[發明專利]絕緣測試裝置在審
| 申請號： | 201810373470.0 | 申請日： | 2016-01-11 |
| 公開（公告）號： | CN108828428A | 公開（公告）日： | 2018-11-16 |
| 發明（設計）人： | 趙凌云 | 申請（專利權）人： | 南京協辰電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250 | 代理人： | 吳黎 |
| 地址： | 211106 江蘇省南京市*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試端 運算放大電路 放大器 電壓比較電路 絕緣測試裝置 反饋電路 與運算 輸入端連接 絕緣測試 待測點 輸出端 待測電路板 輸出端連接 反饋電阻 基準電壓 可控開關 輸出電壓 和運算 預設 絕緣 | ||
【權利要求書】：
1.一種絕緣測試裝置，其特征在于，包括：第三測試端、第四測試端、運算放大電路和第二電壓比較電路，其中
所述運算放大電路包括多個反饋電路和運算放大器U17A，所述多個反饋電路的一端分別與所述運算放大器U17A的第一輸入端連接、另一端分別與所述運算放大器U17A的輸出端連接作為所述運算放大電路的輸出端，所述運算放大器U17A的第二輸入端接地；
所述多個反饋電路的每一個均包括串聯連接的第一反饋電阻和可控開關，所述可控開關用于根據獲取的控制信號導通或者斷開對應的所述反饋電路以調整所述運算放大電路的放大倍數；
所述第三測試端與所述運算放大器U17A的第一輸入端連接；
所述第四測試端接預設絕緣測試電壓，所述第三測試端和所述第四測試端用于分別與待測電路板上的兩個待測點連接，以測試該兩個待測點之間的絕緣是否合格；
所述運算放大電路的輸出端與所述第二電壓比較電路連接，用于將所述預設絕緣測試電壓放大，并將放大后的電壓輸入至所述第二電壓比較電路，所述運算放大電路的放大倍數由導通的所述反饋電路的電阻和所述兩個待測點之間的電阻決定；
第二電壓比較電路，用于將所述運算放大電路輸出的電壓與第二基準電壓相比較，當所述運算放大電路輸出的電壓大于所述第二基準電壓時，判斷進行絕緣測試的兩個待測點之間的絕緣不合格。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南京協辰電子科技有限公司，未經南京協辰電子科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810373470.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
