[發明專利]樣本晶體顆粒檢測系統及方法

有效

• 申請號: 201810369829.7
• 申請日: 2018-04-23
• 公開（公告）號: CN108613953B
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發明（設計）人: 王亞琴
• 申請（專利權）人: 杭州興浩暉生物科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 杭州宇信知識產權代理事務所(普通合伙) 33231
• 代理人: 喬占雄

1.一種樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，包括控制器，M個樣本晶體顆粒發生器(11)，恒流恒壓裝置(302)，M個盛有晶體顆粒載體油的導熱容器(15)，與1個導熱容器底部連接的晶體顆粒采集裝置(303)，晶體顆粒光路檢測器(306)，位于晶體顆粒光路檢測器一側并依次排列的若干個波長依次增大的激光器(304)，設于各個激光器的出光口的激發光濾光組件(305)，位于晶體顆粒光路檢測器另一側的接收光濾光組件(307)，與接收光濾光組件連接的光電信號采集器(308)，PC機和溫控裝置(310)，M＞1；晶體顆粒采集裝置包括與1個導熱容器連接的采集針頭(3031)和與采集針頭連接的采集毛細管(3032)；所述樣本晶體顆粒發生器下部位于對應的導熱容器中，晶體顆粒載體油的液面的高度高于樣本晶體顆粒發生器的各個微流道所處的高度，恒流恒壓裝置與1個樣本晶體顆粒發生器連接，采集毛細管與晶體顆粒光路檢測器一端連接，控制器分別與恒流恒壓裝置、溫控裝置、各個激光器、光電信號采集器和PC機電連接，光電信號采集器和PC機電連接。

2.根據權利要求1所述的樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，所述恒流恒壓裝置包括針頭固定架(12)，與針頭固定架連接的氣壓管道(13)和氣壓針頭(14)，與氣壓管道連接的恒流恒壓泵(16)；

溫控裝置包括設于各個導熱容器外部的加熱模塊(3134)，若干個溫度傳感器(3131)，與各個導熱容器下端接觸的半導體制冷片(3132)和散熱器(3133)；半導體制冷片上表面與加熱模塊接觸，散熱器位于半導體制冷片下方，恒流恒壓泵、各個溫度傳感器、半導體制冷片和散熱器均與控制器電連接。

3.根據權利要求1所述的樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，激發光濾光組件包括逐漸靠近晶體顆粒光路檢測器的平行光透鏡和聚光透鏡；接收光濾光組件包括逐漸遠離晶體顆粒光路檢測器的聚光透鏡、矯正透鏡、通道截止片和通道濾光片。

4.根據權利要求1所述的樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，所述樣本晶體顆粒發生器包括兩端開口的樣本杯體(1)，設于樣本杯體上端的第二密封蓋(2)，與樣本杯體下端連接的上片(3)和與上片連接的下片(4)；下片上表面上設有若干個圍繞樣本杯體呈環形分布的鍵合肋(5)，各個鍵合肋外側的下片上表面上設有緩沖池(6)，相鄰鍵合肋之間構成主流道(8)，每個主流道外側的緩沖池內均設有緩沖肋(9)，下片上表面邊緣上設有若干個矩形凸塊(10)，所述微流道(1100)位于相鄰矩形凸塊之間，每個微流道上均設有張力形成結構(111)；氣壓針頭下部穿過第二密封蓋進入樣本杯體中，樣本杯體下部、上片和下片均位于對應的導熱容器中。

5.根據權利要求4所述的樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，所述導熱容器上端和下端分別設有第一密封蓋(151)和密封套(152)，第一密封蓋上設有排氣口(153)，排氣口上設有單向閥(154)；每個鍵合肋和每個緩沖肋均呈向外拱起的圓弧形。

6.根據權利要求4所述的樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，所述第二密封蓋上設有十字密閉槽(21)，樣本杯體下端設有與上片的樣本杯體安裝口(7)配合的環形凸臺(1101)，環形凸臺下端與上片下表面平齊，或環形凸臺下端的高度高于上片下表面的高度。

7.根據權利要求4所述的樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，第二密封蓋的邊緣上設有先向下延伸然后向內彎折的彎折邊(201)，樣本杯上端設有向外延伸的環形密封凸臺(1102)。

8.根據權利要求4所述的樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，所述張力形成結構為設于微流道外邊緣上的由內向外張開的喇叭口，喇叭口張開的角度為40°至150°。

9.根據權利要求4或5或6或7或8所述的樣本晶體顆粒檢測系統，其特征是，上片及下片由晶圓作為基材，上片及下片均呈矩形或圓形。

10.一種基于權利要求1所述的樣本晶體顆粒檢測系統的方法，其特征是，包括如下步驟：

(10-1)使用移液槍頭將樣本模板送入1個樣本晶體顆粒發生器的樣本杯體中；拔出移液槍頭，將恒流恒壓裝置與樣本杯體連接；

(10-2)控制器控制恒壓恒流泵工作，氣體經恒流恒壓裝置進入樣本杯體中，將樣本杯體中的樣本模板壓到各個微流道上，各個微流道產生晶體顆粒并流入導熱容器內的晶體顆粒載體油中；

(10-3)當樣本杯體中的樣本模板均排空后，控制器控制溫控裝置在設定的溫度范圍內對晶體顆粒進行循環擴增，擴增時間長度為T；

(10-4)將晶體顆粒采集針頭插入導熱容器底部，在恒流恒壓裝置的氣壓作用下，晶體顆粒沿著晶體顆粒采集管進入晶體顆粒光路檢測器內，控制器控制各個激光器產生激光束，經激發光濾光組件對晶體顆粒進行激發，而晶體顆粒被激發后發射出對應波段的熒光，并經過濾光組件后，將晶體顆粒發射的熒光過濾后，形成單波段的熒光經傳輸光纖將光信號輸入光電信號采集器內，而光電信號采集器將收集到的光信號轉變為電信號后輸送給控制系統的單片機，再經控制系統的單片機處理后將信號轉入PC機，PC機對樣本模板的所有信息進行分析并將結果呈現給客戶。