[發(fā)明專利]絕緣測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810373470.0 | 申請日: | 2016-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN108828428A | 公開(公告)日: | 2018-11-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙凌云 | 申請(專利權(quán))人: | 南京協(xié)辰電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250 | 代理人: | 吳黎 |
| 地址: | 211106 江蘇省南京市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試端 運算放大電路 放大器 電壓比較電路 絕緣測試裝置 反饋電路 與運算 輸入端連接 絕緣測試 待測點 輸出端 待測電路板 輸出端連接 反饋電阻 基準(zhǔn)電壓 可控開關(guān) 輸出電壓 和運算 預(yù)設(shè) 絕緣 | ||
本發(fā)明公開了絕緣測試裝置,該絕緣測試裝置包括第三測試端、第四測試端、運算放大電路和第二電壓比較電路,運算放大電路包括多個反饋電路和運算放大器,反饋電路一端與運算放大器的第一輸入端連接、另一端與運算放大器的輸出端連接作為運算放大電路輸出端;多個反饋電路的每一個均包括串聯(lián)連接的第一反饋電阻和可控開關(guān);第三測試端與運算放大器的第一輸入端連接;第四測試端接預(yù)設(shè)絕緣測試電壓,第三測試端和第四測試端分別與待測電路板上的兩個待測點連接;運算放大電路輸出端與第二電壓比較電路連接;第二電壓比較電路,用于當(dāng)運算放大電路輸出電壓大于第二基準(zhǔn)電壓時,判斷進行絕緣測試的兩個待測點之間的絕緣不合格。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及PCB板測試領(lǐng)域,具體涉及一種絕緣測試裝置。
背景技術(shù)
隨著使用大規(guī)模集成電路的產(chǎn)品不斷出現(xiàn),相應(yīng)的PCB的安裝和測試工作已越來越重要。印制電路板的通用測試是PCB行業(yè)傳統(tǒng)的測試技術(shù)。最早的通用電性測試技術(shù)可追溯至七十年代末八十年代初,由于當(dāng)時的元器件均采用標(biāo)準(zhǔn)封裝(Pitch為100mil),PCB亦只有THT(通孔技術(shù))密度層次,所以歐美測試機廠商就設(shè)計了一款標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)格的測試機,只要PCB上的元件和布線是按照標(biāo)準(zhǔn)距離排布的,則每個測試點均會落在標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)格點上,因為當(dāng)時所有PCB都能通用,故稱為通用測試機。
現(xiàn)有技術(shù)中的通用測試機通過對樣板的參數(shù)采集,設(shè)定誤差范圍,與被測板進行比較并判斷是否合格。測試操作簡易化:只需手動將針床壓合,系統(tǒng)就會自動化處理,并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果,免去人為判斷因素,其速度是手動測試無法比擬的。系統(tǒng)由采集、控制板卡及測試軟件組成,外接可編程AC/DC電源和直流負載,高采樣率產(chǎn)品可選配外接示波器。系統(tǒng)對PCBA多信號可同步測試,人性化的操作界面、模塊化的編程環(huán)境以及機種(Model)的方便轉(zhuǎn)換,為企業(yè)節(jié)省人力物力,提高生產(chǎn)效率,從而給企業(yè)帶來經(jīng)濟效益。
但是,現(xiàn)有通用測試機的測試電路中,導(dǎo)通測量電路測量范圍大概為10Ω~100Ω±10%,絕緣測試電路測試范圍為1MΩ~50MΩ±10%,隨著業(yè)內(nèi)對PCB板卡測試的要求越來越高,在進行碳板測試時,測量電路已不能滿足測試要求。因此就需要對測試電路進行改進設(shè)計。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于現(xiàn)有技術(shù)中電路板絕緣測試電路的測量范圍較窄。
為此,本發(fā)明實施例所提供的技術(shù)方案為:
一種絕緣測試裝置,包括:第三測試端、第四測試端、運算放大電路和第二電壓比較電路,其中
運算放大電路包括多個反饋電路和運算放大器U17A,多個反饋電路的一端分別與運算放大器U17A的第一輸入端連接、另一端分別與運算放大器U17A的輸出端連接作為運算放大電路的輸出端,運算放大器U17A的第二輸入端接地;
多個反饋電路的每一個均包括串聯(lián)連接的第一反饋電阻和可控開關(guān),可控開關(guān)用于根據(jù)獲取的控制信號導(dǎo)通或者斷開對應(yīng)的反饋電路以調(diào)整運算放大電路的放大倍數(shù);
第三測試端與運算放大器U17A的第一輸入端連接;
第四測試端接預(yù)設(shè)絕緣測試電壓,第三測試端和第四測試端用于分別與待測電路板上的兩個待測點連接,以測試該兩個待測點之間的絕緣是否合格;
運算放大電路的輸出端與第二電壓比較電路連接,用于將預(yù)設(shè)絕緣測試電壓放大,并將放大后的電壓輸入至第二電壓比較電路,運算放大電路的放大倍數(shù)由導(dǎo)通的反饋電路的電阻和兩個待測點之間的電阻決定;
第二電壓比較電路,用于將運算放大電路輸出的電壓與第二基準(zhǔn)電壓相比較,當(dāng)運算放大電路輸出的電壓大于第二基準(zhǔn)電壓時,判斷進行絕緣測試的兩個待測點之間的絕緣不合格。
本發(fā)明技術(shù)方案,具有如下優(yōu)點:
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