[發(fā)明專利]元件通電測試方法與通電測試系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810372974.0 | 申請日: | 2018-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN110398641A | 公開(公告)日: | 2019-11-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 江惠民;武仲良;陳智銘;黃稚為 | 申請(專利權(quán))人: | 強茂股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R19/00 |
| 代理公司: | 北京泰吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11355 | 代理人: | 張雅軍;史瞳 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 三端元件 通電測試 脈波信號 雙端 準(zhǔn)位 示波裝置 電源供應(yīng)裝置 電流信息 陰極 陽極 電壓信息 系統(tǒng)執(zhí)行 正向電流 正向電壓 導(dǎo)通 檢測 | ||
一種元件通電測試方法,由一通電測試系統(tǒng)執(zhí)行,以同時檢測一個雙端元件及一個三端元件,所述通電測試系統(tǒng)包含一電源供應(yīng)裝置,及一示波裝置,所述電源供應(yīng)裝置分別提供一正向電流、一正向電壓到所述雙端元件的陽極、陰極,及一脈波信號到所述三端元件,所述脈波信號N次切換于一第一準(zhǔn)位與一第二準(zhǔn)位間,所述脈波信號處于所述第一準(zhǔn)位時,所述示波裝置得到一關(guān)于所述雙端元件的第一電流信息,及一關(guān)于所述三端元件的第二電流信息,所述脈波信號處于所述第二準(zhǔn)位使所述三端元件不導(dǎo)通時,所述示波裝置得到各自關(guān)于所述雙端元件、所述三端元件的第一、第二電壓信息。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測試,特別是指一種離散元件測試技術(shù)。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的雙端電子元件或三端電子元件,特別是指二極管與作為開關(guān)的晶體管而言,制造完成后,在測試階段的可靠度驗證項目,主要為對電子元件施以順向斷續(xù)通電(IFOL:Intermittent Forward Operating Life),及高溫逆向偏壓(HTRB:HighTemperature Reverse Bias),并長時間的持續(xù)反復(fù)通電做測試,以觀察二極管或晶體管在此兩種試驗項目下的元件耐受度。
由于雙端電子元件與三端電子元件接腳數(shù)的不同,且順向斷續(xù)通電及/或高溫逆向偏壓為兩種獨立的驗證項目,需由不同電路分開測試,以現(xiàn)有的可靠度測試方法,各自適用的測試電路并不相同而無法同時整合在同一電路做測試,且基于電子元件的可靠度驗證需要經(jīng)過長時間(通常至少為1000小時)的反復(fù)試驗而甚為費時。倘若考慮到產(chǎn)品交期問題,電子元件制造完成后的測試階段所花費的時間將是主要考驗,因此,現(xiàn)有的雙端電子元件或三端電子元件,特別是二極管與晶體管的測試方法有改善的必要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一目的在于提供一種可同時測試一個雙端元件與一個三端元件的通電測試方法。
本發(fā)明元件通電測試方法,由一通電測試系統(tǒng)執(zhí)行,以同時檢測一個雙端元件及一個三端元件,所述三端元件包含一第一端、一控制端,及一接地的第二端,所述通電測試系統(tǒng)包含一電源供應(yīng)裝置,及一示波裝置,所述電源供應(yīng)裝置包括一電連接所述雙端元件的陽極的電流輸出端、一電連接所述雙端元件的陰極與所述三端元件的所述第一端的電壓輸出端,及一電連接所述三端元件的所述控制端的控制端,所述示波裝置耦接于所述雙端元件的陽極與陰極,并耦接于所述三端元件的所述第一端與所述第二端,所述元件通電測試方法包含一步驟(A)、一步驟(B)、一步驟(C),及一步驟(D)。
所述步驟(A)為所述電源供應(yīng)裝置經(jīng)由所述電流輸出端提供一正向電流到所述雙端元件的陽極,且經(jīng)由所述電壓輸出端提供一正向電壓到所述雙端元件的陰極。
所述步驟(B)為所述電源供應(yīng)裝置經(jīng)由所述控制端提供一脈波信號到所述三端元件的所述控制端,且使所述脈波信號N次切換于一使所述三端元件導(dǎo)通的第一準(zhǔn)位與一使所述三端元件不導(dǎo)通的第二準(zhǔn)位間,N≧1。
所述步驟(C)為當(dāng)所述脈波信號處于所述第一準(zhǔn)位使所述三端元件導(dǎo)通時,所述示波裝置偵測流經(jīng)所述雙端元件的電流而得到一第一電流信息,且偵測流經(jīng)所述三端元件的電流而得到一第二電流信息。
所述步驟(D)為當(dāng)所述脈波信號處于所述第二準(zhǔn)位使所述三端元件不導(dǎo)通時,所述示波裝置偵測所述雙端元件的跨壓而得到一第一電壓信息,且偵測所述三端元件的跨壓而得到一第二電壓信息。
本發(fā)明元件通電測試方法,所述示波裝置包括一示波器、一電連接所述雙端元件的陽極的第一電流探棒,及一電連接所述三端元件的所述第一端的第二電流探棒,所述步驟(C)包括以下子步驟:
(C1)所述第一電流探棒偵測流經(jīng)所述雙端元件的電流而得到所述第一電流信息,且所述第二電流探棒偵測流經(jīng)所述三端元件的電流而得到所述第二電流信息,及
(C2)所述示波器分別接收來自所述第一電流探棒的所述第一電流信息,與接收來自所述第二電流探棒的所述第二電流信息。
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