[發明專利]元件通電測試方法與通電測試系統

在審

• 申請號: 201810372974.0
• 申請日: 2018-04-24
• 公開（公告）號: CN110398641A
• 公開（公告）日: 2019-11-01
• 發明（設計）人: 江惠民;武仲良;陳智銘;黃稚為
• 申請（專利權）人: 強茂股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R19/00
• 代理公司: 北京泰吉知識產權代理有限公司 11355
• 代理人: 張雅軍;史瞳

1.一種元件通電測試方法，由一通電測試系統執行，以同時檢測一個雙端元件及一個三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，所述通電測試系統包含一電源供應裝置，及一示波裝置，所述電源供應裝置包括一電連接所述雙端元件的陽極的電流輸出端、一電連接所述雙端元件的陰極與所述三端元件的所述第一端的電壓輸出端，及一電連接所述三端元件的所述控制端的控制端，所述示波裝置耦接于所述雙端元件的陽極與陰極，并耦接于所述三端元件的所述第一端與所述第二端，其特征在于，所述元件通電測試方法包含以下步驟：

(A)所述電源供應裝置經由所述電流輸出端提供一正向電流到所述雙端元件的陽極，且經由所述電壓輸出端提供一正向電壓到所述雙端元件的陰極；

(B)所述電源供應裝置經由所述控制端提供一脈波信號到所述三端元件的所述控制端，且使所述脈波信號N次切換于一使所述三端元件導通的第一準位與一使所述三端元件不導通的第二準位間，N≧1；

(C)當所述脈波信號處于所述第一準位使所述三端元件導通時，所述示波裝置偵測流經所述雙端元件的電流而得到一第一電流信息，且偵測流經所述三端元件的電流而得到一第二電流信息；及

(D)當所述脈波信號處于所述第二準位使所述三端元件不導通時，所述示波裝置偵測所述雙端元件的跨壓而得到一第一電壓信息，且偵測所述三端元件的跨壓而得到一第二電壓信息。

2.根據權利要求1所述的元件通電測試方法，其特征在于，所述示波裝置包括一示波器、一耦接于所述雙端元件的陽極的第一電流探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端的第二電流探棒，所述步驟(C)包括以下子步驟：

(C1)所述第一電流探棒偵測流經所述雙端元件的電流而得到所述第一電流信息，且所述第二電流探棒偵測流經所述三端元件的電流而得到所述第二電流信息，及

(C2)所述示波器分別接收來自所述第一電流探棒的所述第一電流信息，與接收來自所述第二電流探棒的所述第二電流信息。

3.根據權利要求1所述的元件通電測試方法，其特征在于，所述示波裝置包括一示波器、一耦接于所述雙端元件的陽極與陰極的第一電壓探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端與所述第二端的第二電壓探棒，所述步驟(D)包括以下子步驟：

(D1)所述第一電壓探棒偵測所述雙端元件的跨壓而得到所述第一電壓信息，且所述第二電壓探棒偵測所述三端元件的跨壓而得到所述第二電壓信息，及

(D2)所述示波器分別接收來自所述第一電壓探棒的所述第一電壓信息，與接收來自所述第二電壓探棒的所述第二電壓信息。

4.一種通電測試系統，適用于同時檢測一個雙端元件及一個三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，其特征在于，所述通電測試系統包含：

一電源供應裝置，包括，

一電流輸出端，電連接所述雙端元件的陽極，并提供一正向電流到所述雙端元件的陽極，

一電壓輸出端，電連接所述雙端元件的陰極與所述三端元件的所述第一端，并提供一正向電壓到所述雙端元件的陰極與所述三端元件的所述第一端，及

一控制端，電連接所述三端元件的所述控制端，并提供一脈波信號到所述三端元件的所述控制端，使所述脈波信號N次切換于一使所述三端元件導通的第一準位與一使所述三端元件不導通的第二準位間，N≧1；及

一示波裝置，耦接于所述雙端元件的陽極與陰極，并耦接于所述三端元件的所述第一端與所述第二端，當所述脈波信號處于所述第一準位使所述三端元件導通時，所述示波裝置偵測流經所述雙端元件的電流而得到一第一電流信息，且偵測流經所述三端元件的電流而得到一第二電流信息，當所述脈波信號處于所述第二準位使所述三端元件不導通時，所述示波裝置偵測所述雙端元件的跨壓而得到一第一電壓信息，且偵測所述三端元件的跨壓而得到一第二電壓信息。