共信號控制端輸出的用于將所有像素的公共電極的電位置為0V的控制信號;所述第三控制信號為所述數據信號控制端輸出的用于將所有像素的像素電極的電位置為0V的控制信號。
6.根據權利要求1~5中任一項所述的電測治具,其特征在于,還包括操作機構,所述操作機構包括壓頭,所述壓頭可轉動連接于所述座體上,在所述壓頭相對所述座體轉動的過程中,所述壓頭可推動所述壓合件沿靠近所述放置面的方向移動,以使所述連接部位移動至所述工作位置;所述壓合件連接有復位件,所述復位件可向所述壓合件提供沿遠離所述放置面的方向移動的復位力。
7.根據權利要求6所述的電測治具,其特征在于,在所述控制器還包括接地端和第二信號輸出端,觸發件包括第一導電接觸部和第二導電接觸部的情況下,
所述第一導電接觸部與所述第二導電接觸部均設置于所述壓合件上,當所述連接部位處于第二位置時,所述壓頭均與所述第一導電接觸部、所述第二導電接觸部相接觸,以使所述第一導電接觸部和所述第二導電接觸部電連接。
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